质谱分析装置制造方法及图纸

提供质谱分析装置，其具备：前体离子候选选出部(42)，其根据质谱数据选出前体离子候选；产物离子扫描测定条件决定部(43)，其将前体离子候选与多个断裂能量候选值组合，来设定产物离子扫描测定条件；产物离子谱数据获取部(44)，其执行MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；化合物数据库文件制作部(45)，其制作将产物离子扫描测定条件与产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件；以及MRM测定条件候选制作部(46)，其从全部的产物离子谱数据中按照质量峰强度从大到小的顺序提取产物离子，来制作包括产物离子的质荷比、前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的MRM测定条件候选。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】质谱分析装置
本专利技术涉及能够容易地决定在对试样中所含的目标化合物进行多重反应监测(MRM)测定时的测定条件的质谱分析装置。
技术介绍
作为用于进行试样中所含的目标化合物的鉴定或定量的质谱分析的一个方法，有被称为MS/MS分析(串联分析)的方法。例如使用具有前级质量分离部、碰撞室及后级质量分离部的质谱分析装置来进行MS/MS分析，该前级质量分离部筛选具备特定质荷比的离子作为前体离子，该碰撞室使前体离子断裂而生成产物离子，该后级质量分离部使具有特定质荷比的产物离子选择性通过。MS/MS分析的测定方法之一有MRM测定。MRM测定中，分别将通过前级质量分离部和后级质量分离部的离子的质荷比固定，测定由特定的前体离子生成的特定的产物离子的强度(量)。该前体离子与产物离子的组被称为MRM转变。为了进行目标化合物的MRM测定，需要预先决定MRM测定条件。通常，分析员针对许多化合物中的各个化合物，参照登记有一个或多个包括MRM转变和断裂能量的值(也称为碰撞能量的值或CE值。)的MRM测定条件候选的化合物数据库，来决定MRM测定条件。化合物数据库中，基于使用各化合物的标准试样在MRM转变和断裂能量的值中的至少一方不同的测定条件下详尽无遗地预测定所得到的结果，选出并登记能够高灵敏度地检测产物离子的测定条件。因此，能够通过参照化合物数据库来决定目标化合物的MRM测定条件，若在由此决定的MRM测定条件下进行测定，则能够高灵敏度地检测目标化合物的产物离子(例如专利文献1、2)。专利文献1：日本特开2013-15485号公报专利文献2：日本特开2012-104389号公报专利技术内容专利技术要解决的问题但是，实际测定的试样(实际试样)中还含有目标化合物以外的化合物(杂质化合物)。若这种杂质化合物中包含会生成具有与目标化合物的MRM测定条件中所含的MRM转变相同的质荷比的前体离子和产物离子的化合物，则目标化合物的产物离子与杂质化合物的产物离子同时被检测到，无法对目标化合物正确地定量。因此，实际试样的MRM测定中，需要从化合物数据库中登记的MRM测定条件候选中选出不受杂质化合物影响的MRM测定条件候选，来决定目标化合物的MRM测定条件。最近，生物试样、食品或土壤中所含的目标化合物的鉴定或定量也使用MRM测定。生物试样等中，除了含有目标化合物以外，还含有数百至数千的杂质化合物。另一方面，化合物数据库中仅登记了一个或多个基于各化合物的预测定的结果最终选出的MRM测定条件候选(MRM转变与CE值的组)，未保存除此以外的与MRM转变及CE值的组有关的信息(MRM测定条件候选以外的MRM转变或CE值下进行的预测定的结果)。因此，存在无论使用化合物数据库中登记的哪一个MRM测定条件候选都会受到杂质化合物的影响(化合物数据库中登记的哪一个MRM测定条件候选都不能使用)的情况。这种情况下，分析员必须亲自新设定MRM转变和CE值中的至少一方不同的测定条件并详尽无遗地进行预测定来寻找能够对实际试样使用的MRM测定条件候选，存在耗费时间和劳力的问题。本专利技术要解决的问题是，提供即使在对包含大量杂质化合物的试样进行MRM测定的情况下也能够制作能够容易地决定该试样中所含的目标化合物的MRM测定条件的化合物数据库的质谱分析装置。用于解决问题的方案为了解决上述问题而做出的本专利技术为一种质谱分析装置，具有使离子断裂的断裂部和分别位于该断裂部的前级和后级的质量分离部，所述质谱分析装置的特征在于，具备：a)存储部，其预先保存有与多个化合物中的各个化合物有关的质谱数据；b)前体离子候选选出部，其根据用户的输入指示，针对多个对象化合物中的各个对象化合物，按照预先决定的条件从所述质谱数据中选出一个或多个前体离子候选，所述多个对象化合物为所述多个化合物的一部分或全部；c)产物离子扫描测定条件决定部，其将各个所述前体离子候选与预先决定的多个断裂能量的候选值组合，来设定多个产物离子扫描测定条件；d)产物离子谱数据获取部，其分别执行按照所述多个产物离子扫描测定条件的MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；e)化合物数据库文件制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，制作将所述产物离子扫描测定条件与在该条件下获取到的所述产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件，并将该化合物数据库文件保存到所述存储部中；以及，f)MRM测定条件候选制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，从全部的所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子，制作包括各产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的MRM测定条件候选，并将该MRM测定条件候选保存到所述存储部中。作为所述前体离子候选选出部选出前体离子候选时的条件(所述预先决定的条件)，例如可以使用按照前体离子的质量峰强度从大到小的顺序选出规定个数的前体离子、或者选出前体离子的质量峰强度为预先决定的值以上的前体离子等。另外，也可以组合不将特定离子作为前体离子选出(排除离子)这样的条件。所述MRM测定条件候选制作部提取产物离子时的条件也可以使用上述相同的条件。本专利技术所涉及的质谱分析装置中，当用户进行规定的输入指示操作时，基于预先保存在存储部中的多个对象化合物的质谱数据选出一个或多个前体离子候选。然后，对于各个前体离子候选，在断裂能量的值不同的多个条件下获取产物离子谱数据，基于该数据制作MRM测定条件候选。在该阶段，制作与现有的化合物数据库中登记的MRM测定条件候选相当的MRM测定条件候选。本专利技术所涉及的质谱分析装置中，不仅制作MRM测定条件候选，而且将通过在MRM转变和断裂能量的值中的至少一方不同的条件下详尽无遗地进行的测定而获取到的产物离子谱数据自身与MRM测定条件候选关联，来实现数据库化。也就是说，制作包括如下信息的化合物数据库：由前体离子候选生成且未被所述MRM测定条件候选制作部提取的产物离子的质量峰的强度信息、由前体离子候选生成且在未包含在MRM测定条件候选中的值的断裂能量下的产物离子的质量峰的强度信息。因此，即使在由MRM测定条件候选制作部制作出的哪一个MRM测定条件候选都不能使用的情况下，也能够读取化合物数据库文件中所含的产物离子谱数据来搜索另外的MRM测定条件，从而决定适当的MRM测定条件。优选的是，本专利技术所涉及的质谱分析装置还具备：g)显示部；h)质谱显示控制部，其当用户进行选择所述多个对象化合物中的任意对象化合物的操作时，从所述存储部读取该对象化合物的质谱数据来在所述显示部显示质谱，并且将所述前体离子候选的质量峰以被区别于其它质量峰的方式显示；以及i)产物离子谱显示控制部，其当用户进行选择质谱的所述被区别的质量峰的操作时，在所述显示部显示通过使用与该质量峰对应的前体离子在不同的断裂能量的值下执行的产物离子扫描测定所获取到的产物离子谱中的、具有最高强度的质量峰的产物离子谱，并且在所述显示部显示所述多个断裂能量的候选值中的各个候选值下的该质量峰的强度。上述区别显示除了通过例如将质量峰着色显示或用粗线显示来进行以外，还能够通过在质量峰的附近显示质荷比等各种方法来进行。在上述的具备质谱显示控制部和产物离子谱显示控制部的方式的质谱分析装置中，当用户选择多个对象化合物中的一个对象化合物时，该对象化合本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质谱分析装置，具备使离子断裂的断裂部和分别位于该断裂部的前级和后级的质量分离部，所述质谱分析装置的特征在于，还具备：a)存储部，其预先保存有与多个化合物中的各个化合物有关的质谱数据；b)前体离子候选选出部，其根据用户的输入指示，针对多个对象化合物中的各个对象化合物，按照预先决定的条件从所述质谱数据中选出一个或多个前体离子候选，所述多个对象化合物为所述多个化合物的一部分或全部；c)产物离子扫描测定条件决定部，其将各个所述前体离子候选与预先决定的多个断裂能量的候选值组合，来设定多个产物离子扫描测定条件；d)产物离子谱数据获取部，其分别执行按照所述多个产物离子扫描测定条件的MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；e)化合物数据库文件制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，制作将所述产物离子扫描测定条件与在该条件下获取到的所述产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件，并将该化合物数据库文件保存到所述存储部中；以及f)MRM测定条件候选制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，从全部的所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子，制作包括各产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的多重反应监测测定条件候选即MRM测定条件候选，并将该MRM测定条件候选保存到所述存储部中。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质谱分析装置，具备使离子断裂的断裂部和分别位于该断裂部的前级和后级的质量分离部，所述质谱分析装置的特征在于，还具备：a)存储部，其预先保存有与多个化合物中的各个化合物有关的质谱数据；b)前体离子候选选出部，其根据用户的输入指示，针对多个对象化合物中的各个对象化合物，按照预先决定的条件从所述质谱数据中选出一个或多个前体离子候选，所述多个对象化合物为所述多个化合物的一部分或全部；c)产物离子扫描测定条件决定部，其将各个所述前体离子候选与预先决定的多个断裂能量的候选值组合，来设定多个产物离子扫描测定条件；d)产物离子谱数据获取部，其分别执行按照所述多个产物离子扫描测定条件的MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；e)化合物数据库文件制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，制作将所述产物离子扫描测定条件与在该条件下获取到的所述产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件，并将该化合物数据库文件保存到所述存储部中；以及f)MRM测定条件候选制作部，其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物，从全部的所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子，制作包括各产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的多重反应监测测定条件候选即MRM测定条件候选，并将该MRM测定条件候选保存到所述存储部中。2.根据权利要求1所述的质谱分析装置，其特征在于，还具备：g)显示部；h)质谱显示控制部，其当用户进行选择所述多个对象化合物中的任意对象化合物的操作时，从所述存储部读取该对象化合物的质谱数据来在所述显示部显示质谱，并且将...

【专利技术属性】
技术研发人员：芦田刚士，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP