本实用新型公开了一种基于射频测试头用的集成电路测试装置，包括测试用PCB板、待测试集成电路、带伸缩结构的夹持装置、滑动探针结构和一个射频测试头，测试用PCB板上设有九个探针，待测试集成电路上设有九个引脚和一个高频管脚，夹持装置安装在测试...

本实用新型属于压紧设备技术领域，公开了一种集成电路测试压紧装置，其技术要点是：包括工作台，所述工作台表面固定安装有测试座，所述工作台表面四周分别固定安装有竖杆，所述竖杆顶端固定连接有顶板，多组所述竖杆共同滑动连接有控制板，所述顶板底壁固...

本实用新型属于集成电路技术领域，公开了一种集成电路测试座，其技术要点是：包括测试座，所述测试座表面铰动连接有盖板，所述盖板底壁固定安装有压块，所述测试座表面开设有放置槽，所述测试座内开设有多组放置腔，所述放置腔内设置有多组测试探头，所述...

本实用新型公开了一种闪存Trimming测试板卡，DPS Block和PE Block集成在一块测试板上，通过PXI接口与PXI设备连接，DPS电源的电压范围为‑1V到10V，电流最大量程为1A，电压和电流范围都比较大，可以满足功耗比较...

本实用新型公开了一种SOC电路测试装置，包括壳体，所述壳体上安装有控制按钮和排风口，所述控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接，所述壳体上安装有测试基板，所述测试基板与所述壳体内部的资源信号连接，通过所述测试基板上的信号资源进行测试...

本实用新型公开了一种射频电路测试装置，包括壳体，所述壳体上安装有控制按钮和排风口，所述控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接，所述壳体上安装有测试基板，所述测试基板与所述壳体内部的资源信号连接，通过基板上的信号资源可以进行测试；所述...