本发明涉及一种质量检测设备，尤其涉及一种半导体材料质量检测设备。本发明的技术问题：提供一种自动下料且可以定量下料、具有缓冲效果的半导体材料质量检测设备。本发明的技术方案为：一种半导体材料质量检测设备，包括有：外壳和第一接线杆，外壳内部一...

本发明涉及一种二氧化硅加工设备，尤其涉及一种半导体原材料硅生产前二氧化硅加工设备。要解决的技术问题为：提供一种辅助二氧化硅进行干燥，且生产质量较高的半导体原材料硅生产前二氧化硅加工设备。本发明的技术方案是：一种半导体原材料硅生产前二氧化...