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提供了数字下垂检测器、其校准方法及半导体装置。所述数字下垂检测器可以包括：处理电路，所述处理电路被配置为：响应于时钟信号来检测电源电压的电压电平改变，所述检测所述电压电平改变包括将所检测到的电压电平改变转换成第一代码；校正所述第一代码中包括...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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