一种光电电光器件的关键参数提取装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于微波技术和光电子技术领域，尤其涉及用于光网络参数综合测试仪的一种光电电光器件的关键参数提取装置；所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面显示；所述装置包括控制及数据处理电路板、第一激光器、第二激光器、第一光开关、第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器、以及标准探测器；通过采用本发明专利技术提出的参数提取装置，可以方便用户快速完成测试工作，并提取出更全面的待测光电/电光器件的关键参数。

A Key Parameter Extraction Device for Optoelectro-optic Devices

The invention belongs to the field of microwave technology and optoelectronic technology, in particular relates to a key parameter extraction device for optoelectronic devices used in optical network parameter comprehensive tester, which is used to connect the optical network parameter comprehensive tester through physical interface to extract the key parameters of the optoelectronic/electro-optic devices to be tested, and draws a diagram in the optical network parameter comprehensive tester. The device includes a control and data processing circuit board, a first laser, a second laser, a first optical switch, a first optical splitter, a tunable optical attenuator, a second optical switch, a second optical splitter and a standard detector; by adopting the parameter extraction device proposed by the invention, the user can quickly complete the test work and extract a more comprehensive one. The key parameters of optoelectronic/electro-optic devices to be measured.

【技术实现步骤摘要】
一种光电电光器件的关键参数提取装置
本专利技术涉及微波技术和光电子
，尤其涉及用于光网络参数综合测试仪的一种光电/电光器件的关键参数提取装置。
技术介绍
光网络参数综合测试仪是带有经过标校的标准光发射单元和光接收单元的矢量网络分析仪，可对光电转换器件和电光转换器件端口网络的复数散射参数进行测量，并以扫频的方式给出各散射参数的幅度、相位的频率特性。可采用光网络参数综合测试仪进行测试的光电/电光器件主要包括光电探测器和电光调制器；这些典型的光电/电光器件的生产者和使用者通常需要掌握这些器件对不同微波频率的幅度和相位的响应特性，以评价该器件的优劣，光网络参数综合测试仪可以很好的完成这种特性的测试；但是对于光电/电光器件的其他关键参数，比如电光调制器的光插损、半波电压，光电探测器的响应度、饱和光功率等指标，光网络参数综合测试仪却无能为力。由于电光调制器的光插损和半波电压指标，以及光电探测器的响应度和饱和光功率指标，对于电光调制器和光电探测器的使用者及生产者来说，也是非常重要的，是必须掌握的关键参数；因此对于电光调制器和光电探测器的使用者及生产者来说，在使用光网络参数综合测试仪时，如果在获得器件的频率响应特性的同时，也能获得反映器件其他性能的关键参数，将会显得非常有意义。
技术实现思路
为了解决现有的光网络参数综合测试仪仅能测试光电/电光器件的频率响应特性，无法测试其他关键参数的问题，本专利技术提出了一种与光网络参数综合测试仪配套使用的光电/电光器件关键参数提取装置。本专利技术的一种光电/电光器件的关键参数提取装置；所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面显示；所述装置包括控制及数据处理电路板、第一激光器、第二激光器、第一光开关、第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器、以及标准探测器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别单向连接第一光开关、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别双向连接标准探测器、待测光电器件和待测电光器件；所述第一激光器和第二激光器各自通过光通道顺次连接第一光开关、可调谐振光衰减器、第二光开关以及标准探测器；所述第一光分路器通过第一光输出接口连接待测电光器件，所述第二光分路器通过第二光输出接口连接待测光电器件；所述光网络参数综合测试仪的光输入口通过电通道连接所述第二光开关，待测电光器件通过电通道连接所述光网络参数综合测试仪的光输出口；所述光网络参数综合测试仪的射频输入口通过微波通道连接待测电光器件，待测光电器件通过微波通道连接所述光网络参数综合测试仪的射频输出口。进一步的，所述第一激光器和第二激光器均用于提供连续的光载波，供电光器件和光电器件的测试使用；第一光开关用于实现第一激光器和第二激光器的选择输出；所述第一光分路器用于将来自第一光开关的光等分为两路输出；所述可调谐光衰减器用于根据控制及数据处理电路板提供的控制信号，对输入其内的光信号的衰减量的控制；所述第二光开关用于对来自可调谐光衰减器的光和来自第一光输入接口的光进行选择输出；所述第二光分路器用于将来自第二光开关的光等分为两路输出。所述标准探测器用于反映第二光分路器输出的光功率；所述控制及数据处理电路板，用于为可调谐光衰减器、第一光开关和第二光开关提供控制信号；为标准探测器和待测光电器件提供反向偏压，读取标准探测器和待测光电器件的输出光电流，并存储和处理相关数据；以及根据检测到的待测电光器件反馈信号为待测电光器件提供稳定的偏压控制。优选的，所述第一激光器和第二激光器分别对应为1550nm激光器和1310nm激光器。优选的，所述第一分路器与第一光输出接口、第二光分路器与第二光输出接口以及第二光开关与第一光输入接口之间均采用FC/APC型光连接器连接。优选的，所述第一光开关、可调谐光衰减、第二光开关和标准探测器的引针通过排线的方式与控制及数据处理电路板焊接。优选的，所述第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器以及标准探测器的输入/输出光纤均按单模光纤的方式直接熔接。优选的，待测电光器件和待测光电器件各自对应通过第一电接口和第二电接口，分别与控制及数据处理电路板之间通过排线连接。本专利技术的有益效果：光网络参数综合测试仪用光电/电光器件关键参数提取装置具有以下优点和积极效果：1)本专利技术在使用光网络参数综合测试仪对光电/电光器件进行测试时，需要给待测光电探测器提供一个+5V～+12V的反向偏压，从而给待测电光调制器提供自动偏压控制，能够确保稳定的工作在正交点；本专利技术所提出的光电/电光器件关键参数提取装置通过USB接口从光网络参数综合测试仪取电，通过该装置内部的控制及数据处理电路板为光电探测器提供所需的偏压，为电光调制器提供稳定的偏压自动控制；即可以为用户提供更加快速、便捷的测试体验。2)本专利技术可采用光网络参数综合测试仪进行测试的光电/电光器件主要包括光电探测器和电光调制器；这些典型的光电/电光器件的生产者和使用者在使用光网络参数综合测试仪进行测试时，除了希望掌握这些器件的频率响应特性，还希望获得电光调制器的光插损、半波电压，光电探测器的响应度、饱和光功率等关键参数；本专利技术所提出的关键参数提取装置，可以很好的自动完成这些关键参数的测试，3)本专利技术针对光通信所常用的波段，尤其是1550nm波段和1310nm波段，能够为自动为用户提供不同波段的测试结果。附图说明图1为本专利技术光网络参数综合测试仪用光电/电光器件关键参数提取装置的组成结构示意图；图2为本专利技术电光调制器关键参数提取的测试示意图；图3为本专利技术光电探测器关键参数提取的测试示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。实施例1将本专利技术所提出的这种装置，与光网络参数综合测试仪连接后；借助该装置内部集成的相关器件可以自动完成对光电器件和电光器件关键参数的测量，并通过物理接口将测量数据上传至光网络参数综合测试仪，最后在光网络参数综合测试仪的显示屏上以图形界面的形式显示给用户；而且本专利技术所提出的用户可以自动完成器件在不同波段的性能测试，方便用户更加全面的掌握被测器件的各项性能。在测试时，光电器件是需要一个+5V～+12V的反向偏压的，电光器件是需要进行偏压自动控制，才能保证其稳定工作的；本专利技术所提出的光电/电光器件关键参数提取装置通过USB接口从光网络参数综合测试仪取电，通过该装置内部的控制及数据处理电路板为光电器件提供所需的偏压，为电光器件提供稳定的偏压自动控制，方便用户更加快速、便捷的完成器件的测试。实施例2在实施例1的基础上，本实施例中，电光器件采用电光调制器，光电器件采用光电探测器，并本实施例结合具体参数对本专利技术进行进一步的描述；本专利技术公开了一种与光网络参数综合测试仪配套使用的光电/电光器件关键参数提取装置，如图1所示；该装置有3个光接口、2个电接口和1个USB接口；具体对应为第一光输入接口、第一光输出接口以及第二光输出接口；第一电接口、第二电接口和物理接口；其中，第一光输入接口光网络参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电/电光器件的关键参数提取装置；其特征在于，所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面显示；所述装置包括控制及数据处理电路板、第一激光器、第二激光器、第一光开关、第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器、以及标准探测器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别单向连接第一光开关、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别双向连接标准探测器、待测光电器件和待测电光器件；所述第一激光器和第二激光器各自通过光通道顺次连接第一光开关、可调谐振光衰减器、第二光开关以及标准探测器；所述第一光分路器通过第一光输出接口连接待测电光器件，所述第二光分路器通过第二光输出接口连接待测光电器件；所述光网络参数综合测试仪的光输入口通过电通道连接所述第二光开关，待测电光器件通过电通道连接所述光网络参数综合测试仪的光输出口；所述光网络参数综合测试仪的射频输入口通过微波通道连接待测电光器件，待测光电器件通过微波通道连接所述光网络参数综合测试仪的射频输出口。

【技术特征摘要】
1.一种光电/电光器件的关键参数提取装置；其特征在于，所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面显示；所述装置包括控制及数据处理电路板、第一激光器、第二激光器、第一光开关、第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器、以及标准探测器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别单向连接第一光开关、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器；所述控制及数据处理电路板通过电通道分别双向连接标准探测器、待测光电器件和待测电光器件；所述第一激光器和第二激光器各自通过光通道顺次连接第一光开关、可调谐振光衰减器、第二光开关以及标准探测器；所述第一光分路器通过第一光输出接口连接待测电光器件，所述第二光分路器通过第二光输出接口连接待测光电器件；所述光网络参数综合测试仪的光输入口通过电通道连接所述第二光开关，待测电光器件通过电通道连接所述光网络参数综合测试仪的光输出口；所述光网络参数综合测试仪的射频输入口通过微波通道连接待测电光器件，待测光电器件通过微波通道连接所述光网络参数综合测试仪的射频输出口。2.根据权利要求1所述的一种光电/电光器件的关键参数提取装置，其特征在于，所述第一激光器和第二激光器均用于提供连续的光载波，供电光器件和光电器件的测试使用；所述第一光开关用于实现对第一激光器和第二激光器的选择输出；所述第一光分路器用于将来自第一光开关的光等分为两路输出；所述可调谐光衰减器用于根据控制及数据处理电路板提供的控制信号，对输入其内的光信号的衰减量的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张羽，孙力军，梁旭，徐静，朱煜西，廖理，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十四研究所，
类型：发明
国别省市：重庆,50