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本发明属于微波技术和光电子技术领域，尤其涉及用于光网络参数综合测试仪的一种光电电光器件的关键参数提取装置；所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十四研究所授权不得商用。

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