【技术实现步骤摘要】
技术介绍
1、偏斜是指示波器中探头和/或通道之间的传播延迟差异，这可能会影响定时测量的准确性。在表征功率半导体器件的动态参数时，补偿示波器的vds(或vce)和ids(或ice)测量通道之间的偏斜总是很重要的，因为它显著影响开关损耗参数的准确性。到目前为止，已经提出了几种偏斜补偿(去偏斜)方法，如在题为“methodology for wide bandgapdevice dynamic characterization”的出版物(zheyu zhang,ieee transactions onpower electronics，第32卷，第12期，2017年12月，url：https://ieeexplore.ieee.or g/document/7827079)中所述，其披露内容通过引用以其整体并入本文。然而，所有描述的方法都有优点和缺点。也就是说，如下所述，每一个都需要特殊的夹具、测试电路的修改或复杂的后期数据分析。因此，去偏斜问题一直是让功率器件动态特性评估工程师们头疼的问题。
2、由zhang描述的第一种方法包括...
【技术保护点】
1.一种动态测试方法，其包括：
2.根据权利要求1所述的动态测试方法，其中，使所述第一和第二电压探头以及所述电流测量线缆(201)去偏斜包括：
3.根据权利要求2所述的动态测试方法，其中，使用所述示波器(100)去偏斜是使用方波信号来执行的。
4.根据权利要求1所述的动态测试方法，其中，配置所述动态测试布置包括：
5.根据权利要求4所述的动态测试方法，其中，所述DUT的第一端子是漏极电极或集电极之一；
6.根据权利要求5所述的动态测试方法，其中，所述DUT是功率晶体管。
7.根据权利要求6所述的动...
【技术特征摘要】
1.一种动态测试方法，其包括：
2.根据权利要求1所述的动态测试方法，其中，使所述第一和第二电压探头以及所述电流测量线缆(201)去偏斜包括：
3.根据权利要求2所述的动态测试方法，其中，使用所述示波器(100)去偏斜是使用方波信号来执行的。
4.根据权利要求1所述的动态测试方法，其中，配置所述动态测试布置包括：
5.根据权利要求4所述的动态测试方法，其中，所述dut的第一端子是漏极电极或集电...
【专利技术属性】
技术研发人员：新井崇雅，
申请(专利权)人：是德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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