本发明提供了一种粉末颗粒截面观测样品的制备方法及样品，涉及材料微观结构分析技术领域。该制备方法包括：将粉末颗粒与粘结剂混合以得到混合物，将混合物涂覆在支撑基板表面以形成薄层并固化；对固化后的薄层进行切割，以获得具有初始截面的薄层；将具有...

本发明提供了一种适用于多种方法的低真空流化床粉末负载系统及使用方法，包括工艺发生装置、管道、粉末流化腔室以及动力装置，气体存储装置、工艺发生装置、粉末流化腔室以及动力装置通过管道依次连通；工艺发生装置用于产生气溶胶，工艺发生装置与气体存...

本申请提供了一种金属与非金属颗粒区分装置及方法，属于显微分析技术领域。该装置包括：照明模块、包含显微镜的成像光路模块、分束器、第一成像通道、第二成像通道、同步控制模块和图像处理与分析模块。分束器将成像光束分成两路，分别进入第一和第二成像...

本发明公开了一种用于SEM‑EDS清洁度检测的标准金属颗粒的制备方法，该方法将导电胶固定在粉末分散装置的内部，粉末分散装置的底部设有进气开孔，顶部设有排气开孔，将金属粉末颗粒置于粉末分散装置的底部，位于导电胶的下面，从进气开孔进行吹气，...

本发明提供了一种CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法，包括芯片容器模块用于容纳不同型号的CMOS芯片；配置文件模块用于存储CMOS芯片的像素间距和芯片容器的原点坐标信息；数据导入模块用于导入CMOS芯片的成像缺陷坐标数据；坐标...

本发明公开了一种显微镜跨尺度多模态关联分析方法及系统，属于显微成像技术领域，该方法通过在样品载体上制备或粘贴一个、两个或三个微米级定位孔作为参考标记，在包括扫描电子显微镜、光学显微镜、拉曼显微镜在内的任意两种显微成像或分析设备下获取定位...