本发明涉及一种用于夹持工件(19)、特别是晶片的真空夹盘，以及借助X光荧光辐射检测工件、特别是晶片的测量装置和方法。

本发明涉及X射线荧光分析的手持设备以及便携装置，具有壳体和把手；壳体内的X射线荧光测量装置，其包含辐射源，主射束由辐射源通过出口窗照射于测量物体的测量表面；壳体上的检测器，其检测由测量表面发出的辅助辐射；在壳体内布置的数据处理装置，其控...

本发明涉及一种用于X射线荧光分析装置，包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)...

本发明涉及一种用于测量材料的机械性能的装置和方法，其中使用具有预定几何结构的压头（１４）；用于产生力的装置（２８），所述装置使得压头（１４）可刺入测量物体（２６）的材料样本表面中；以及用于测量刺入深度的装置（２４），其中，压头（１４）具...