装配印刷电路板测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种装配印刷电路板测试装置，包括：测试平台、针床模块、检测模块和转换模块，测试平台用于固定待测试PCBA；针床模块与测试平台相对设置，针床模块包括：若干个测试探针；检测模块与针床模块上的测试探针连接，用于在测试探针与待测试PCBA上相匹配的测试点电连接时，对待测试PCBA进行检测；转换模块包括：若干条导电线路，导电线路包括：第一连接端子和第二连接端子,第一连接端子和第二连接端子位于转换模块的相对侧，第一连接端子与待测试PCBA上的一个测试点对应设置，第二连接端子与与其电连接的第一连接端子相对应的测试点所匹配的测试探针对应设置。本实用新型专利技术提供的PCBA测试装置能够满足多种类型PCBA的测试需求，具备较高的通用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及显示
，特别涉及一种装配印刷电路板测试装置。
技术介绍
装配印刷电路板(PrintedCircuitBoardAssembly，简称PCBA)，即印刷电路板(PrintedCircuitBoard，简称PCB)通过表面组装技术(SurfaceMountTechnology，简称SMT)上件，再经过双列直插式封装技术(DualInline-PinPackage，简称DIP)插件之后得到的经焊接并组装好电子元件的PCB。目前，PCBA的测试是电子制造领域中的重要环节，它可以判断被测对象是否实现了初始设计目标。对PCBA的测试可以降低板卡和装置的出厂故障率，是提高产品质量的重要手段，因此，PCBA的测试也越来越受到各大公司的重视。为了保证PCBA的质量，通常使用PCBA测试装置对PCBA进行检测。采用传统的针床工装对PCBA的测试时，通过驱动结构驱动PCBA和/或测试平台进行移动，使固定在测试平台上的测试探针与PCBA上的测试点接触，然后通过探针向PCBA的测试点提供测试信号，从而检测PCBA的功能。在实际应用中，由于测试平台与测试探针是一体的，即测试探针在测试平台上的位置和分别是固定，然而不同型号/尺寸的PCBA上的测试点的分布情况不同，因此需要针对每一类型的PCBA均设计出对应的一套PCBA测试工装，以满足PCBA测试工装上的探针头能够与PCBA上的测试点相对应。由上述内容可见，当产品的PCBA种类过多时，使用传统针床工装进行测试，需要很高的设计成本、工装存放空间以及工装维护成本。因此，提供一种通用性较高的测试工装以满足多种类型的PCBA测试需求，是本领域亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种PCBA测试装置。为实现上述目的，本技术提供了一种装配印刷电路板测试装置，包括：测试平台，用于固定待测试装配印刷电路板；针床模块，与所述测试平台相对设置，所述针床模块包括：若干个测试探针；检测模块，与所述针床模块上的所述测试探针连接，用于在所述测试探针与所述待测试装配印刷电路板上相匹配的测试点电连接时，对所述待测试装配印刷电路板进行相应的检测；转换模块，包括：若干条导电线路，所述导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,所述第一连接端子和所述第二连接端子位于所述转换模块的相对侧，所述第一连接端子与所述待测试装配印刷电路板上的一个所述测试点对应设置，所述第二连接端子与与其电连接的所述第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有若干个路径测试点组，每个所述路径测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一条导电路径，所述路径测试点组包括：扫描信号输入测试点和扫描信号输出测试点；所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个路径测试探针组，所述路径测试探针组与所述路径测试点组一一对应，所述路径测试探针组包括：与所述扫描信号输入测试点相匹配的扫描信号输入测试探针和与所述扫描信号输出测试点相匹配的扫描信号输出测试探针；所述检测模块包括：路径检测单元，所述路径检测单元与所述扫描信号输入测试探针和所述扫描信号输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各导电路径是否异常。可选地，所述路径检测单元包括：扫描信号输入子单元，与各所述扫描信号输入测试探针连接，用于依次逐个地向各所述扫描信号输入测试探针输入扫描信号；扫描信号检测子单元，与各所述扫描信号输出测试探针连接，用于在所述扫描信号输入子单元向一个所述扫描信号输入测试探针输入所述扫描信号时，检测各所述信号输出测试探针是否输出有所述扫描信号；路径判断子单元，与所述扫描信号检测子单元连接，用于根据所述扫描信号检测子单元的检测结果判断所述待测试装配印刷电路板中的导电路径是否异常，其中，若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针没有输出所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径存在断路；若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针不属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针输出有所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径与其他导电路径电连接。可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有晶振测试点，所述针床模块中与所述晶振测试点相匹配的测试探针为晶振测试探针；所述检测模块包括：晶振检测单元，所述晶振检测单元与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振是否异常。可选地，所述晶振检测单元包括：频率计数器，与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振的工作频率；频率判断子单元，与所述频率计数器连接，用于判断所述工作频率是否处于预设频率范围之内，其中，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之内，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振正常，若判断出所述工作频率处于所述预设频率范围之外，则检测出所述待测试装配印刷电路板中的晶振异常。可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置若干个压降测试点组，每个所述压降测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一个防静电二极管，所述压降测试点组包括：基准电压输入测试点和实际电压输出测试点；所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个压降测试探针组，所述压降测试探针组与所述压降测试点组一一对应，所述压降测试探针组包括：与所述基准电压输入测试点相匹配的基准电压输入测试探针和与所述实际电压输出测试点相匹配的实际电压输出测试探针；所述检测模块包括：压降检测单元，所述压降检测单元与所述基准电压输入测试探针和所述实际电压输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各防静电二极管的工作压降是否异常。可选地，所述压降检测单元包括：基准电压输入子单元，与各所述基准电压输入测试探针连接，用于向所述基准电压输入测试探针输入基准电压；实际电压检测子单元，与各所述实际电压输出测试探针连接，用于检测各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压；压降计算子单元，与所述实际电压检测子单元连接，用于根据所述基准电压和各所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压计算出各所述防静电二极管的工作压降，其中，所述防静电二极管的工作电压等于其自身对应的压降测试探针组中的所述基准电压输入测试探针所输入的基准电压与所述实际电压输出测试探针所输出的实际电压之差；压降判断子单元，与所述压降计算子单元连接，用于判断所述防静电二极管的所述工作压降是否处于预设压降范围之内，其中，若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之内，则检测出所述防静电二极管工作正常；若判断出所述防静电二极管的所述工作压降处于预设压降范围之外，则检测出所述防静电二极管工作异常。可选地，所述待测试装配印刷电路板上设置有电压测试点，所述电压测试点与所述待测试装配印刷电路板中的预设位置处电连接，所述针床模块中与所述电压测试点相匹配的测试探针为电压测试探针；所述检测模块包括：电压检测单元，所述电压检测单元与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种装配印刷电路板测试装置，其特征在于，包括：测试平台，用于固定待测试装配印刷电路板；针床模块，与所述测试平台相对设置，所述针床模块包括：若干个测试探针；检测模块，与所述针床模块中的所述测试探针连接，用于在所述测试探针与所述待测试装配印刷电路板上相匹配的测试点电连接时，对所述待测试装配印刷电路板进行相应的检测；转换模块，包括：若干条导电线路，所述导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,所述第一连接端子和所述第二连接端子位于所述转换模块的相对侧，所述第一连接端子与所述待测试装配印刷电路板上的一个所述测试点对应设置，所述第二连接端子与与其电连接的所述第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。

【技术特征摘要】
1.一种装配印刷电路板测试装置，其特征在于，包括：测试平台，用于固定待测试装配印刷电路板；针床模块，与所述测试平台相对设置，所述针床模块包括：若干个测试探针；检测模块，与所述针床模块中的所述测试探针连接，用于在所述测试探针与所述待测试装配印刷电路板上相匹配的测试点电连接时，对所述待测试装配印刷电路板进行相应的检测；转换模块，包括：若干条导电线路，所述导电线路包括：一个第一连接端子和一个第二连接端子,所述第一连接端子和所述第二连接端子位于所述转换模块的相对侧，所述第一连接端子与所述待测试装配印刷电路板上的一个所述测试点对应设置，所述第二连接端子与与其电连接的所述第一连接端子相对应的测试点所匹配的一个测试探针对应设置。2.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置有若干个路径测试点组，每个所述路径测试点组对应所述待测试装配印刷电路板中的一条导电路径，所述路径测试点组包括：扫描信号输入测试点和扫描信号输出测试点；所述针床模块中的至少部分测试探针被划分为若干个路径测试探针组，所述路径测试探针组与所述路径测试点组一一对应，所述路径测试探针组包括：与所述扫描信号输入测试点相匹配的扫描信号输入测试探针和与所述扫描信号输出测试点相匹配的扫描信号输出测试探针；所述检测模块包括：路径检测单元，所述路径检测单元与所述扫描信号输入测试探针和所述扫描信号输出测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的各导电路径是否异常。3.根据权利要求2所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述路径检测单元包括：扫描信号输入子单元，与各所述扫描信号输入测试探针连接，用于依次逐个地向各所述扫描信号输入测试探针输入扫描信号；扫描信号检测子单元，与各所述扫描信号输出测试探针连接，用于在所述扫描信号输入子单元向一个所述扫描信号输入测试探针输入所述扫描信号时，检测各所述信号输出测试探针是否输出有所述扫描信号；路径判断子单元，与所述扫描信号检测子单元连接，用于根据所述扫描信号检测子单元的检测结果判断所述待测试装配印刷电路板中的导电路径是否异常，其中，若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针没有输出所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径存在断路；若所述扫描信号检测子单元检测出与输入有所述扫描信号输入测试探针不属于同一所述路径测试探针组的所述信号输出测试探针输出有所述扫描信号时，则判断出所述待测试装配印刷电路板中的与输入有所述扫描信号的所述扫描信号输入测试探针相对应的导电路径与其他导电路径电连接。4.根据权利要求1所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述待测试装配印刷电路板上设置有晶振测试点，所述针床模块中与所述晶振测试点相匹配的测试探针为晶振测试探针；所述检测模块包括：晶振检测单元，所述晶振检测单元与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振是否异常。5.根据权利要求4所述的装配印刷电路板测试装置，其特征在于，所述晶振检测单元包括：频率计数器，与所述晶振测试探针连接，用于检测所述待测试装配印刷电路板中的晶振的工作频率；频率判断子单元，与所述频率计数器连接，用于判断所述工作频率是否处于预设频率范围之内，其中，若判断出所述工作频率处于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李琨，程律，马韬，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34