本发明涉及一种老化测试设备测试环境控制方法及老化测试设备，包括步骤：根据处于工作状态的测试单元的数量，获取风机的预设转速，并将预设转速作为风机的当前转速；获取风机在当前转速下的实际压差；根据当前转速与实际压差获取风机的实际风量；根据实际...

本技术涉及一种漏气检测装置及漏气检测系统，包括：安装机构，用于安装待检测件；充气机构，能够与安装于安装机构上的待检测件的进气端连通，充气机构可受控地连通待检测件与气源以向待检测件内通气或断开待检测件与气源的连通；封堵机构，用于封堵待检测...

本技术提供一种用于组装机箱的工装板，涉及测试机技术领域，包括主体板，主体板上设有Z向间距定位部和背板PCB定位部；Z向间距定位部包括沿第一方向设置于主体板端部上的耐磨部，耐磨部对应机箱内的板卡导轨设置，耐磨部用于滑动连接于板卡导轨的卡槽...

本实用新型提供了一种机械抱臂及晶圆测试设备，涉及半导体测试技术领域，本实用新型提供的机械抱臂包括抱臂本体

本申请涉及治具技术领域，尤其是涉及一种校准装置，校准装置包括：固定机构；至少两个主体构件，至少两个主体构件设置于固定机构；位置校具，设置于固定机构，位置校具面对主体构件设置；每一个主体构件均设置有第一定位部，位置校具面对主体构件的一侧表...

本实用新型涉及一种用于板卡的测试装置，包括母板、框架及子板组件，框架设置于母板，框架具有安装腔，框架设有滑槽及卡接槽；子板组件包括板卡、支架、助拔器、连接件及第一锁紧件，连接件同时与支架、助拔器及板卡连接，第一锁紧件设置于助拔器，且第一...

本发明提供了一种翻转机械臂装置及晶圆测试设备，涉及半导体测试技术领域，本发明提供的翻转机械臂装置包括机架、驱动机构和机械主臂，驱动机构安装于机架上，驱动机构与机械主臂连接，以带动机械主臂相对于机架转动，机械主臂沿垂直于自身转动轴线的方向...

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种芯片测试治具。芯片测试治具包括机架及设于其上的压测模块，压测模块包括压板和设于其上的多个压测组件，压板可升降地连接于机架上，每个压测组件均包括调压件、压杆和弹性件，压杆的上端通过调压件连接于压板...

本实用新型提供了一种助拔省力组件、助拔省力机构、助拔省力装置及公母板，涉及半导体封装技术领域，本实用新型提供的助拔省力组件包括第一翻转臂、转摆部件和用于承载公板的承载件，承载件形成有与转摆部件配合的凹槽，第一翻转臂与转摆部件固接，转摆部...

本实用新型提供了一种制冷剂输送结构、制冷设备及电子元件封装测试系统，涉及电子元件测试系统技术领域。该制冷剂输送结构应用于电子元件封装测试系统，包括输入管、输出管和多个泵体机构；多个泵体机构并联，且输入口均与输入管流体连通，输出口均与输出...