用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。

【技术实现步骤摘要】
用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法
技术介绍
考虑特定零件的生产线，该特定零件由测量来自该零件的一个或多个信号的仪器进行测试。零件测试可以涉及多个相同类型的测试仪器以加速测试过程。此外，同一零件可能会被多次测试。例如，零件可能在第一次测试中被发现有缺陷，并被送往维修站。然后经修复的零件被再次测试。在理想情况下，针对任何给定的零件，所有测试仪器都会测得相同的值。然而，在现实情况中，任何测试仪器针对多个理论上相同的零件提供的一组测量值会具有一定的统计分布。类似地，即使合格零件之间也会显示出一定的差异。当测试仪器的数量很多时，识别出现故障的测试仪器会面临挑战，特别是在输出值的误差较小的情况下，这些误差因零件而异并因此隐藏在统计噪声中。最后，这些测试仪器在确切型号和仪器投入使用的确切日期上可能会有所差异。因此，面对这些差异，检查生产线面临重大挑战。
技术实现思路
本专利技术包括一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有使数据处理系统执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。在本专利技术的一个方面中，该显示包括作为标签的函数与统计参数相关联的符号的图表，该符号位于该标签的数据集的值的中值或平均值处。在另一个方面中，这些数据集在每个簇内进一步按中值或平均值进行排序。在另一个方面中，这些数据集各自包括由与多个测试仪器中的一个相关联的第一测试探针测量的第一物理量的多个测量值，每个标签与这些测试仪器中的一个对应。在另一个方面中，该显示包括作为仪器ID的函数与统计参数相关联的符号的图表，该符号位于由该仪器取得的测量值的中值或平均值处。在另一个方面中，该符号包括箱线图。在另一个方面中，这些仪器各自包括第二测试探针并且通过第二测试探针提供第二物理量的测量值，并且其中该数据处理系统生成表征测量值集合的统计分布的多个统计参数，所述测量值集合与所述多个仪器中的每一个仪器和与该仪器相关联的第二测试探针对应，并且仪器向量进一步包括第二多个统计参数。本专利技术还包括以下各项：项1.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。项2.项1的方法，其中所述显示包括与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于所述数据集值的中值或平均值处。项3.项1的方法，其中所述数据集在每个簇内进一步按所述中值或所述平均值进行排序。项4.项1的方法，其中所述数据集各自包括第一物理量的多个测量值，所述第一物理量由与多个测试仪器中的一个测试仪器相关联的第一测试探针测量，并且每个数据集由标签来表征，所述标签包括与所述测试仪器中的一个测试仪器对应的仪器ID。项5.项4的方法，其中所述显示包括作为所述仪器ID的函数与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于由该测试仪器取得的所述多个测量值的中值或平均值处。项6.项5的方法，其中所述符号包括箱线图。项7.项4的方法，其中所述测试仪器各自包括第二测试探针并且通过所述第二测试探针提供第二物理量的测量值，并且其中所述数据处理系统生成表征测量值集合的统计分布的多个统计参数，所述测量值集合与所述多个测试仪器中的每一个测试仪器和与该测试仪器相关联的所述第二测试探针对应，并且所述仪器向量进一步包括所述第二多个统计参数。项8.一种计算机可读介质，其包括使数据处理系统执行方法的指令，所述方法使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。项9.项8的计算机可读介质，其中所述显示包括与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于所述数据集值的中值或平均值处。项10.项8的计算机可读介质，其中所述数据集在每个簇内进一步按所述中值或所述平均值进行排序。项11.项8的计算机可读介质，其中所述数据集各自包括第一物理量的多个测量值，所述第一物理量由与多个测试仪器中的一个测试仪器相关联的第一测试探针测量，并且每个数据集由标签来表征，所述标签包括与所述测试仪器中的一个测试仪器对应的仪器ID。项12.项11的计算机可读介质，其中所述显示包括作为所述仪器ID的函数与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于由该测试仪器取得的多个所述测量值的中值或平均值处。项13.项12的计算机可读介质，其中所述符号包括箱线图。项14.项11的计算机可读介质，其中所述测试仪器各自包括第二测试探针并且通过所述第二测试探针提供第二物理量的测量值，并且其中所述数据处理系统生成表征测量值集合的统计分布的多个统计参数，所述测量值集合与所述多个测试仪器中的每一个测试仪器和与该测试仪器相关联的所述第二测试探针对应，并且所述仪器向量进一步包括所述第二多个统计参数。附图说明图1展示了可有利地包括本专利技术的生产线。图2针对每个仪器上的特定测试探针展示了按仪器ID排序的多个一维散点图。图3利用覆盖有箱线图的各散点图展示了图2的散点图。图4展示了在对散点图重新排序之后图3中所示的数据，使得分组在一起的仪器的数据彼此相邻地显示。图5利用在这些数据上标绘的箱线图符号展示了图4中所示的数据。具体实施方式参考简单的例子，可以更容易地理解本专利技术提供其优点的方式。现在参考图1，其展示了可有利地包括本专利技术的生产线。生产线生成集成电路板14，其中最终电路板由多个测试仪器12测试，以增加生产测试阶段的产量。在本例中，生产线也被分成多个子生产线21，以进一步提高集成电路板的生产率。出于该例的目的，每个仪器使用Nt个测试探针13测量由该仪器测试的电路板上相同的Nt个测试点15的集合，一个测试探针13与测试点15中的一个点对应。假设每个仪器将其测量值报告给控制器22，除其他之外，该控制器将原始测试结果存储在表格或类似结构中并且提供用户界面23，该用户界面用于显示用户更好地理解测试仪器的操作所需要的数据和图表。该表格的每一行都有Nt+1个条目，一个条目用于仪器ID，Nt个条目用于测量值。在下面的讨论中，该表格将被称为原始测量值表格。每一列中的各个测量值是由特定测试探针和仪器获得的数据值。列定义测试探针，仪器ID标识进行测量的仪器。由任何给定仪器和其测试探针中的一个测试探针针对多个电路板取得的测量值集合将被称为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。

【技术特征摘要】
2017.10.30 US 15/798,3451.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。2.一种计算机可读介质，其包括使数据处理系统执行方法的指令，所述方法使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。3.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述显示包括与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于所述数据集值的中值或平均值处。4.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述数据集在每个簇内进一步按所述中值或所述平均值进行排序。5.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述数据集各自包括第一物理量的多个测量值，所述第一物理量由与多个测试仪器中的一个测试仪器相关联的第一测试探针测量，并且每个数据集由标签来表征，所述标签包括与所述测试仪器...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·赫尔费曼，
申请(专利权)人：是德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US