The invention provides a method for writing, reading and erasing data in phase change memory, which includes the following steps: providing a phase change memory, which comprises at least one heating layer and at least one phase change layer, which corresponds to the heating layer, and the material of the phase change layer includes vanadium dioxide; The heating layer heats the phase change layer so that the phase change layer keeps at the phase change temperature, and at this time, an electrical signal is input to the phase change layer to cause the phase change layer to occur, thus writing data; an electrical signal is input to the phase change layer so that the phase change layer does not occur, and the resistance of the phase change layer is obtained by measuring the current in the circuit. The data are read according to the magnitude of the resistance value, and the heating layer is controlled to stop heating the phase change layer, thereby erasing the data of the phase change layer.
【技术实现步骤摘要】
相变存储器写入、读取、擦除数据的方法
本专利技术涉及一种相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,尤其涉及一种基于二氧化钒材料的相变存储器写入、读取、擦除数据的方法。
技术介绍
作为非易失性存储器的下一代产品,相变存储器是一种利用特殊相变材料的不同相导电性的差异来存储信息的存储器。相变存储器基于其独特的特点如较快的响应速度、较优的耐用性以及较长的数据保存时间等,已备受关注,其不仅能够在移动电话、数码相机、MP3播放器、移动存储卡等民用微电子领域得到广泛应用,而且在航空航天及导弹系统等军用领域有着重要的应用前景。然而,目前的相变存储器当其处于工作状态下时,给相变材料施加一个窄脉宽的大电流脉冲,实现相变材料的快速熔融与淬火,造成相变材料从晶态到非晶态的转变,也就是相变材料从低阻到高阻的转变,称之为写过程,这种高阻的非晶态称为RESET状态,对应数据“0”。当给相变材料施加一个长脉宽的幅值适中的电流脉冲,实现相变材料的在结晶温度下的结晶,造成相变材料从非晶态到晶态的转变,也就是相变材料从高阻态到低阻态的转变,称之为擦过程,这种低阻的非晶态称为SET状态,对应数据“1”,现有的这种相变存储器只能存储2n种数据,存储密度较小,不能够满足需求。
技术实现思路
有鉴于此,确有必要提供一种提高存储密度的相变存储器的工作方法。一种相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其包括以下步骤:提供一相变存储器,该相变存储器包括:至少一加热层及至少一相变层,该相变层与所述加热层对应设置,该加热层加热所述相变层,使该相变层达到相变温度,所述相变层的材料包括二氧化钒;控制所述加热层加热所述相变层, ...
【技术保护点】
1.一种相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其包括以下步骤:提供一相变存储器,该相变存储器包括:至少一加热层及至少一相变层,该相变层与所述加热层对应设置,该加热层加热所述相变层,使该相变层达到相变温度,所述相变层的材料包括二氧化钒;S2,控制所述加热层加热所述相变层,使该相变层保持在相变温度,此时向该相变层输入电信号,使该相变层发生相变,从而写入数据;S3,向所述相变层输入另一电信号,使该相变层不发生相变,测量电路中的电流大小,得出该相变层的电阻,根据电阻值的大小从而读取数据;S4,控制所述加热层停止加热所述相变层,从而擦除该相变层的数据。
【技术特征摘要】
1.一种相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其包括以下步骤:提供一相变存储器,该相变存储器包括:至少一加热层及至少一相变层,该相变层与所述加热层对应设置,该加热层加热所述相变层,使该相变层达到相变温度,所述相变层的材料包括二氧化钒;S2,控制所述加热层加热所述相变层,使该相变层保持在相变温度,此时向该相变层输入电信号,使该相变层发生相变,从而写入数据;S3,向所述相变层输入另一电信号,使该相变层不发生相变,测量电路中的电流大小,得出该相变层的电阻,根据电阻值的大小从而读取数据;S4,控制所述加热层停止加热所述相变层,从而擦除该相变层的数据。2.如权利要求1所述相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其特征在于,向所述相变层输入多次电信号时,该相变层的总电阻值发生多次变化,每个电阻值对应一个数据,从而实现多个数据写入。3.如权利要求2所述相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其特征在于,所述相变层在发生金属-绝缘体相变的过程中同时存在金属相与绝缘体相,当给所述相变层输入多个电信号时金属畴与绝缘体畴的比例发生变化,导致该相变层的总电阻变化。4.如权利要求1所述相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其特征在于,所述加热层为一碳纳米管结构。5.如权利要求4所述相变存储器写入、读取、擦除数据的方法,其特征在于,所述碳纳米管结构包括碳纳米管膜、碳纳米管线或碳纳米管膜与碳纳米...
【专利技术属性】
技术研发人员:侯纪伟,袁之泉,刘锴,柳鹏,姜开利,范守善,
申请(专利权)人:清华大学,鸿富锦精密工业深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。