本实用新型公开了一种芯片组受压值测量装置，涉及芯片组受压测量技术领域，该芯片组受压值测量装置，包括基座，所述基座的上方设置有连接块，且基座位于连接块的一侧安装有校准机构，所述连接块的顶部两侧分别安装有显示屏和开关，且连接块的内部开设有收...