本发明属于芯片测试技术领域，涉及一种电源芯片测试方法、系统、设备及存储介质。本发明通过采集电源芯片实际负载数据构建动态负载跳变序列，结合连续输入电压顺变、周期性启停冲击测试，同步监测多维度参数，解决现有固定测试与实际场景脱节、单一指标评...