华大半导体有限公司专利技术

华大半导体有限公司共有211项专利

  • 本发明总的来说涉及电子电路技术领域,提出一种功率因数校正电路的控制方法,包括以下步骤:当一个控制周期中的电感峰值电流i
  • 本发明涉及电子电路技术领域,提出一种数字可编程斜坡补偿电路,其包括:斜坡生成模块,其被配置为生成数字斜坡信号;数模转换器,其布置在所述斜坡生成模块后,所述数模转换器被配置为根据所述数字斜坡信号生成待处理斜坡电压信号;以及低通滤波器,其布...
  • 本发明提供了一种偏心量检测方法、偏心量检测系统及存储介质,包括:控制电机运行在多个工况下,并获取所述电机在第一工况下的转速波动量和转矩电流有效值、第二工况下的第一功率值和第三工况下的第二功率值;将所述转速波动量、转矩电流有效值、第一功率...
  • 本发明提供了一种直流电压转换器,包括:第一采样模块,被配置为对流经第一晶体管的电感电流进行采样,得到第一电感电流采样信号;第二采样模块,被配置为对流经第二晶体管的电感电流进行采样,得到第二电感电流采样信号;第一比较模块,被配置为根据所述...
  • 本发明提供一种LLC谐振变换器的平均电流控制系统,其第一控制环、第二控制环、第一滤波器以及前馈控制模块。其中,第一控制环用于控制LLC谐振变换器的最终输出量,第二控制环用于控制LLC谐振变换器的原边谐振腔电流或副边整流后电流,第一滤波器...
  • 本发明提供了一种MCU编程器、节点MCU系统及时钟校正方法,包括:编程模块被配置为对节点MCU进行编程的同时,发送运行程序至节点MCU的RAM,使节点MCU根据所述运行程序进行初始化,输出测试信号;时钟校正模块被配置为当从温度传感器获取...
  • 本发明提供一种时钟校准电路及其方法,所述时钟校准电路包括:主校准模块,用于根据参考时钟对待校准时钟进行校准操作,产生整数校准值和小数校准值;辅助校准模块,连接所述主校准模块的输出端,用于在预设周期数内,对所述小数校准值进行累加操作,并在...
  • 本发明提供了一种单相无刷直流电机的控制系统,包括:功率限制模块,被配置为依据功率的限制条件、实际功率和限制功率生成功率限制信号;PWM调整模块,被配置为依据输入的控制板的母线电压、功率限制信号、以及参考转速经过速度调节器,输出PWM调制...
  • 本发明提供了一种带隙基准电压源的电压调节电路,包括:保护电阻,被配置为连接在输出电压耦合点和第1个调节电阻之间;第1个、第2个、
  • 本发明提供了一种可编程修调比特实现电路及驱动电路,包括:脉冲产生电路,被配置为产生脉冲时钟信号,以提供至锁存电路;锁存电路,被配置为采用脉冲时钟信号将可编程电流输入信号的比特位进行锁存;电流镜电路,被配置为提供脉冲产生电路和锁存电路的驱...
  • 本发明公开了一种针对DES密码算法末轮约减轮故障分析的攻击方法,包括以下步骤:S1:对DES密码算法末轮的轮输入进行故障注入来减少迭代的轮数,获取DES密码算法后两轮的轮输入;S2:根据DES密码算法后两轮的轮输入推出后两轮的轮密钥,根...
  • 本发明公开了一种针对SM4密码算法减轮故障分析检测方法,包括以下步骤:S1:对SM4密码算法前4轮的轮输出故障检测分析时,获取SM4密码算法前4轮的轮输出;S2:根据SM4密码算法前4轮的轮输出推出前4轮的轮密钥,根据SM4密钥扩展算法...
  • 本发明公开了一种针对SM4密码算法的差分故障分析检测方法。该方法收集对SM4密码算法差分故障检测时后四轮产生的错误密文,并利用产生的错误密文进行密钥还原,完成对SM4密码算法的差分故障检测。在错误密文选取上,利用正确的密文做比较,将明文...
  • 本发明公开了一种针对SM4密码算法末轮约减轮故障分析攻击检测方法,包括以下步骤:S1:对SM4密码算法后4轮的轮输入进行故障注入来减少迭代的轮数,获取SM4密码算法后4轮的轮输入;S2:根据SM4密码算法后4轮的轮输入推出后4轮的轮密钥...
  • 本发明公开了一种针对SM4算法中间轮的故障分析攻击检测方法,包括以下步骤:S1:对SM4密码算法中间5轮的轮输入进行故障注入来减少迭代的轮数,获取SM4密码算法中间5轮的轮输入;S2:根据SM4密码算法中间5轮的轮输入推出中间4轮的轮密...
  • 本发明提供了一种数据访问系统、方法、上位机和工具MCU。依据本发明的数据访问方法,其中上位机用于设置参数,以生成配置文件发送给工具MCU;发送指令控制工具MCU对目标MCU进行访问;按照配置文件的定义格式解析接收自工具MCU的数据,并以...
  • 本发明提供一种高分辨率脉冲宽度调制信号产生电路,包括:控制模块,产生上升、下降沿延迟量;PWM计数模块,产生PWM信号;延迟模块,基于上升、下降沿延迟量对PWM信号进行延迟操作;输出选择模块,基于输出选择信号输出PWM计数模块或延迟模块...
  • 本发明提供一种基于ARM SWD调试协议的单线调试系统及方法,包括调试器和调试目标;所述调试器和所述调试目标之间基于单线调试协议进行数据交互。本发明的基于ARM SWD调试协议的单线调试系统及方法能够实现调试器与调试目标之间的单线通信,...
  • 本发明提供了一种数据摘要系统,包括:数据摘要系统将明文数据作为参数输入至能够生产无限数据序列的表达式中,生成与所述明文数据相关的数据序列,进行数字签名的摘要计算。可以使用比较简单的算法实现较长的摘要长度,安全可靠性更高。本发明只需要对明...
  • 本发明提供一种磁性编码器及具有该磁性编码器的电子设备,所述磁性编码器与一电机连接;所述磁性编码器包括:至少一磁环,套设于所述电机上;感应单元,与所述电机轴向平行式设置;与所述磁环对应的磁敏元件,设置于所述感应单元上。本发明解决了现有技术...