本发明涉及存储器测试技术领域，一种DDR5测试的数据分析与报告生成方法及系统，包括：利用内存测试机对DDR5内存进行时序测试及功能测试，得到时序数据及功能数据，基于数据传输延迟时序、建立时间时序及CL时序确认出时序测试评分，根据通过率及...

本发明涉及光通信技术领域，一种光模块误码率的高效率测试方法及系统，包括：基于目标应用场景构建仿真外部链路，并在光模块工作温度范围内获取包含特殊及常规温度的测试温度集，对光模块进行初始短周期测试，获取基准性能数据集，引入光放大器与色散补偿...