用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法技术

本发明专利技术涉及一种用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。根据本发明专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法简单有效，测试成本低，测试结果准确可信。

Simulation test method for anti condensation environment of spacecraft in sealed cabin

The present invention relates to a simulation test method for the anti condensation environment of a device in a spacecraft sealed cabin, which includes the following steps: A. has anti condensation treatment on the surface of the device; the performance parameters of the device in the normal environment and the normal working state of the B. recording device; the C. is placed in the exposed environment; and the D. is described in the exposed environment. The device is energized to monitor and record the performance parameters of the device in the dew state. According to the invention, the simulation test method for the anti condensation environment of the device used in the spacecraft sealed cabin is simple and effective, the testing cost is low, and the test result is accurate and credible.

【技术实现步骤摘要】
用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法
本专利技术涉及为载人航天器正样器件环境防护领域，具体涉及一种用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法。
技术介绍
载人航天器内由于航天员呼吸和体表蒸发等过程会不断向舱内大气环境释放水蒸汽，同时气体净化装置吸收航天员产生的CO2气体过程中也会因化学反应生成一定量的水分，并以水蒸汽的形式散失到密封舱内的大气中。另一方面，由于冷凝干燥组件额工作，会将空气中的水蒸汽不断冷凝成液态水进行收集，最终水蒸汽在密封舱内达到一个平衡状态，并对应一个平衡温度，即露点温度。在低温工况，当飞船密封舱内器件表面温度温度低于露点温度时，就会在器件表面结露。在轨微重力条件下，随着结露过程的持续，液滴会在器件表面不断聚集并最终形成一层覆水层。当液滴或覆水层接触到器件表面接缝、螺钉孔、接插件连接处等部位，液态水因毛细力的作用进入到器件内部，可能影响到器件电路部分并造成短路或意外接通等故障，对器件工作和飞船安全造成损害。为防止器件表面结露造成的上述损害，可对器件表面采取一定的抗结露处理措施。为模拟载人航天器内器件表面结露的环境，考核器件在结露环境下正常工作的能力，验证器件表面抗结露处理措施的效果，需设计一套器件抗结露环境性能模拟试验方法。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于解决上述问题，提供一种用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法。为实现上述目的，本专利技术提供一种用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。根据本专利技术的一个方面，在所述a步骤中，所述抗结露处理为在所述器件表面包覆水汽隔离层或在单独的器件上或者至少两个器件相互连接贴靠表面之间填充水汽隔离材料，使所述器件表面抗水汽渗入。根据本专利技术的一个方面，在所述c步骤中，通过喷洒水雾使所述器件表面结露，将表面结露的所述器件置于经喷洒水雾结露的透明密闭容器中形成所述结露环境。根据本专利技术的一个方面，通过喷洒水雾使所述器件的全部表面均匀结露，尤其使所述器件与其他器件相连部位表面均匀结露。根据本专利技术的一个方面，在所述c步骤中，将所述器件直接置于结露试验箱中。根据本专利技术的一个方面，在所述d步骤中，持续或间隔通电。根据本专利技术的一个方面，在所述d步骤中，连续或者间隔监测并记录所述器件的性能参数。根据本专利技术的一个方面，在所述d步骤中，至少每天进行一次或者在十天以内进行一次监测和记录所述器件的性能参数。根据本专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，可以有效地验证器件在结露环境中的工作状态和工作性能，在测试周期完成以后，可以了解到器件的性能变化，根据性能变化便可以及时地做出改进和调整，这样可以保证器件装载于航天器以后上行在轨工作时的工作效率和工作的可靠性，保证航天器和航天员的安全。而且根据本专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法简单有效，测试成本低，测试结果准确可信。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示意性表示根据本专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法流程图；图2示意性表示根据本专利技术的测试器件处于透明密闭容器中参加测试的原理图；图3示意性表示利用本专利技术的模拟测试方法预先对测试器件进行喷洒水雾的效果图；图4示意性表示利用本专利技术的模拟测试方法预先对测试器件进行喷洒水雾的效果图；图5示意性表示喷洒水雾后的器件处于喷洒水雾后的透明密闭容器中的效果图；图6示意性表示测试设备监测器件时显示的性能参数的效果图；图7示意性表示测试设备监测器件时记录的性能参数的效果图。具体实施方式此说明书实施方式的描述应与相应的附图相结合，附图应作为完整的说明书的一部分。在附图中，实施例的形状或是厚度可扩大，并以简化或是方便标示。再者，附图中各结构的部分将以分别描述进行说明，值得注意的是，附图中未示出或未通过文字进行说明的元件，为所属
中的普通技术人员所知的形式。此处实施例的描述，有关方向和方位的任何参考，均仅是为了便于描述，而不能理解为对本专利技术保护范围的任何限制。以下对于优选实施方式的说明会涉及到特征的组合，这些特征可能独立存在或者组合存在，本专利技术并不特别地限定于优选的实施方式。本专利技术的范围由权利要求书所界定。图1示意性表示根据本专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法流程图。如图1所示，根据本专利技术的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。在本专利技术的上述a步骤中，抗结露处理为在航天器密封舱的器件表面包覆水汽隔离层或者在单独的器件上或者至少两个器件相互连接贴靠表面之间填充水汽隔离材料，使器件表面抗水汽渗入。在本专利技术中，在器件表面包覆的水汽隔离层可由条带状水汽隔离封闭带构成，也可以由连续延展的片状水汽隔离封闭片构成。当然还可以由其他的密封结构层来构成水汽隔离层，只要能够有效地安装在器件的外表面并且能够起到应有的防水作用就满足要求。在本专利技术中，对器件表面的抗结露处理需要参照相应的器件装载于航天器密封舱内上行并且在轨工作时的实施状态，所以测试器件的表面抗结露处理不能超过上述处于在轨工作时的器件的实施状态。即测试器件的表面处理需要切合实际，符合航天时的实施状态，不能超出航天时对器件的实际要求和实施状态，否则会影响测试结果的真实性和有效性。根据本专利技术的一种实施方式，水汽隔离层采用上述条带状水汽隔离封闭带时，条带状水汽隔离封闭带可以采用橡胶类合成高分子防水卷材，例如3M胶带等橡胶卷材。利用3M胶带缠绕器件的外表面，缠绕过程中3M胶带需要自身形成相互叠置地缠绕，即上层和下层胶带之间具有重叠部位。根据本专利技术的另一种实施方式，水汽隔离层采用上述水汽隔离封闭片时，水汽隔离封闭片可以采用树脂类防水材料或者刚性防水材料等。在对于器件的平面或者弯折度不高的部位，可以采用硬度相对较高的刚性防水材料对器件进行包覆封闭。刚性防水材料可以直接贴附器件表面形成水汽隔离层，对器件上敏感水汽部分进行有效地包覆和保护。使得器件上较为平整的表面上的抗结露效果有效提高。在对于器件的弯折度较高的部位，可以采用树脂类防水卷材对器件进行包覆封闭，例如热塑性聚烯烃、聚氯乙烯卷材和聚乙烯丙纶双面复合卷材等等树脂卷材。这种树脂卷材的延展性能好、拉伸强度大、使用寿命长。将其弯折并围绕包覆于器件的表面，可以形成具有很好的抗结露效果的水汽隔离层。在利用上述水汽隔离封闭片，例如树脂类防水卷材，对器件进行包覆时，利用其边缘与器件的边缘或者封闭片在器件上的另一边缘相互密封固定连接，使得封闭片与器件之间或者封闭片自身形成了一个封闭的抗结露环境或者本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。

【技术特征摘要】
1.用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。2.根据权利要求1所述的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，其特征在于，在所述a步骤中，所述抗结露处理为在所述器件表面包覆水汽隔离层或在单独的器件上或者至少两个器件相互连接贴靠表面之间填充水汽隔离材料，使所述器件表面抗水汽渗入。3.根据权利要求1或2所述的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，其特征在于，在所述c步骤中，通过喷洒水雾使所述器件表面结露，将表面结露的所述器件置于经喷洒水雾结露的透明密闭容器中形成所述结露环境。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：明章鹏，
申请(专利权)人：北京空间技术研制试验中心，
类型：发明
国别省市：北京,11