显示面板和显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种显示面板和显示装置，其中，显示面板包括显示区和非显示区，以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线，还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子；所述显示区包括至少两个子显示区；其中，每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子，分别为第一测试端子和第二测试端子；所述子显示区的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接，以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。本实用新型专利技术提供的技术方案，可以在对显示面板检测过程中，方便地检测出显示区的薄膜晶体管漏电异常的问题。

Display panel and display device

The utility model discloses a display panel and a display device, in which the display panel comprises a display area and a non-display area, a plurality of scanning lines and data lines arranged in the display area, a plurality of switches and a plurality of scanning test terminals arranged in the non-display area, and the display area comprises at least two sub-display areas, in which each sub-display area pairs; The scanning test terminals shall be the first test terminal and the second test terminal, respectively; each odd number of the scanning lines in the sub-display area shall be connected with the first test terminal corresponding to the sub-display area through the switch, and each even number of the scanning lines shall be connected with the second test terminal corresponding to the sub-display area through the switch. The technical scheme provided by the utility model can conveniently detect the abnormal leakage of the thin film transistor in the display area during the detection process of the display panel.

【技术实现步骤摘要】
显示面板和显示装置
本技术实施例涉及显示
，尤其涉及一种显示面板和显示装置。
技术介绍
显示器具有广泛的应用。在制造过程中，需要对形成显示器的显示面板进行画质和异常检测(Test)，即CellTest。目前主要的检测方法为快速(Quick)点灯检测。Quick方法主要是在液晶面板的非显示区的一端设计薄膜晶体管(Thin-filmtransistor,TFT)，每个TFT的第一极分别与液晶面板内的扫描线或数据线电连接，TFT的第二极和栅极电连接测试信号线，每一条测试信号线电连接一测试端子。参考图1，图1是现有技术一种显示面板的结构示意图。该显示面板包括显示区100和非显示区200，多条扫描线700和多条数据线800，多条扫描线700和多条数据线800限定出多个子像素900。以及设置于非显示区200的控制测试端子300、奇数行测试端子400和偶数行测试端子500，一条奇数行扫描线通过一第一薄膜晶体管与奇数行测试端子连接，以及一条偶数行扫描线通过一第一薄膜晶体管与偶数行测试端子连接，可以通过向奇数行测试端子和偶数行测试端子施加驱动信号，控制所有奇偶行的子像素900同时充放电。每个子像素通过第二薄膜晶体管连接至对应的数据线和扫描线，第二薄膜晶体管的栅极连接扫描线，第二薄膜晶体管的第一极连接数据线，第二薄膜晶体管的第二极连接子像素内的子像素电极。但是这种检测方法，如果第二晶体管漏电异常，则无法检测出来。
技术实现思路
本技术提供一种显示面板和显示装置，以实现方便地检测出薄膜晶体管漏电异常的问题。第一方面，本技术实施例提供了一种显示面板，包括显示区和非显示区，以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线，该显示面板还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子；所述显示区包括至少两个子显示区；其中，每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子，分别为第一测试端子和第二测试端子；所述子显示区的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接，以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。进一步地，各所述子显示区内的扫描线的条数相等。进一步地，所述显示区包括两个子显示区。进一步地，所述两个子显示区分别为上半部显示区和下半部显示区。进一步地，所述开关包括第一端、第二端和控制端；所述显示面板还包括设置于所述非显示区的控制信号端子；各所述开关的控制端均与所述控制信号端子连接。进一步地，所述开关采用第一晶体管，所述第一晶体管的第一极作为所述第一端，所述第一晶体管的第二极作为所述第二端，所述第一晶体管的栅极作为所述控制端。进一步地，所述第一晶体管为P型晶体管或者所述第一晶体管为N型晶体管。进一步地，所述显示面板还包括设置于所述非显示区的多个数据测试端子；所述数据线与对应的所述数据测试端子连接。第二方面，本技术实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括本技术任意实施例提供的显示面板。本技术的显示区包括至少两个子显示区，每个子显示区对应一第一测试端子和一第二测试端子，可以实现对各子显示区的单独扫描控制，可以方便地检测出各子显示区的开关晶体管是否存在漏电的情况，实现显示面板的可靠检测。附图说明图1是现有技术中的一种显示面板的结构示意图；图2是本技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图3是本技术实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；图4是本技术实施例提供的测试阶段显示面板显示的一种示意图；图5是本技术实施例提供的测试阶段显示面板显示的另一种示意图；图6是本技术实施例提供的一种显示装置的示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。图2为本技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图，请参考图2，该显示面板包括显示区11和非显示区12，以及设置于显示区11的多条扫描线13和多条数据线14，多条扫描线13和多条数据线14限定出多个子像素15。该显示面板还包括设置于非显示区12的多个开关103和多个扫描测试端子；显示区11包括至少两个子显示区；示例性地图2中所示的显示面板的显示区11包括三个子显示区，分别为第一子显示区111、第二子显示区112和第三子显示区113。其中，每个子显示区对应两个扫描测试端子，分别为第一测试端子和第二测试端子；对于任一子显示区，每条奇数条扫描线13通过一开关103与该子显示区对应的第一测试端子连接，以及每条偶数条扫描线13通过一开关103与该子显示区对应的第二测试端子连接。例如第一子显示区111对应第一测试端子101和第二测试端子102，第一子显示区111内的每条奇数条扫描线13通过一开关103连接第一测试端子101，第一子显示区111内的每条偶数条扫描线13通过一开关103连接至第二测试端子102。第二子显示区112对应第一测试端子201和第二测试端子202，第二子显示区112内的每条奇数条扫描线13通过一开关103连接第一测试端子201，第二子显示区112内的每条偶数条扫描线13通过一开关103连接至第二测试端子202。显示区包括若干个子显示区，可以通过各子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子对该子显示区进行独立充电控制。例如当对第一子显示区11进行检测时，控制各开关103打开，向第一子显示区111对应的第一测试端101和第二测试端子102加载驱动信号。具体可以通过外部的测试设备提供驱动信号，通过外部设备的探针接触第一测试信号端子101和第二测试信号端子102，外部设备输出的驱动信号加载至第一测试端子101和第二测试端子102。具体地，可以在第一阶段，向第一子显示区111对应的第一测试端子101和第二测试端子102加载驱动信号，而其他子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子不加载驱动信号。第一子显示区111内的子像素15打开，也就是子像素15内的开关晶体管打开，通过向数据线14提供第一数据信号电压，第一数据信号对应暗态画面，例如对应黑画面，数据线上的第一数据信号电压通过子像素15内打开的开关晶体管写入子像素15的子像素电极，则第一子显示区111内的子像素15显示黑画面。在第二阶段，停止向第一子显示区111内的第一测试端子101和第二测试端子102施加驱动信号，向其他子显示区对应的第一测试端子和第二测试端子加载驱动信号，通过向数据线14提供第二数据信号电压，第二数据信号电压对亮态画面，例如对应白画面，数据线14上的第二数据信号电压通过子像素15内打开的开关晶体管写入子像素15的子像素电极，则除第一子显示区111外，其他子显示区显示白画面。如果第一子显示区内的开关晶体管漏电，例如开关晶体管的源极和漏极短路时，数据线14上的第二数据信号将会通过漏电的开关晶体管写入第一子显示区111内的子像素15，第一子显示区111会出现辉点，可以检测到第一子显示区内的开关晶体管是否漏电异常。对其他子显示区的检测情况，与第一子显示区的检测情况类似，这里不再赘述。各子显示区内的扫描线的条数可以相等也可以不等，可以根据具体的显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，包括显示区和非显示区，以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线，其特征在于，还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子；所述显示区包括至少两个子显示区；其中，每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子，分别为第一测试端子和第二测试端子；所述子显示的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接，以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括显示区和非显示区，以及设置于所述显示区的多条扫描线和多条数据线，其特征在于，还包括设置于所述非显示区的多个开关和多个扫描测试端子；所述显示区包括至少两个子显示区；其中，每个所述子显示区对应两个所述扫描测试端子，分别为第一测试端子和第二测试端子；所述子显示的每条奇数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第一测试端子连接，以及每条偶数条所述扫描线通过一所述开关与该子显示区对应的第二测试端子连接。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，各所述子显示区内的所述扫描线的条数相等。3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括两个子显示区。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，两个所述子显示区分别为上半部显示区和下半部显...

【专利技术属性】
技术研发人员：史正双，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32