一种微波放大器测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微波放大器测试座，它包括测试电路板（6），测试电路板（6）位于测试支架（1）的上表面，测试电路板（6）上有测试孔针（5），测试孔针（5）与微带线（7）连接，在测试支架（1）上有接头（2）和金属电极（4），接头（2）的内芯和金属电极（4）与测试电路板（6）下表面的微带线（7）连接；解决了现有技术对大功率有源微波放大器测试时需要直接焊接测试线在器件引脚上存在的测试效率低，不适用于大批量测试工作，且会给被测器件带来机械损伤，在测试过程中接触不良、接地面积不够、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种微波放大器测试座
本技术涉及微波放大器测试技术，尤其涉及一种微波放大器测试座。
技术介绍
对于大功率有源微波放大器，其工作频率在IOGHz以上，增益在35dBm以上，工作时需提供直流电源，由于这种有源微波放大器工作频率很高，封装特殊，目前还没有专用的测试装置，通常出厂测试时是将测试线直接焊接在被测大功率有源微波放大器的器件引脚上，这种方式严重影响了被测放大器的可焊性，给后续安装使用带来了麻烦；而且这种测试方式效率不高，耗费大量的人力物力，不适用于大批量的测试工作，使微波放大器测试时采用常规触点或焊接方式所带来的机械损伤、接触不良、接地面积不够、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题:提供一种微波放大器测试座，以解决现有技术对大功率有源微波放大器测试时需要直接焊接测试线在器件引脚上存在的测试效率低，不适用于大批量测试工作，且会给被测器件带来机械损伤，在测试过程中接触不良、接地面积不够、固定不牢、可靠性不高、容易造成较大的测试数据误差等问题。本技术技术方案:一种微波放大器测试座，它包括测试电路板，测试电路板位于测试支架的上表面，测试电路板上有测试孔针，测试孔针与微带线连接，在测试支架上有接头和金属电极，接头的内芯和金属电极与测试电路板下表面的微带线连接。测试电路板上表面为全覆铜地线，下表面为测试电路。测试电路板通过四个安装孔与测试支架上表面固定。测试孔针安装在安装在测试电路板中间的四个菱形排列的圆形通孔内。接头位于测试支架的左右侧，接头对称安装，接头的内芯与微带线焊接。金属电极位于测试支架的上下侧。测试针孔安装间距尺寸与被测器件管脚间距尺寸相同，管径尺寸与被测器件引脚直径相同。在微带线上连接有隔直电容。电源正电极和地线之间连接有滤波电容。本技术的有益效果:将被测器件直接插入到本技术微波放大器测试座中，连接相关微波测试设备后，即可实现对金属直插封装大功率有源微波放大器的测试，而不需要在被测器件管脚上焊接测试线；由于本技术公开的微波放大器测试座采用具有紧缩功能的圆形测试孔针，保证了微波放大器和测试座的完全电气连接，减少了功率衰减；同时使用了大面积覆铜的微波电路板，保证了足够大的接地面积，提高了测试的抗干扰能力，使测试数据更稳定可靠。因此相比现有技术，本技术具有结构简单、通用性强、安装方便等特点，提高了微波放大器测试可靠性和效率，解决了现有技术对大功率有源微波放大器测试时需要直接焊接测试线在器件引脚上存在的测试效率低，不适用于大批量测试工作，且会给被测器件带来机械损伤，在测试过程中接触不良、接地面积不够、固定不牢、可靠性低、容易造成较大的测试数据误差等问题。【附图说明】:图1为本技术俯视示意图；图2为本技术仰视示意图。【具体实施方式】:—种微波放大器测试座,它包括测试电路板6,测试电路板6位于测试支架I的上表面，测试电路板6上有测试孔针5，测试孔针5与微带线7连接，在测试支架I上有接头2和金属电极4，接头2的内芯和金属电极4与测试电路板6下表面的微带线7连接；测试支架I采用金属支架，上下表面开口，上表面开口小于下表面，下表面开口尺寸与测试电路板6相同。测试电路板6上表面为全覆铜地线，下表面为测试电路。测试电路板6通过四个安装孔3与测试支架I上表面固定。测试孔针5安装在安装在测试电路板6中间的四个菱形排列的圆形通孔内；测试针孔5安装间距尺寸与被测器件管脚间距尺寸相同，管径尺寸与被测器件引脚直径相同。接头2位于测试支架I的左右侧，接头2对称安装，接头2的内芯与微带线7焊接，接头2米用SAM接头。金属电极4位于测试支架I的上下侧。在微带线7上连接有隔直电容8，隔直电容8采用焊接，其容值根据被测器件的工作频率确定。电源正电极和地线10之间连接有滤波电容9，容值小于0.47mF。使用本技术对微波放大器进行测试时，将被测放大器插入测试孔针内，保证器件金属壳与测试电路板的上表面覆铜地线完全接触；在金属支架前后的电极上接上直流电源，电压值根据被测器件工作电压确定，将微波信号源的输出和频谱分析仪的输入分别连接到左右2个SAM接头上，启动测试设备即可完成对微波放大器的测试。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波放大器测试座，它包括测试电路板（6），其特征在于：测试电路板（6）位于测试支架（1）的上表面，测试电路板（6）上有测试孔针（5），测试孔针（5）与微带线（7）连接，在测试支架（1）上有接头（2）和金属电极（4），接头（2）的内芯和金属电极（4）与测试电路板（6）下表面的微带线（7）连接。

【技术特征摘要】
1.一种微波放大器测试座，它包括测试电路板(6),其特征在于:测试电路板(6)位于测试支架(I)的上表面，测试电路板(6)上有测试孔针(5)，测试孔针(5)与微带线(7)连接，在测试支架(I)上有接头(2 )和金属电极(4)，接头(2 )的内芯和金属电极(4)与测试电路板(6)下表面的微带线(7)连接。2.根据权利要求1所述的一种微波放大器测试座，其特征在于:测试电路板(6)上表面为全覆铜地线，下表面为测试电路。3.根据权利要求1或2所述的一种微波放大器测试座，其特征在于:测试电路板(6)通过四个安装孔(3)与测试支架(I)上表面固定。4.根据权利要求1所述的一种微波放大器测试座，其特征在于:测试孔针(5)安装在安装在测试电路板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁文，邱云峰，张文辉，雷芸，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：实用新型
国别省市：