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倢恩科技股份有限公司专利技术
倢恩科技股份有限公司共有1项专利
晶圆光学检测方法及晶圆光学检测装置制造方法及图纸
一种晶圆光学检测方法及晶圆光学检测装置,用于检测晶圆是否有瑕疵,晶圆包括n个晶粒,该方法包括下列步骤:由n个晶粒中选择两邻近晶粒;取得两邻近晶粒的光学影像;比对两邻近晶粒的两光学影像是否有不一致的瑕疵;以及,若是,判定晶圆具有瑕疵。
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