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本发明公开了一种快速二维均匀辐照扫描方法，该方法包括：将带电粒子束扩束成截面为特定分布的且具有一定宽高比例的束流；根据束流的宏脉冲长度，计算出单次线扫描的时间；根据束流宏脉冲的重复频率，计算出单次步进扫描的时间间隔；根据需要扫描的样品面积和...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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