一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，所述方法包括：获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及校准
，更具体的说，涉及一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。
技术介绍
液晶显示模组总会存在一定程度的闪烁现象，闪烁值过大会造成观察者的视觉疲劳和不适，因此液晶显示模组在出厂前需要进行闪烁度调节，将闪烁度控制在预定的范围内，有利于用户的观看和护眼。目前，使用液晶显示模组闪烁度测试仪测试液晶显示模组的闪烁度时，通常是员工通过观测测试仪的数值来手动调节液晶显示模组的参数，在确认参数是最佳值后，将其写入到液晶显示模组中。此调节方法步骤繁多，而且由于大多步骤是手动操作，存在误判与误操作风险，且对员工的专业技能要求较高。因此，亟需一种效率更高，更加可靠的液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种效率更高，更加可靠的液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，所述方法包括：获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。进一步的，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值的步骤之前还包括，初始化液晶显示模组；确认液晶显示模组工作状态是否正常；若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。进一步的，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤之后还包括，测试液晶显示模组的闪烁度值。进一步的，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。进一步的，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，包括：主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示模组的闪烁度感应单元，与闪烁度感应单元相连的运算放大器，与运算放大器相连的滤波器，与滤波器相连的模数转换器，所述主控芯片还与液晶显示模组相连，其中，所述主控芯片包括：获取模块，用于获取液晶显示模组的闪烁度原始值；处理模块，用于计算液晶显示模组的闪烁度最优值；第一测试模块，用于判断闪烁度最优值是否为最优化；写入模块，若计算的闪烁度最优值为最优化，则用于将最优值烧录到液晶显示模组中；第二测试模块，用于判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。进一步的，所述主控芯片还包括：初始化模块，用于初始化液晶显示模组；液晶测试模块，用于确认液晶显示模组工作状态是否正常；对焦模块，用于若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦；其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。进一步的，所述主控芯片还包括：闪烁检测模块，用于测试液晶显示模组的闪烁度值；其中，所述闪烁检测模块与处理模块和第一测试模块相连。进一步的，所述闪烁度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。进一步的，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。本专利技术相对于现有技术来说具有以下有益效果：现有技术中，有通过人工观测液晶显示模组测试仪的数值来手动调节液晶显示屏的参数，在确认参数是最佳值后，将其固化在液晶显示屏中，此调节方法步骤繁多，而且由于大多步骤是手动操作，存在误判与误操作风险，且对员工的专业技能要求较高；或者使用液晶显示屏闪烁度测试仪测试液晶显示屏的闪烁度，其测得的值会由主控处理，主控会自动调整液晶显示屏的参数，并在闪烁度最优化后将参数固化在液晶显示屏中，但是闪烁度测试仪的成本与维护费用昂贵，且主控无法对液晶显示屏的工作状态及烧录后的数值进行确认，存在了一定的风险性。本专利技术中，由于方法包括，获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。这样，就可以通过闪烁度感应单元测试得到液晶显示模组的闪烁度值，然后将这个数值发送给主控芯片，主控芯片在获取到闪烁度原始值后，就会根据获取的众多闪烁度原始值进行计算得到液晶显示模组的闪烁度最优值，然后，主控芯片就会判断闪烁度最优值是否为最优化，如果为最优化就将计算得到的最优值烧录到液晶显示模组中，之后，主控芯片会从液晶显示模组中检测烧录的闪烁度最优值是否与计算得到最优值相同，若是相同的，则就完成了本次校准，若检测烧录的闪烁度最优值与计算得到最优值不相同，则会进行重新烧录，直到烧录值与计算得到的最优值相同，即可完成本次校准，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准，而且在烧录闪烁度最优值后，还进行检测烧录值的步骤，这样就大大降低了烧录出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。附图说明图1是本专利技术实施例一的液晶显示模组闪烁度的校准方法的流程图；图2是本专利技术实施例二的液晶显示模组闪烁度的校准方法的流程图；图3是本专利技术实施例三的液晶显示模组闪烁度的校准装置的示意图；图4是本专利技术实施例三的主控芯片的示意图；图5是本专利技术实施例三的升降平台的示意图；图6是本专利技术实施例三的主控芯片第一部分的原理图；图7是本专利技术实施例三的主控芯片第二部分的原理图；图8是本专利技术实施例三的主控芯片第三部分的原理图；图9是本专利技术实施例三的主控芯片第四部分的原理图；图10是本专利技术实施例三的主控芯片第五部分的原理图。其中：10、主控芯片，11、获取模块，12、处理模块，13、第一测试模块，14、写入模块，15、第二测试模块,16、烧录检测模块。17、闪烁检测模块，18、初始化模块，19、液本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，所述方法包括：获取液晶显示模组的闪烁度原始值；计算液晶显示模组的闪烁度最优值；判断闪烁度最优值是否为最优化；若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特征在于，所述方法包括：
获取液晶显示模组的闪烁度原始值；
计算液晶显示模组的闪烁度最优值；
判断闪烁度最优值是否为最优化；
若计算的闪烁度最优值为最优化，则将最优值烧录到液晶显示模组中；
判断烧录的烧录值是否正确，若正确，则结束。
2.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特
征在于，在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值的步骤之前还包括，
初始化液晶显示模组；
确认液晶显示模组工作状态是否正常；
若液晶显示模组工作状态正常，则将闪烁度感应单元与所述液晶模组
进行对焦。
3.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特
征在于，在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤之后还包括，
测试液晶显示模组的闪烁度值。
4.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特
征在于，所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮
暗变化获取；并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪
烁度信号进行滤波，生成闪烁度模拟信号，通过模数转换器将闪烁度模拟
信号转换为直流信号。
5.根据权利要求1所述的一种液晶显示模组闪烁度的校准方法，其特
征在于，使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通
过GPIO口与液晶显示模组相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相
连，所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。
6.一种液晶显示模组闪烁度的校准装置，其特征在于，包括：
主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示模组的闪烁度
感应单元，与闪烁度感应单元相连的运算放大器，与运算...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪海涛，王俊杰，
申请(专利权)人：浙江新力光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33