本发明涉及集成电路仿真设计领域，具体涉及一种集成电路仿真设计方法、平台及系统。该方法首先在任意一种效应下，根据每个晶体管类型的每个晶体管的每种应力参数在所有老化参数下的敏感度的分布，获得每个晶体管类型的退化有效度，根据集成电路在当前仿真...