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用于将DUT的天线元件定位在天线测试室的静区内的系统技术方案

技术编号:40559487 阅读:9 留言:0更新日期:2024-03-05 19:21
一种用于空中(OTA)测试被测设备(DUT)的系统(100),包括探针天线(110)、方位定位器(105)、线性定位器(120)和滚转定位器(130)。所述探针天线(110)测量来自所述DUT的辐射场,并通过照射所述DUT的有源天线元件向所述DUT发射辐射场。所述方位定位器(105)使所述DUT在第一平面内绕方位轴线旋转。所述线性定位器(120)在与所述第一平面正交的第二平面中沿着第一Y轴线线性地驱动所述DUT,并且在所述第二平面中沿着垂直于所述第一Y轴线的第二X轴线线性地驱动所述DUT,以保持在所述系统(100)的静区内。所述滚转定位器(130)设置在所述第二平面与所述方位定位器(105)之间,并且被配置成围绕与所述方位轴线正交的滚转轴线旋转所述DUT。

【技术实现步骤摘要】


技术介绍

1、空中(ota)测量系统可以包括探针天线,其在发射测试条件下测量来自被测设备(dut)的辐射电磁场,和/或在接收测试条件下使dut经受辐射电磁场。为了模拟真实世界的测试条件,dut中的天线元件必须与探针天线保持远场距离。在远场条件下,探针天线和dut的天线元件都受到来自dut和探针天线中的另一个的波束中的电磁场的平面波前的影响。当不满足远场条件时,探针天线和dut的天线元件受到球面波前的影响。

2、直接远场(dff)系统可以将dut直接暴露于探针天线。为了减少测试所需的空间,紧缩天线测试场(catr)可以使用抛物面反射器来在抛物面反射器的焦点处准直和反射来自探针天线的发散波束。在直接dff系统或catr中,dut被放置在静区内,以在远场条件下测试dut的天线元件。任何内部腔室中的静区都是测试区,在测试区中,来自探针天线的电磁场波前具有在规定的限制内接近理想的平面度。

3、ota测量系统中静区的大小由多个因素决定。在dff测试系统中,这些因素包括来自探针天线的波束宽度以及dut和探针天线之间的距离。在catr设置中,静区的大小由探针天线的波束宽度和抛物面反射器的焦距和大小决定。

4、在dff系统或catr系统中,dut和探针天线之间的路径中的路径损耗随着频率的增高而增加,尽管在catr系统中,在波束被从抛物面反射器准直并反射之后,路径损耗减小。catr系统也可以被设计成最小化探针天线与反射器之间的距离,以最小化路径损耗。一般来说,较大的静区会导致较大的路径损耗,因为覆盖静区所需的波束较宽,传播距离较大。

5、随着dut使用的频率的增大,dut可能越来越受到功率限制。在例如毫米波和亚太赫兹(thz)ota系统中使用的高频下,设备功率受到限制。随着使用越来越高的频率,例如毫米波和亚太赫兹,ota测量系统越来越多地使用具有高方向性的高增益探针天线,由于增益和波束宽度成反比,这使得波束变窄。较窄的波束提高了功率测量的灵敏度

6、除了来自探针天线的波束的波相前的形状之外,落在dut上的波束还具有与波束的宽度相对应并且基于来自探针天线的波束的波束图的振幅特性。波束的宽度是基于两方面的平衡进行选择的,针对功率受限的dut,一方面要最大化dut的照射范围,另一方面还要最大化波束的增益和方向性。波束的波前应落在ota系统的静区中的dut上,并且类似于照射波束波前落在的dut的焦斑。对于可以在没有功率限制的情况下使用的探针天线,在可接受的焦斑尺寸和可实现的增益幅度之间存在反比关系。

7、随着时间的推移,手机等dut变得越来越大,并且一些dut现在有不止一个天线阵列需要测试。这些dut的每个天线阵列都必须经过测试。有时使用波前大于dut或甚至大到足以照射dut的一个天线阵列的波束都是不可行的,更不用说dut的多个天线阵列中的一些或全部了。对于高频波束,例如用于测试5g或6g的dut,在ota系统的静区中dut被照射的波束的宽度可以小于dut,甚至小于dut的单个天线阵列。不延伸遍及dut中辐射元件的全部范围的较小静区可能导致测试参数(例如增益、总辐射功率(trp)、等效各向同性辐射功率(eirp)、旁瓣电平和零值深度)的测量误差。如果天线元件偏离dut的中心,和/或如果静区不够大以覆盖dut的全部范围,则当dut在dut定位器上旋转时,由于辐射元件在静区之外,可能导致测量误差。

8、因此,所需要的是至少克服了上述系统缺点的一种用于测试dut的系统。


技术实现思路

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【技术保护点】

1.一种用于空中(OTA)测试被测设备(DUT)的系统(100),所述系统(100)包括:

2.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述旋转定位器包括方位定位器(105)和滚转定位器(130)。

3.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述旋转定位器被配置成围绕任意两个正交轴线旋转所述DUT,以使所述DUT在整个4*π球面度上旋转。

4.根据权利要求2所述的系统(100),其中,所述线性定位器(120)安装在所述DUT与所述旋转定位器之间,并适于沿着第一Y轴线和第二X轴线线性地移动所述DUT。

5.根据权利要求2所述的系统(100),其进一步包括:

6.根据权利要求5所述的系统(100),其进一步包括:

7.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述系统(100)被配置成将所述DUT的天线或天线阵列的有源元件居中在所述系统(100)的静区内。

8.根据权利要求1所述的系统(100),其中,

9.根据权利要求8所述的系统(100),其中,所述一个或多个天线或天线阵列在物理上彼此分离。

10.根据权利要求1所述的系统(100),其中,

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【技术特征摘要】

1.一种用于空中(ota)测试被测设备(dut)的系统(100),所述系统(100)包括:

2.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述旋转定位器包括方位定位器(105)和滚转定位器(130)。

3.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述旋转定位器被配置成围绕任意两个正交轴线旋转所述dut,以使所述dut在整个4*π球面度上旋转。

4.根据权利要求2所述的系统(100),其中,所述线性定位器(120)安装在所述dut与所述旋转定位器之间,并适于沿着第一y轴线和第二x轴线线性地移动...

【专利技术属性】
技术研发人员:J·米姆D·V·格雷戈里
申请(专利权)人:是德科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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