The invention discloses a fast two-dimensional uniform irradiation scanning method, the method comprises: a charged particle beam expander sections for specific distribution and has a certain aspect ratio of the beam; the beam according to the macro pulse length, calculate the time of single line scanning; according to Shu Liuhong pulse repetition frequency, calculation a single step scanning time interval; according to the sample size and the beam spot area need to scan, the calculated time scanning completion; in beam exports, according to the calculation of line scanning time, fast changing magnetic field by linear variation of deflection to achieve a dimension of the beam line scanning; in the beam of exports, according to the calculation of the step scan time, the steady magnetic field fast response deflection achieve second dimensions of beam step scan; the ceramic vacuum in scanning magnet at The digital power supply is used for scanning magnet power supply. The method of the invention has the advantages of fast scanning speed, large scanning area and high scanning uniformity.
【技术实现步骤摘要】
一种快速二维均匀辐照扫描方法
本专利技术属于辐照加速器领域,特别涉及一种快速二维均匀辐照扫描方法。
技术介绍
辐照加速器广泛应用于工业、农业、医疗、卫生、环保等领域,用于有机材料改性、食品和医疗卫生用品消毒杀菌、延缓农产品发芽等,其产生的射线具有可控、能量高、辐照时间段、无核废物、不危害环境等特点。电子辐照直线加速器的原理是,由电子枪产生一定能量的电子束,经加速到高能后,进输运线进行调整,在扫描系统的控制下,照射到样品的不同部位。辐照扫描系统是其中非常关键的一个部件,通常情况下希望在满足剂量率的要求下,扫描系统达到的速度尽可能快,扫描均匀度尽可能高,扫描面积尽可能大。目前,被辐照的样品通常置于传送带,辐照系统的束流采用一维线性扫描,通过样品随传送带的运动,实现面扫描。由于其中一维是机械运动装置,这种连续扫描的方式,其扫描频率通常比较慢。在工业产品、航空航天器件设备等的耐辐照测试中,一些较大的样品要求进行大面积的快速均匀辐照,以测试样品各部分的辐照响应特性,现有的辐照扫描方式难以满足要求。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种快速二维均匀辐照扫描方法,从而解决现有技术中对大面积样品进行快速均匀辐照的问题。本专利技术采用的技术方案为:一种快速二维均匀辐照扫描方法,所述方法包括:步骤1、将带电粒子束流扩束成截面为特定分布的且具有一定宽高比例的束斑;根据束流宏脉冲的长度,计算出单次线扫描的时间;步骤2、根据束流宏脉冲的重复频率,计算出单次步进扫描的时间间隔;步骤3、根据需要扫描的样品面积和束斑面积,计算得到完成一次面扫描的时间;步骤4、在束流的出口,根据计算的线扫 ...
【技术保护点】
一种快速二维均匀辐照扫描方法,其特征在于,所述扫描方法包括:步骤1、将带电粒子束流扩束成截面为特定分布的且具有一定宽高比例的束斑;根据束流宏脉冲的长度,计算出单次线扫描的时间;步骤2、根据束流宏脉冲的重复频率,计算出单次步进扫描的时间间隔;步骤3、根据需要扫描的样品面积和束斑面积,计算得到完成一次面扫描的时间;步骤4、在束流的出口,根据计算的线扫描时间,采用连续变化的快变化磁场向截面尺寸小的方向进行一个维度的线扫描;步骤5、在束流的出口,根据计算的步进扫描时间,采用高变化频率的稳态磁场向截面尺寸大的方向进行第二个维度的步进扫描。
【技术特征摘要】
1.一种快速二维均匀辐照扫描方法,其特征在于,所述扫描方法包括:步骤1、将带电粒子束流扩束成截面为特定分布的且具有一定宽高比例的束斑;根据束流宏脉冲的长度,计算出单次线扫描的时间;步骤2、根据束流宏脉冲的重复频率,计算出单次步进扫描的时间间隔;步骤3、根据需要扫描的样品面积和束斑面积,计算得到完成一次面扫描的时间;步骤4、在束流的出口,根据计算的线扫描时间,采用连续变化的快变化磁场向截面尺寸小的方向进行一个维度的线扫描;步骤5、在束流的出口,根据计算的步进扫描时间,采用高变化频率的稳态磁场向截面尺寸大的方向进行第二个维度的步进扫描。2.根据权利要求1所述的快速二维均匀辐照扫描方法,其特征在于,采用...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨永良,王琳,何志刚,
申请(专利权)人:中国科学技术大学,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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