一种测试凹槽可调式SOT26测试夹制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，属于芯片测试技术领域。本实用新型专利技术的测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹和活动夹；固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节。本实用新型专利技术测试夹的应用，通过SOT26的压入→测试→顶出的步骤，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26的精确定位及防叠料和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，达到了一举双得的效果。

Adjustable SOT26 test clip for testing groove

The utility model discloses an adjustable SOT26 test clip for testing grooves, belonging to the technical field of chip testing. The utility model provides a test groove adjustable SOT26 test clamp comprises a fixing clamp and a movable clamp; clamp and the movable clamp connected by a rotating device matched with each other, and the movable clamp clamp to achieve rotation relative to the fixed between the nip width adjustment, realizes the test clamping opening can be adjusted according to the size of the SOT26 adaptability. The utility model is used by the SOT26 test clip, press to test to push out steps to control opening and closing the clamp by a spring, to make up for the size of the left and right shift caused by SOT26 so as to improve the yield of disposable test, while the installation of the top rod; synergistic effect of active clamp and push rod, play to test the precise positioning of SOT26 and anti fold material and improve test yield, equivalent to improve the productivity, achieve one a double effect.

【技术实现步骤摘要】
一种测试凹槽可调式SOT26测试夹
本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种测试凹槽可调式SOT26测试夹。
技术介绍
目前，在半导体集成电路制造工艺中，需要对切割封装后的成品芯片进行进一步测试，测试夹具更起到了关键作用。在芯片测试过程中，具体做法是通过芯片分选机的吸嘴将芯片转移至测试夹内，测试完毕后，芯片分选机的吸嘴再将芯片转移至下一工序。SOT是英文Small-outlinetransistor的简称，指的是一种晶体管的封装形式，SOT26是SOT23-6的简称，SOT23-6是SOT23中的一种，尾数6表示6个引脚；原设备所设计的测试夹，如图2所示，夹口(3)的开口尺寸是固定的，而SOT26的长度由于制造工艺水平的局限性，导致其长度不一致，故原设备设计的测试夹是按SOT26长度最大尺寸设计的，这样就造成了SOT26产品的引脚在接触测试片时左右偏移，从而引起接触不良，导致一次测试率下降；而SOT26的引脚是左右对称设置，测试时如何保证两侧引脚和测试片的接触也是技术人员需要考虑的技术问题。经检索，中国专利技术专利申请，公开号：CN105931979A，公开日：2016.09.07，公开了一种旋转下压型芯片测试夹具，包括支架，所述支架包括带有水平面的基台和竖直状的支撑杆；所述支撑杆上固定有内壁带有螺旋纹的空心柱状支撑架；还包括外壁带有螺旋纹的下压棒；所述支撑架内壁的螺旋纹和所述下压棒外壁的螺旋纹相互匹配；所述下压棒下部端头处设置有上部测试针，所述下压棒的上部端头处设置有手柄；所诉基台上固定有芯片放置台，所述芯片放置台的上表面设置有芯片定位杆，芯片放置台还设置有通孔，通孔中固定有下部测试针。该专利技术适用于未封装芯片的测试，可对芯片进行定位和快速测试，而无需将测试引脚焊接在芯片上，对芯片安装拆卸均快捷方便，适用于大批量的测试。但该专利技术申请的水平面的基台不能调整大小，只能测试固定规格的芯片，而且，只适用于未封装芯片的测试，通用性较差。
技术实现思路
1.技术要解决的技术问题针对现有技术中存在的SOT26测试时SOT26引脚在接触测试片时左右偏移的问题，本技术提供了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹。它可以实现测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，达到提高测试平均良率的目的。2.技术方案为达到上述目的，本技术提供的技术方案为：一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹和活动夹；所述固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，进而达到提高SOT26的测试平均良率的目的。进一步的技术方案，旋转装置为固定夹、活动夹正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱、凹半圆柱；所述活动夹通过凹半圆柱挂在固定夹的凸半圆柱上，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，由于SOT26的整体尺寸较小，无需实现大的宽度调节，只要固定夹和活动夹之间保留狭小的缝隙即可实现所需要的夹口的宽度调节，因此，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，即能实现夹口的宽度的微调节。进一步的技术方案，所述固定夹呈倒“T”字形状；所述活动夹挂在固定夹的中部凸台的一侧，并和固定夹之间留有“L”形旋转间隙，间隙呈“L”形，实现了凹半圆柱以凸半圆柱为轴的小角度旋转。进一步的技术方案，所述活动夹的下半部分，凹半圆柱的下部设置有水平方向的弹簧容腔，内置水平方向的夹口宽度调节弹簧。以实现SOT26测试完成后，夹口宽度的复位，并能够实现测试时夹口对SOT26的夹紧力，以保证SOT26测试时位置的稳定性。进一步的技术方案，固定夹中部凸台内部设置竖直方向的顶杆容腔，由下至上内置互相连接的顶杆弹簧和顶杆；顶杆呈“凸”字形，顶端穿出固定夹的上表面，靠近夹口中间的位置，底部为连接顶杆弹簧的顶杆座，以确保SOT26产品测试完成后不会卡在测试夹内，进而减少了副盘的叠料报警几率。进一步的技术方案，固定夹的上表面设置固定夹指，所述活动夹的上表面设置活动夹指，固定夹指槽和活动夹指槽相对设置，可有效避开某些特殊引线框所封装的SOT产品无引脚的两端露出的金属，防止产品与外围短路，中间容纳SOT26封装体的夹口，使SOT26压入夹口后，沟槽和夹口协同作用，防止SOT26测试时左路偏移并能保证SOT26两侧引脚和测试片的平行，方便测试并提高测试的精准度。进一步的技术方案，固定夹指和活动夹指相对的侧面均为上部向外开的两种不同角度的斜面，下端倾斜角度和SOT26封装体的形状一致，保证了SOT26压入夹口时缓冲式压入，避免SOT26封装体和夹口平面的过硬接触而相互损伤，并进一步保证了压入后的稳定性。进一步的技术方案，所述凸半圆柱穿有中空的，水平方向的固定销孔；固定销呈“T”字形横插入固定销孔，顶端固定连接有固定销帽，尾端穿出固定销孔后和垫圈紧配连接，以保证固定夹指槽和活动夹指槽的稳定性平行关系；所述凹半圆柱的旋转为顺时针转0～4°，根据SOT26的大小自动调整旋转角度，以适应不同尺寸的SOT26产品。进一步的技术方案，所述固定销的尾端还穿有固定插孔，固定插孔内插入挡杆，并粘上胶水以避免垫圈紧配连接松动造成固定夹指槽和活动夹指槽的错位。一种测试凹槽可调式SOT26测试夹的应用，应用步骤为：步骤一、SOT26的压入：将SOT26的SOT26封装体压入测试夹的夹口内，压入过程中，活动夹相对于固定夹顺时针旋转，夹口的宽度逐渐增大，夹口宽度调节弹簧被逐渐压缩，直至SOT26封装体完全压入测试夹的夹口内，并保持压入式固定；步骤二、SOT26的测试：对SOT26的各个引脚接触测试片进行逐个测试；步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，吸嘴上的SOT26产品在真空及顶杆的上顶作用下，将SOT26顶出，夹口宽度调节弹簧回位，夹口的宽度恢复初始宽度；步骤四、重复步骤一至三，测试另外的SOT26。采用单边活动夹动作，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆，以防止产品卡在夹口内，达到自动防叠料的目的；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26双重保护和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，同时基本消除了叠料的隐患，达到了一举双得的效果。3.有益效果采用本技术提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：(1)本技术的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，进而达到提高SOT26的测试平均良率的目的；(2)本技术的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，由于SOT26的整体尺寸较小(个位数毫米级)，无需实现大的宽度调节，只要固定夹和活动夹之间保留狭小的缝隙即可实现所需要的夹口的宽度调节，因此，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，即能实现夹口的宽度的微调节；(3)本技术的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，活动夹和固定夹之间间隙呈“L”形，实现了凹半圆柱以凸半圆柱为轴的小角度旋转；(4)本技术的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，夹口宽度调节弹簧的设置，实现了SOT26测试完成后夹口宽度的复位，并能够实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹(1)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(3)的宽度调节。

【技术特征摘要】
1.一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹(1)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(3)的宽度调节。2.根据权利要求1所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述旋转装置为固定夹(1)、活动夹(2)正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱(12)、凹半圆柱(22)；所述活动夹(2)通过凹半圆柱(22)挂在固定夹(1)的凸半圆柱(12)上，凹半圆柱(22)以凸半圆柱(12)为轴旋转。3.根据权利要求2所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述固定夹(1)呈倒“T”字形状；所述活动夹(2)挂在固定夹(1)的中部凸台的一侧，并和固定夹(1)之间留有“L”形旋转间隙(9)。4.根据权利要求3所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述活动夹(2)的下半部分，凹半圆柱(22)的下部设置有水平方向的弹簧容腔(25)，内置水平方向的夹口宽度调节弹簧(23)。5.根据权利要求3所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述固定夹(1)中间内部设置竖直方向的顶杆容腔(15)，由下至...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国祥，吴靖宇，叶金锋，蒋节文，孙超，
申请(专利权)人：长电科技滁州有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34