【技术实现步骤摘要】
专利技术构思涉及数字下垂(droop)检测器、半导体装置及数字下垂检测器的校准方法。
技术介绍
1、随着半导体装置的集成度和/或大小增加并且工作速度提高，功耗也相应地增加。因此，半导体装置的低功耗性能正变得日益重要。诸如应用处理器的片上系统(soc)包括高性能功能块(或知识产权(ip)块、ip核等)。提供给这些功能块的电源电压可以根据工作环境或任务的级别而变化。一般而言，为了为电源电压大大地降低的下垂现象作准备，设置了向电源电压提供足够裕度(margin)的保护带。然而，设置相对高的保护带增加soc的功耗，这可能会削弱产品的竞争力。
2、集成数字电路消耗大量电力以高速度工作。此时，由于负载电流的突然改变而发生电源电压的下垂。通过检测电源电压的下垂并且调整时钟，可以迅速地恢复电源电压。为了减少和/或防止数字电路由于下垂而导致的故障，期望和/或有必要准确地检测下垂。
3、数字下垂检测器(在下文中，ddd)被广泛地使用，因为由于其在数字电路设计过程期间使用了数字标准单元库而能够被放置在数字电路周围。然而，ddd易受过程...
【技术保护点】
1.一种数字下垂检测器，所述数字下垂检测器包括：
2.根据权利要求1所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路包括：
3.根据权利要求2所述的数字下垂检测器，其中，所述相位插值器链包括以多个层的级联形式连接的多个相位插值器，所述多个相位插值器被配置为：细分所述缓冲器的所述输入端子和所述输出端子之间的所述延迟时间。
4.根据权利要求1所述的数字下垂检测器，所述处理电路还被配置为：
5.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一步被配置为：通过对所述原始代码使用三点校准技术来生成所述过程校正代码，所述三点校准技...
【技术特征摘要】
1.一种数字下垂检测器，所述数字下垂检测器包括：
2.根据权利要求1所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路包括：
3.根据权利要求2所述的数字下垂检测器，其中，所述相位插值器链包括以多个层的级联形式连接的多个相位插值器，所述多个相位插值器被配置为：细分所述缓冲器的所述输入端子和所述输出端子之间的所述延迟时间。
4.根据权利要求1所述的数字下垂检测器，所述处理电路还被配置为：
5.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一步被配置为：通过对所述原始代码使用三点校准技术来生成所述过程校正代码，所述三点校准技术包括在所述电源电压的三个期望电压电平下校正与所述多个过程速度中的每一个过程速度相关联的所述原始代码的代码值。
6.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一步被配置为：通过对所述过程校正代码使用两点校准技术来生成所述温度校正代码，所述两点校准技术包括在所述电源电压的两个期望电压电平下校正与所述多个温度中的每一个温度相关联的所述过程校正代码的代码值。
7.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一步被配置为：使用校准单元来生成所述过程校正代码或所述温度校正代码。
8.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一步被配置为：使用查找表来生成所述过程校正代码或所述温度校正代码。
9.根据权利要求4所述的数字下垂检测器，其中，所述处理电路进一...
【专利技术属性】
技术研发人员：李相宪，申熙旭，李僖埈，李柾昊，曹永载，崔炳䝬，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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