【技术实现步骤摘要】
飞时测距装置以及飞时测距方法
本专利技术涉及一种感测技术,尤其涉及一种飞时测距装置以及飞时测距方法。
技术介绍
飞时测距(Time-of-Flight,ToF)电路的读出电路中,例如模拟至数字转换器(Analog-to-DigitalConverter,ADC)电路,通常会通过比较器来读出像素所感测到的反射光脉冲而提供的脉冲信号。对此,由于比较器的反向输入端以及非反相输入端之间的过驱电压(overdrive)大小随着输入的脉冲信号的脉冲强度改变,而会产生不同的比较器延迟(comparatordelay)。因此,导致像素所提供的脉冲信号在输入至比较器时,比较器所输出用于计算时间差的输出信号会随着脉冲信号的脉冲强度而产生不同程度的延迟。然而,物体表面的反射率会影响反射光脉冲的光强度,进而影响像素所提供的脉冲信号的脉冲强度。举例而言,若脉冲信号越强(反射率越高),则比较器延迟越短。反之,若脉冲信号越弱(反射率越低),则比较器延迟越长。换言之,一般应用于短距离的飞时测距电路的测距结果较容易受到感测目标的物体表面的反射率影响,而产生不同的比较器延迟,因此导致测距结果不精确。有鉴于此,以下将提出几个实施例的解决方案。
技术实现思路
本专利技术是针对一种飞时测距装置以及飞时测距方法,可提供精准的飞时测距功能。根据本专利技术的实施例,本专利技术的飞时测距装置包括处理电路、发光模块、读出电路以及感测单元。发光模块耦接处理电路。读出电路耦接处理电路。感测单元耦接读出电路。在第一感测操作中,处理电路驱动发光模块 ...
【技术保护点】
1.一种飞时测距装置,其特征在于,包括:/n处理电路;/n发光模块,耦接所述处理电路;/n读出电路,耦接所述处理电路;以及/n感测单元,耦接所述读出电路,/n其中在第一感测操作中,所述处理电路驱动所述发光模块发射第一光脉冲至感测目标,并且所述感测单元接收并积分所述感测目标的第一反射光脉冲,以使所述处理电路经由所述读出电路读出所述感测目标的图像参数,/n其中在第二感测操作中,所述处理电路驱动所述发光模块发射第二光脉冲至所述感测目标,并且所述感测单元接收所述感测目标的第二反射光脉冲,以使所述处理电路依据所述读出电路读出所述感测单元的所述第二反射光脉冲的时间,来取得所述感测目标与所述飞时测距装置之间的距离参数,/n其中所述处理电路依据所述图像参数来查找查找表,以取得所述感测目标的反射率,并且依据所述反射率校正所述距离参数以取得所述感测目标的经校正的距离参数。/n
【技术特征摘要】
20190621 US 62/864,5161.一种飞时测距装置,其特征在于,包括:
处理电路;
发光模块,耦接所述处理电路;
读出电路,耦接所述处理电路;以及
感测单元,耦接所述读出电路,
其中在第一感测操作中,所述处理电路驱动所述发光模块发射第一光脉冲至感测目标,并且所述感测单元接收并积分所述感测目标的第一反射光脉冲,以使所述处理电路经由所述读出电路读出所述感测目标的图像参数,
其中在第二感测操作中,所述处理电路驱动所述发光模块发射第二光脉冲至所述感测目标,并且所述感测单元接收所述感测目标的第二反射光脉冲,以使所述处理电路依据所述读出电路读出所述感测单元的所述第二反射光脉冲的时间,来取得所述感测目标与所述飞时测距装置之间的距离参数,
其中所述处理电路依据所述图像参数来查找查找表,以取得所述感测目标的反射率,并且依据所述反射率校正所述距离参数以取得所述感测目标的经校正的距离参数。
2.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,所述第一光脉冲以及所述第二光脉冲具有相同的脉冲强度。
3.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,所述处理电路计算所述发光模块发射所述第二光脉冲与所述读出电路读出所述感测单元的所述第二反射光脉冲之间的时间差,以取得所述感测目标与所述飞时测距装置的所述距离参数。
4.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,所述读出电路包括:
比较器,包括第一输入端以及输出端,其中所述比较器电路的所述输出端耦接所述处理电路;以及
斜坡产生器,耦接所述比较器的所述第一输入端,并且用以在所述第一感测操作中提供第一斜坡信号至所述比较器的所述第一输入端。
5.根据权利要求4所述的飞时测距装置,其特征在于,所述比较器更包括第二输入端,并且所述比较器的所述第二输入端耦接参考电压。
6.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,所述感测单元包括第一像素电路以及第二像素电路,所述第一像素电路耦接所述比较器的所述第一输入端,所述第二像素电路耦接所述比较器的所述第二输入端,并且所述参考电压来自所述第二像素电路。
7.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,所述斜坡产生器耦接所述比较器的所述第二输入端,并且用以在所述第一感测操作中提供第二斜坡信号至所述比较器的所述第二输入端,其中所述第一斜坡信号与所述第二斜坡信号为反相。
8.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,所述感测单元通过像素数组中的多个光电二极管分时...
【专利技术属性】
技术研发人员:印秉宏,王佳祥,
申请(专利权)人:广州印芯半导体技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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