用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法及系统技术方案

一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体；所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上；以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内；以及测试所述磁头体的动态性能。本发明专利技术可节省后续工序中的原料成本和人工成本，而且无需在入射光和磁头体的光波导之间进行精确的光学对准，从而提高测试效率。

Testing method and system for dynamic performance of magnetic head used to form thermal assistant head

A dynamic performance test method for a magnetic head forming a thermally assisted magnetic head includes: providing a magnetic head that is not connected to a light source unit; the magnetic head can be removably mounted on a test magnetic head cantilever assembly; and continuously providing a flat-topped beam perpendicular to the relative plane of the air bearing surface, which is optically aligned with the optical waveguide. The projection of the incident end of the optical waveguide in the direction is within the spot of the flat-topped beam, and the dynamic performance of the magnetic head is tested. The invention can save the cost of raw materials and labor in subsequent processes, and does not need accurate optical alignment between the incident light and the optical waveguide of the magnetic head, thereby improving the test efficiency.

【技术实现步骤摘要】
用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法及系统
本专利技术涉及一种具有热辅助磁头的硬盘驱动器(HDD)，尤其涉及一种热辅助磁头的磁头体的动态性能测试的方法及系统。
技术介绍
磁盘驱动器(HDD)是常用的信息存储装置。随着HDD的记录密度的增大，急需改善磁头和磁记录介质的性能，在HDD中，嵌入在滑块内的磁头在磁记录介质的表面上飞行以进行数据的读写操作。最近，一种热辅助磁记录(TAMR)技术已被提出，热辅助磁头(TAMR磁头)被投入使用。该种技术采用的是具有高矫顽力的磁记录介质。当进行写操作时，写磁场和热量被几乎同时施加到磁记录介质的写数据的区域，使得该区域的温度提高且矫顽力下降从而进行数据写入。随后，该写入数据的区域的温度降低且矫顽力增加从而提高磁化的热稳定性。常见地，该热源来自热辅助磁头。图1a为传统的热辅助磁头100的立体图，该热辅助磁头100包括具有空气承载面(ABS)的磁头体110以及安装在磁头体110上的光源单元130。该磁头体110包括与ABS相对的底面112、嵌有写元件115的尾边113以及与尾边113相对的前边(图未示)。该光源单元130包括位于写元件附近的激光二极管131以及用于支撑激光二极管131的安装座132。该安装座132通过如焊锡层连接在磁头体110上。激光二极管131向磁记录介质的预定区域发出激光，从而降低该介质的矫顽力。继而，向该加热的区域施加写磁场，从而实现写操作。为了确保TAMR磁头的性能，在出厂之前必须对TAMR磁头进行一系列的测试，包括动态测试和静态测试等。传统的动态测试方法是在TAMR层面上进行测试，也就是在TAMR磁头100完成磁头体120和光源单元130的连接之后进行，其具体测试方法是，在动态测试机上安装TAMR磁头100，继而，使光源单元130中的激光二极管131发光并向光波导140的入射端处入射，如图1b所示，检测光波导发射端的激光二极管的光功率并找到光功率最大的位置，继而该光功率最大的位置和光波导的入射端之间进行光学对准后进行动态性能测试。由于激光二极管发射的光束为高斯光束，其横截面的振幅分布遵守高斯函数如图1c所示，以最大振幅强度为原点，两侧的振幅对称下降，因此，需对该高斯光束与光波导进行精确对准，才可找到光束的最大振幅强度的位置，即光功率最大的位置。在进行后精确对准后才能进行动态测试，以找到缺陷磁头。缺陷磁头将被舍弃。这种在TAMR层面进行的动态测试方法不仅需要进行光束精确对准，而且，筛选出的缺陷磁头被最终被舍弃将使得前述的光源单元和磁头体之间的连接工序变得无用，浪费资源，增加制造成本。因此，亟待一种热辅助磁头的磁头体的动态性能测试的方法及系统，在光源单元连接在磁头体之间即可筛选出缺陷磁头，从而节省后续工序中的原料成本和人工成本。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供一种热辅助磁头的磁头体的动态性能测试的方法，该测试可在未连接光源单元的磁头体层面上进行以节省后续工序中的原料成本和人工成本，而且无需在入射光和磁头体的光波导之间进行精确的光学对准，从而提高测试效率。本专利技术的另一目的在于提供一种热辅助磁头的磁头体的动态性能测试的系统，该测试可在未连接光源单元的磁头体层面上进行以节省后续工序中的原料成本和人工成本，而且无需在入射光和磁头体的光波导之间进行精确的光学对准，从而提高测试效率。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体，所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上，所述测试磁头悬臂组件装载在动态测试机上；以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内；以及测试所述磁头体的动态性能。较佳地，所述光波导的入射端的投影位于所述平顶光束的光斑的中心。较佳地，所述平顶光束的光斑形状为圆形或椭圆形。较佳地，所述平顶光束的光斑形状为直径小于10μm的圆形。较佳地，所述光波导的入射端处的入射光源功率范围是30mW～1000mW。相应地，一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试系统，包括：动态性能测试机，包括用于支撑一未连接光源单元的磁头体的测试磁头悬臂组件，所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；以及光源提供装置，用于以垂直于空气承载面的相对面的方向向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内。较佳地，所述光波导的入射端位于所述平顶光束的光斑的中心。较佳地，所述平顶光束的光斑形状为圆形或椭圆形。较佳地，所述平顶光束的光斑形状为直径小于10μm的圆形。较佳地，所述光波导的入射端处的入射光源功率范围是30mW～1000mW。较佳地，所述光源提供装置包括激光器以及平顶光束整形器。另外，本专利技术提供一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体，所述磁头体具有一热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；所述磁头体可移除地安装在测试磁头悬臂组件上，所述测试磁头悬臂组件上固定连接有一测试光源单元，且所述测试光源单元与所述磁头体的空气承载面的相对面面对面配置；控制所述测试光源单元向所述磁头体提供一高斯光束，且所述高斯光束与所述光波导光学对准；以及测试所述磁头体的动态性能。另外，本专利技术提供一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体，所述磁头体具有一热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上，所述测试磁头悬臂组件装载在动态测试机上；以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一高斯光束，所述高斯光束与所述光波导光学对准；控制所述高斯光束与所述磁头体的磁轨运动同步；以及测试所述磁头体的动态性能。另外，本专利技术提供一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一磁头体以及一光源单元，所述光源单元以非固接的方式暂时连接在所述磁头体的空气承载面上；所述光源单元提供的高斯光束与所述磁头体的光波导光学对准；以及测试所述磁头体的动态性能。与现有技术相比，本专利技术的动态性能测试在未连接光源单元的磁头层面上进行，若测试判定磁头体合格，光源单元可通过YAG激光或UV胶的连接方式连接到磁头体上；若测试判定磁头体不合格，则该磁头体将被舍弃，因此，相对传统的TAMR层面测试，本专利技术可节省后续的材料成本和人力成本。另外，由于引入平顶光束以代替高斯光束，因此在进行动态性能测试之前，无需在平顶光束和光波导的入射端之间进行精确的光学对准以找到最大的光功率位置；相反，仅需进行粗略简单的光学对准保证光波导的入射端的投影位于平顶光束的光斑之内即可。通过以下的描述并结合附图，本专利技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本专利技术的实施例。附图说明图1a为传统热辅助磁头的立体图。图1b为传统热辅助磁头的测试方法的简化示意图。图1c为激光二极管发射的高斯光束的振幅分布示意图。图2为本专利技术的测试系统的一个实施例的简化示意图。图3为本专利技术的具有热辅助磁头部分的热辅助磁头的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体，所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上，所述测试磁头悬臂组件装载在动态测试机上；以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内；以及测试所述磁头体的动态性能。

【技术特征摘要】
1.一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法，包括：提供一未连接光源单元的磁头体，所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上，所述测试磁头悬臂组件装载在动态测试机上；以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内；以及测试所述磁头体的动态性能。2.如权利要求1所述的动态性能测试方法，其特征在于：所述光波导的入射端的投影位于所述平顶光束的光斑的中心。3.如权利要求1所述的动态性能测试方法，其特征在于：所述平顶光束的光斑形状为圆形或椭圆形。4.如权利要求1所述的动态性能测试方法，其特征在于：所述平顶光束的光斑形状为直径小于10μm的圆形。5.如权利要求1所述的动态性能测试方法，其特征在于：所述光波导的入射端处的入射光源功率范围是30mW～1000mW。6.一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试系统，包括：动态性能测试机，包括用于支撑一未连接光源单元的磁头体的测试磁头悬臂组件，所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导；以及光源提供装置，用于以垂直于空气承载面的相对面的方向向所述磁头体提供一平顶光束，所述平顶光束与所述光波导光学对准，且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内。7.如权利要求6所述的动态性能测试系统，其特征在于：所述光波导的入射端位于所述平顶光束的光斑的中心。8.如权利要求6所述的动态性能测试系统，其特征在于：所述平顶光束的光斑形状为圆形或...

【专利技术属性】
技术研发人员：高山清市，本田隆，藤井隆司，細井亮，张启超，佐佐木務，卢镜滔，聂方龙，
申请(专利权)人：新科实业有限公司，
类型：发明
国别省市：中国香港,81