分析系统可以包括测试和测量工具以及成像工具两者，所述测试和测量工具用于生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据，所述成像工具用于生成表示目标场景的图像数据。电气隔离机构可以使操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。电气隔离机构可以包括围绕成像工具的至少一部分并且具有靠近成像工具的开口使得电磁辐射可以通过开口进入并且到达成像工具的绝缘涂层。开口的尺寸可被设置为使得标准手指不能穿过开口到成像工具的预定距离内。另外地或可替代地，定位在开口上方的窗口可以防止通过开口接近成像工具。
【技术实现步骤摘要】
交叉引用本申请要求2015年9月16日提交的编号为62/219415的美国临时申请的权益，该临时申请的内容据此通过引用以其整体并入本文中。
本公开通常涉及能够耐高电压的电子测试工具以及相关成像工具。
技术介绍
关于系统组件参数的各种信息在分析单个组件的性能、操作条件、寿命和其他各种方面时可能是有用的。一些这样的信息包括可测量的量，例如电流、电压、功率、阻抗、振动等。对系统组件的分析可以提供系统可被改善的方式的深刻理解，例如，通过修复或更换故障或其他非最佳组件。各种测试和测量工具能够执行这种测量，并且常常用于分析这些组件。在一些情况下，当分析电气设备时，危险的高电压有时可能存在于分析仪器内电路的各个部分中。存在用于保护用户免于接触到这些电压的标准和惯例，例如任何潜在高电压部分和用户之间的固体绝缘。在一些示例中，附加的信息可能有助于分析此类组件。例如，成像技术(诸如红外成像)可以提供有用的附加信息。系统或其组件的红外成像可以提供场景的热图案，突出系统组件中的温度异常。这种成像可以用于诊断类似或不同的问题，这些问题可以通过使用如上文所讨论的标准测试和测量工具来检测或以其他方式分析。由于在电气环境中热成像应用的出现，有必要使操作员在观察时保持在距电路的安全距离处。在一些情况下，公司已经开发出用于开关装置柜的光学窗口，以能够与高电压物理隔离但允许光学测量。如果用户同时执行成像和其他分析(例如，电气测量分析)，那么可能出现成像装置接触到或靠近潜在高电压环境的情况。因此，为了保护用户免于通过成像装置接触到潜在危险信号，附加安全措施可能是必需的。
技术实现思路
本公开的各方面针对用于提供组合测试和测量分析与成像分析同时向用户提供足够的安全的系统和方法。本公开中的实施例包括系统，其包括测试和测量工具，所述测试和测量工具包括测试和测量电路，并且被配置为生成表示被测物体的至少一个参数的测量数据。系统可以进一步包括成像工具，其被配置为生成表示目标场景的图像数据。在各种实施例中，成像工具可以包括红外(IR)成像工具和/或可见光(VL)成像工具。示例性系统可以包括封闭测试和测量工具以及成像工具的壳体，并且包括允许电磁辐射进入壳体以使得成像工具接收电磁辐射的孔。系统可以包括至少一个电气隔离机构，其被配置和布置为使得操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。在一些示例中，电气隔离机构包括围绕成像工具的至少一部分并且具有靠近成像工具的开口的绝缘涂层。在一些这样的示例中，电磁辐射可以进入开口并且到达成像工具。然而，在一些实施例中，绝缘涂层中的开口的尺寸被设置为使得标准手指不能穿过开口到成像工具的预定距离内。在一些示例中，标准手指和预定距离满足IEC61010标准。例如，在一些实施例中，开口防止具有标准尺寸的物体(例如，由IEC定义)来到成像工具的预定距离内。例如，预定距离可以是基于测试和测量电路的最大额定电压。另外地或可替代地，在一些示例中，系统包括基本上覆盖涂层中开口的窗口。窗口可以防止用户(例如用户的手指)进入壳体以及来到成像工具的预定距离内。在一些这样的实施例中，窗口可以提供电绝缘性能，以至少部分地保护用户免受来自成像工具的电击。因此，在一些这样的示例中，包括这种窗口的实施例中的预定距离可以小于不包括窗口的实施例中的预定距离。一个或多个示例的细节在以下附图和描述中进行了阐述。根据描述、附图以及根据权利要求，其他特征、目的和优点将显而易见。附图说明图1A和1B提供了包括测试和测量工具以及成像工具的示例性系统的前视图和后视图。图2是包括各种组件的测试和测量工具的示例性示意图。图3示出了根据一些示例性系统的被配置用于接收电磁辐射的成像工具的示例性框图。图4示出了示例性成像工具的横截面图，所述成像工具被配置为减少成像工具对用户的电击风险。图5示出了组合工具中可替代的示例性成像工具的横截面图，所述成像工具被配置为减少成像工具对用户的电击风险。具体实施方式本公开的各方面通常涉及提供组合成像以及测试和测量工具中用于用户安全的电气隔离的系统和方法。测试和测量工具通常可以能够确定被测装置的至少一个参数。示例性测试和测量工具可以包括，但不限于，数字万用表、电流测量工具、电能质量工具、振动工具、便携式示波器工具、激光准直工具、超声测试工具、绝缘电阻测试仪、多功能电测试工具、单功能电测试工具、接触式温度测量工具、湿度测量工具、空气流动测量工具、空气温度测量工具、空气质量和颗粒测量工具等。在一些实施例中，一个或多个这样的测试和测量工具可以产生和/或测量在没有适当保护的情况下对测试和测量工具的操作员不安全的电信号。一个或多个成像装置可以与测试和测量工具相集成或者以其他方式附接或可附接到测试和测量工具，例如编号为14/855884的题为“TESTANDMEASUREMENTSYSTEMWITHREMOVABLEIMAGINGTOOL”的美国专利申请(现在公布为美国专利申请号2016/0080666)或编号为14/855844的题为“METHODOFATTACHINGCAMERAORIMAGINGSENSORTOTESTANDMEASUREMENTTOOLS”的美国专利申请(现在公布为美国专利申请号2016/0076936)中所述，这两个美国专利申请中的每个都是于2015年9月16日提交的，其被分配给本申请的受让人，并据此通过引用以其整体并入本文。在各种示例中，与测试和测量工具相连接的成像工具可以对各种波长中的任意波长敏感。示例性成像组件可以包括传感器，其可以检测可见、近红外(NIR)、短波长红外(SWIR)、长波长红外(LWIR)、太赫兹(THz)、紫外(UV)、X射线或其他波长。在一些实施例中，成像组件可以包括一个或多个成像传感器，例如，红外(IR)和可见光(VL)相机。图1A和1B提供了包括测试和测量工具以及成像工具的示例性系统的前视和后视图。图1A和1B的实施例包括组合为单个组合工具120的测试和测量工具100以及成像工具110。在所图示的实施例中，测试和测量工具100包括后表面102，成像工具110通过该后表面102接收来自目标场景的辐射。在一些示例中，成像工具110可以包括多个感测组件。例如，成像工具110可以包括红外(IR)相机和可见光(VL)相机中的两者或其一。将理解的是，各种成像工具(例如110)可以包括能够检测多种波长的适当传感器的任意组合。在图1A和1B的示例中，成像工具110被集成到测试和测量工具100中。即，图1的系统示出了具有集成测试和测量工具100以及成像工具110的组合工具120。成像工具110包括能够检测在一个或多个波长范围内的辐射的相机。如前所述，成像工具110可以包括用于检测不同波长谱中辐射的多个相机。在一些示例中，成像工具可以包括多个传感器阵列，每个传感器阵列对不同的波长范围敏感。一些这样的实施例包括光学器件，所述光学器件用于分离入射到成像工具的光以及基本上引导一定波长范围内的光到相应传感器阵列。图1A和1B的组合工具120可以被配置为基本上同时生成图像数据和测量数据。在一些示例中，组合工具120包括能够呈现图像数据、测量数据或其他信息中的一个或多个的显示器108。另外地或可替代地，测本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分析系统，包括：测试和测量工具，其包括测试和测量电路，所述测试和测量电路被配置为与被测装置相连接以及生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据；成像工具，其附接到测试和测量工具，并且被配置为接收来自目标场景的电磁辐射以及生成表示目标场景的图像数据；封闭测试和测量工具以及成像工具的壳体，所述壳体包括用于允许电磁辐射进入壳体以使得成像工具接收电磁辐射的孔；处理器，其与测试和测量工具的测试和测量电路以及成像工具进行通信并且被配置为接收和处理测量数据和图像数据；以及至少一个电气隔离机构，其被配置和布置为使得操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。
【技术特征摘要】
2015.09.16 US 62/2194151.一种分析系统，包括：测试和测量工具，其包括测试和测量电路，所述测试和测量电路被配置为与被测装置相连接以及生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据；成像工具，其附接到测试和测量工具，并且被配置为接收来自目标场景的电磁辐射以及生成表示目标场景的图像数据；封闭测试和测量工具以及成像工具的壳体，所述壳体包括用于允许电磁辐射进入壳体以使得成像工具接收电磁辐射的孔；处理器，其与测试和测量工具的测试和测量电路以及成像工具进行通信并且被配置为接收和处理测量数据和图像数据；以及至少一个电气隔离机构，其被配置和布置为使得操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。2.权利要求1的分析系统，其中所述至少一个电气隔离机构包括围绕成像工具的至少一部分并且具有靠近成像工具的开口使得电磁辐射可以进入开口并且到达成像工具的绝缘涂层。3.权利要求2的分析系统，其中绝缘涂层中的开口的尺寸被设置为使得标准手指不能穿过开口到成像工具的预定距离内。4.权利要求3的分析系统，其中标准手指和预定距离满足IEC61010标准。5.权利要求2的分析系统，进一步包括基本上覆盖靠近成像工具的绝缘涂层中的开口的窗口。6.权利要求5的分析系统，其中窗口被定位为距成像工具至少第一距离。7.权利要求6的分析系统，其中第一距离取决于窗口的电气特性以及测试和测量电路的额定电压。8.权利要求5的分析系统，其中成像工具包括红外相机模块，并且其中窗口包括红外透射材料。9.权利要求8的分析系统，其中成像工具进一步包括可见光相机模块，并且其中窗口基本上对可见光透明。10.权利要求5的分析系统，其中窗口与电隔离材料的导热部分进行热连通。11.权利要求1的分析系统，其中成像工具可拆装地附接到测试和测量工具。12.一种分析系统，包括：测试和测量工具，其包括测试和测量电路，所述测试和测量电路被配置为与被测装置相连接以及生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据；成像工具，其附接到测试和测量工...
【专利技术属性】
技术研发人员：P·A·林斯拉，C·N·休伯，D·N·基尔斯利，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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