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京都第一科学株式会社专利技术
京都第一科学株式会社共有3项专利
光学测量设备/方法技术
本发明的光学测量设备和方法用于通过利用穿过持测物质的测量光和利用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成分的物理量,包括获取第一、第二光干涉信号的第一、第二干涉装置;将第一、第二光干涉信号转换为第一、第二电信号的第一、第二光电转换部分;...
光源装置和测量方法制造方法及图纸
一种光源装置,包括: 一发出包含多种波长的光的光源部,以及 一滤光器,用来从包含多种波长的光中选出单一波长的光并独立输出所选波长的光,该所选波长可用电气变动。
测量条件设置装置,测量条件设置方法和生物信息测量仪器制造方法及图纸
一种用于设置测量条件的测量条件设置定位装置,用于将包括一个在生命体上的指定部位与光学测量系统之间的位置关系在内的测量条件设置到理想的条件,在生命体信息的测量中包括用来自光学测量系统的光线照射所述指定部位并根据从所述指定部位获得的光线来获...
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