一种用于介电常数测试的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于介电常数测试的装置，包括底座、上金属板、下金属板、被测件和矢量网络分析仪，还包括千分尺滑台、短路板、同轴线、耦合环和螺旋顶，下金属板固定在千分尺滑台上，上金属板和下金属板两侧各有一块短路板，带耦合环的同轴线穿过短路板与矢量网络分析仪电连接，千分尺滑台与螺旋顶螺纹连接，被测物置于密封的金属腔中，降低了辐射对测量精度的影响，被测物的位置通过千分尺滑台进行调节，同时同轴线的位置也可以调节，大大提高了检测时操作方便程度，另外整个装置结构牢固，被测物放置稳定，也提高了检测精度。

A device for measuring dielectric constant

The utility model discloses a device for measuring dielectric constant, which comprises a base, an upper metal plate, a lower metal plate, a measured part and a vector network analyzer. The device also comprises a micrometer slide table, a short circuit plate, a coaxial line, a coupling ring and a spiral top. The lower metal plate is fixed on the micrometer slide table, and the upper metal plate and the lower metal plate are on both sides. Each has a short-circuit board. The coaxial line with coupling ring is connected with the vector network analyzer through the short-circuit board. The micrometer sliding table is connected with the screw thread of the spiral top. The measured object is placed in the sealed metal cavity, which reduces the influence of radiation on the measuring accuracy. The position of the measured object is adjusted by the micrometer sliding table, and the position of the coaxial line is at the same time. The device can also be adjusted to greatly improve the convenience of operation. In addition, the structure of the whole device is firm, the object under test is placed stably, and the detection accuracy is also improved.

【技术实现步骤摘要】
一种用于介电常数测试的装置
本技术涉及一种用于介电常数测试的装置，属于微波辐射测试介电常数装置

技术介绍
随着微波技术的发展，微波在化学、冶金、医学等学科领域中的应用越来越广泛。介电常数作为电磁场中描述材料的重要宏观参数，决定并影响着微波与材料的相互作用，因此，在新形势交叉学科的挑战下，对物质介电常数提出了更高的要求。现有技术的介电常数测试装置当中，以专利公开号：CN101126778A比较典型，该装置的不足之处在于：第一，只使用了一块短路板，降低辐射损耗的效果有限，故此影响了测量精度；第二，被测物的位置调节操作不方便，也不能实现被测物位置的精确调节；第三，被测物置于开放的空间中，天线对外的电磁辐射对检测结果有影响；第四，其同轴线位置不可调，增加了检测的不方便，第五，该装置一端为自由端，对比较小的被测物存在放置不稳的问题。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：一种用于介电常数测试的装置，使用两块短路板，被测物置于密封的金属腔中，以解决辐射对测量精度的影响；被测物的位置通过千分尺滑台进行调节，同时同轴线的位置也可以调节，以解决检测时因被测物大小不一与耦合环耦合操作不便的问题；另外整个装置结构牢固，被测物放置稳定，也提高了检测精度。本技术的技术方案是：一种用于介电常数测试的装置，包括底座、上金属板、下金属板、被测件和矢量网络分析仪，还包括千分尺滑台、短路板、同轴线、耦合环和螺旋顶，下金属板固定在千分尺滑台上，上金属板和下金属板两侧各有一块短路板，带耦合环的同轴线穿过短路板与矢量网络分析仪电连接。优选的，在短路板上设置有多个调节孔，带耦合环的同轴线可根据被测物的不同尺寸穿过不同的调节孔与被测物耦合。优选的，所述千分尺滑台下表面螺纹连接螺旋顶，螺旋顶下表面与底座接触，在测试过程中，可通过旋钮的顺时针或逆时针转动实现千分尺滑台的垂直方向上的移动，进一步实现不同尺寸被测件的松动或压紧。优选的，所述螺旋顶为螺栓结构，由头部和带外螺纹的螺杆组成，所述头部直径为螺杆直径的3-5倍，螺旋顶的头部与底座接触，头部面积足够大以保证千分尺滑台的稳定性。上述用于介电常数测试的装置的使用方法：将被测件放置在下金属板上，转动螺旋顶使下金属板缓慢上升，当被测件的上表面与上金属板的下表面接触时停止，将带耦合环的同轴线从合适的调节孔伸入，使耦合环耦合到被测件上，矢量网络分析仪的扫频信号输入输出端连接到同轴线上，信号通过同轴线输入到屏蔽腔内，由耦合环耦合到被测件上，再通过同轴线传回矢量网络分析仪。本技术的有益效果是：本技术设计的一种用于介电常数测试的装置，相比现有技术，优势主要有：第一，使用两块短路板，降低了辐射损耗，提高了测量精度；第二，被测物的位置通过千分尺滑台进行调节，千分尺滑台能够实现大距离调节和微调，方便快捷，解决了现有技术靠螺钉固定操作不方便的问题；第三，装置各部件组成的屏蔽腔为具有轴对称结构的封闭金属腔体，减少了现有技术的被测物置于开放空间中天线对外的电磁辐射对检测结果的影响；第四，带耦合环的同轴线可以在调节孔上下移动，可以适应不同尺寸的被测件，是操作更加方便；第五，装置结构稳定，无论被测物大小如何，都有可以实现稳定的放置，避免了现有技术中被测物过小，机械调节时放置不稳的问题。附图说明图1为本技术的装置结构图；图2为本技术的侧视图；图3为本技术的对比文件装置结构图；图中：1、底座，2、千分尺滑台，3、短路版，4、下金属板，5、被测件，6、上金属板，7、同轴线，8、耦合环，9、螺旋顶，31、调节孔，61、上金属板突出部。具体实施方式下面结合附图及具体的实施例对技术进行进一步介绍：参考图1-3，本技术一种用于介电常数测试的装置，包括底座1、上金属板6、下金属板4、被测件5和矢量网络分析仪，还包括千分尺滑台2、短路板3、同轴线7、耦合环8和螺旋顶9，下金属板4固定在千分尺滑台2上，上金属板6和下金属板4两侧各有一块短路板3，在短路板3上设置有调节孔31，带耦合环8的同轴线7穿过短路板3与矢量网络分析仪电连接，千分尺滑台2与螺旋顶9螺纹连接，螺旋顶9的头部直径是螺杆直径的3倍。将被测件5到下金属板4上后，转动螺旋顶9使下金属板4缓慢上升，当被测件5的上表面与上金属板6的下表面接触时停止，根据被测件5尺寸的大小将带耦合环8的同轴线7从合适的调节孔31伸入，使耦合环8耦合到被测件5上，矢量网络分析仪的扫频信号输入输出端连接到2根同轴线7上，信号通过同轴线7输入到屏蔽腔内，由耦合环8耦合到被测件5上，再通过同轴线7传回矢量网络分析仪，对检测数据实时采集、理论运算、误差分析、结果显示和数据保存等。电磁场在被测件外快速衰减，辐射损耗极小，品质因数值较高。在测试时，计算机控制矢量网络分析仪产生连续的微波扫频信号，采用同轴线7进行馈电，耦合环8耦合到被测件以产生写真，根据测量出的S参数曲线即可计算出被测件的介电常数。上金属板6、下金属板4、短路板3、底座1均采用黄铜制成，表面镀银，以降低电阻损耗。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于介电常数测试的装置，包括底座（1）、上金属板（6）、下金属板（4）、被测件（5）和矢量网络分析仪，其特征在于：还包括千分尺滑台（2）、短路板（3）、同轴线（7）、耦合环（8）和螺旋顶（9），下金属板（4）固定在千分尺滑台（2）上，上金属板（6）和下金属板（4）两侧各有一块短路板（3），带耦合环（8）的同轴线（7）穿过短路板（3）与矢量网络分析仪电连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于介电常数测试的装置，包括底座（1）、上金属板（6）、下金属板（4）、被测件（5）和矢量网络分析仪，其特征在于：还包括千分尺滑台（2）、短路板（3）、同轴线（7）、耦合环（8）和螺旋顶（9），下金属板（4）固定在千分尺滑台（2）上，上金属板（6）和下金属板（4）两侧各有一块短路板（3），带耦合环（8）的同轴线（7）穿过短路板（3）与矢量网络分析仪电连接。2.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁帅，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：新型
国别省市：贵州,52