手持式装置落摔测试方法与系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种手持式装置落摔测试方法，手持式装置落摔测试方法包括：将一待测物以菊花链型式串联连接；将待测物放置在一落摔冲击机上方，并将待测物与一数据提取卡连接；安装一光电传感器于待测物落下时的冲击位置；通过一测试主机，接收数据提取卡所提取的待测物的电压信号，并根据恒定电流计算待测物的阻抗值；以及将待测物的阻抗值与一门限值做比较，判断待测物是否异常。本发明专利技术还提供一种手持式装置落摔测试系统。

【技术实现步骤摘要】
手持式装置落摔测试方法与系统
本专利技术涉及一种手持式装置落摔测试方法与系统，特别涉及一种同时监测手持式装置的电性以及测量手持式装置的阻抗变化的手持式装置落摔测试方法与系统。
技术介绍
一般来说，手持式电子产品，如手机、相机、穿戴式装置等，由于重量和尺寸的缘故，容易因落摔而影响其使用寿命。这些落摔事件不但造成手持式电子产品的机构外观的损害，并且也因为能量通过支点的转移，而造成手持式电子产品内部电路板上的电性失效。而手持式电子装置的电性失效可能由许多的失效模式引起，例如电路板的断裂、电路板上的走线断裂、组件和电路板间的固态接点断裂，以及组件的断裂等。这些失效的主要因素是由于手持式电子产品在落摔时产生的加速度，造成电路板的过度弯曲。而电路板的过度弯曲造成电路板和其组件的相对运动，导致电路板上的组件或接点失效。这些失效和电路板的设计、结构、材料、表面处理、接点或电子组件尺寸息息相关。然而，一般的测试机台可以在手持式装置落摔测试中，每次手持式装置落下时都对待测物的菊花链(DaisyChain)电路连接进行电性上的监控。另外，测试机台也可以检测待测物的阻抗变化，若待测物落下后阻抗变化超过一门限值，则表示待测物可能异常。然而，目前测试机台中都只能执行上述两种测试的其中一种。因此，如何设计一种测试机台可以同时对待测物的电性作监控，并可以测量待测物的阻抗变化，已成为本
所要解决的重要课题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于可以在一测试机台上同时监控待测物的电性以及测量待测物的阻抗变化。为解决上述课题，本专利技术的目的是提供一种手持式装置落摔测试方法，手持式装置落摔测试方法包括：将一待测物的内部线路以菊花链(DaisyChain)型式串联连接；将待测物放置在一落摔冲击机上方，并将待测物与一数据提取卡连接；安装一光电传感器于待测物落下时的冲击位置；通过一测试主机，接收数据提取卡所提取的待测物的电压信号，并根据一恒定电流计算待测物的阻抗值；以及将待测物的阻抗值与一门限值做比较，判断待测物是否异常。更进一步地，待测物以菊花链型式串联连接，以检测待测物的焊接点在落摔测试时是否失效。更进一步地，手持式装置落摔测试方法还包含将一恒定电流产生器与待测物连接以提供待测物的恒定电流。更进一步地，数据提取卡以预触发方式等待光电传感器传送的触发信号。为解决上述课题，本专利技术的另一目的是提供一种手持式装置落摔测试系统，其特征在于，所述手持式装置落摔测试系统包括一落摔冲击机、一数据提取卡、一光电传感器与一测试主机。落摔冲击机包括多个杆体与一平台。杆体纵向设置于落摔冲击机内，平台左右两侧穿过多个杆体，且用于放置一待测物。数据提取卡连接待测物，以提取待测物的电压信号。光电传感器设置于靠近落摔测试机的底部，且位于待测物落下时产生冲击的位置。测试主机连接数据提取卡，接收数据提取卡所提取的待测物的电压信号，并根据恒定电流计算待测物的阻抗，进而判断待测物的阻抗变化是否超出门限值。更进一步地，待测物的内部线路以菊花链(DaisyChain)型式串联连接，以检测待测物的焊接点是否发生异常。更进一步地，手持式装置落摔测试系统还包含一恒定电流产生器，其连接待测物以提供恒定电流给待测物，使其产生压降。更进一步地，数据提取卡以预触发方式等待光电传感器传送的触发信号。更进一步地，待测物为手持式装置。更进一步地，测试主机还包含一操作接口让用户可以设定待测物的落摔测试参数。本专利技术的有益效果在于，除了可观察在测试时各个电路焊点是否失效，还可以通过计算待测物的阻抗变化，判断待测物是否通过测试。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本专利技术加以限制。附图说明图1为本专利技术实施例的手持式装置落摔测试方法的流程图。图2为本专利技术实施例的手持式装置落摔测试系统的示意图。图3为本专利技术实施例的恒定电流产生器的电路图。图4为本专利技术实施例的待测物与光电传感器的信号波形图。具体实施方式以下通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“无线充电装置”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。为了解释清楚，在一些情况下，本技术可被呈现为包括包含功能块的独立功能块，包含装置、装置组件、软件中实施的方法中的步骤或路由，或硬件及软件的组合。实施根据这些所公开方法的装置可以包括硬件、固件及/或软件，且可以采取任何各种形式。这种形式的典型例子包括笔记本电脑、智能电话、小型个人计算机、个人数字助理等等。本文描述的功能也可以实施于外围设备或内置卡。通过进一步举例，这种功能也可以实施在不同芯片或在单个装置上执行的不同程序的电路板。手持式装置落摔测试方法的实施例图1为本专利技术实施例的手持式装置落摔测试方法的流程图。如图1所示，在步骤S101中，将待测物以菊花链(DaisyChain)型式串联连接。待测物为一手持式装置，例如智能手机、平板计算机或相机等，在此并不局限。在本专利技术的实施例中，手持式装置进行板端(boardlevel)测试，所谓板端测试是进行手持式装置的电路板可靠度测试。换句话说，就是将手持式装置的组件以菊花链的电路设计方式，经由表面黏着工艺，固定于印刷电路板上，再通过外接的测试装置，监测待测物在每次落下的过程中，每个焊接节点是否失效。在步骤S102中，将待测物放置在落摔冲击机上方，并将待测物与一数据提取卡连接。待测物摆放在落摔冲击机的高度位置或产生的重力加速度依据客户的需求或法规而决定。在步骤S103中，安装光电传感器于待测物落下时的冲击位置。所谓冲击位置是待测物与地面或一测试平面接触之间的位置，如此一来，可以确保待测物在重复测试中，待测物重新上升至测试高度时，待测物不会触发光电传感器。数据提取卡以预触发(pre-trigger)的方式等待光电传感器传送的触发信号，换句话说，当光电传感器感测到待测物时，光电传感器会输出一触发信号至数据提取卡，而数据提取卡以预触发的方式，在接收到触发信号前，即开始接收待测物的阻抗值，数据提取卡会收集待测物在接收到触发信号前后几秒的阻抗值，而接收时间长短，可依据不同测试而改变，在此并不局限。另外，在此需要说明的是，数据提取卡并无法用于提取待测物的阻抗，但数据提取卡可提取电压信号，因此需要通过一恒定电流产生器传输恒定电流给待测物，数据提取卡可提取电压信号，根据测量到的电压信号与设定的恒定电流值即可计算待测物的阻抗。在步骤S104，通过一测试主机，接收数据提取卡所提取的待测物的电压信号，并通过计算得知待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种手持式装置落摔测试方法，其特征在于，所述手持式装置落摔测试方法包括：将一待测物的内部线路以菊花链型式串联连接；将所述待测物放置在一落摔冲击机上方，并将所述待测物与一数据提取卡连接；安装一光电传感器于所述待测物落下时的冲击位置；通过一测试主机，接收所述数据提取卡所提取的所述待测物的电压信号，并根据恒定电流计算所述待测物的阻抗值；以及将所述待测物的所述阻抗值与一门限值做比较，判断所述待测物是否异常。

【技术特征摘要】
1.一种手持式装置落摔测试方法，其特征在于，所述手持式装置落摔测试方法包括：将一待测物的内部线路以菊花链型式串联连接；将所述待测物放置在一落摔冲击机上方，并将所述待测物与一数据提取卡连接；安装一光电传感器于所述待测物落下时的冲击位置；通过一测试主机，接收所述数据提取卡所提取的所述待测物的电压信号，并根据恒定电流计算所述待测物的阻抗值；以及将所述待测物的所述阻抗值与一门限值做比较，判断所述待测物是否异常。2.如权利要求1所述的手持式装置落摔测试方法，其特征在于，所述待测物的内部线路用以检测所述待测物的焊接点在落摔测试时是否失效。3.如权利要求1所述的手持式装置落摔测试方法，其特征在于，所述手持式装置落摔测试方法还包含：将一恒定电流产生器与所述待测物连接，以提供所述待测物的所述恒定电流。4.如权利要求1所述的手持式装置落摔测试方法，其特征在于，所述数据提取卡以预触发方式等待所述光电传感器传送的触发信号。5.一种手持式装置落摔测试系统，其特征在于，所述手持式装置落摔测试系统包括：一落摔冲击机，包含：多个杆体，纵向设置于所述落摔冲击机内；一平台，其左右两侧穿过所述多个杆体，且用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱信雄，叶志高，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31