针对具有偏摆的旋转体的旋转体检测传感器的控制装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及针对具有偏摆(run‑out)的旋转体的旋转体检测传感器的控制装置及方法。所述本发明专利技术的针对具有偏摆(run‑out)的旋转体的旋转体检测传感器的控制方法的特征在于，包括如下步骤:通过模式识别部，以在已设定的时间内所测定的旋转体的磁束密度为根据来识别最大值模式；通过模式识别部，以磁束密度的最大值模式为根据来识别旋转体的凸出部的个数；以及通过开关电平设定部，利用凸出部的个数来设定磁束密度的开关电平，磁束密度具有与旋转体的凸出部的个数相对应的个数的最大峰值，对磁束密度的开关电平进行设定的步骤中，在与最大峰值所分别设定的百分比相对应的地点设定开关电平。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及针对具有偏摆(run-out)的旋转体的旋转体检测传感器的控制装置及方法。并且，本专利技术主张2014年10月7日申请的韩国专利申请第10-2014-0134915号的权利，其全部内容包含于本说明书中。
技术介绍
现有的旋转体检测传感器实现为利用霍尔(Hall)或磁阻(MR，MagnetoResistive)效果的方式。换句话说，现有的旋转体检测传感器在旋转时通过对磁束密度值与基准值进行比较，从而实现为打开(on)或关闭(off)的方式，所述磁束密度值根据齿形或极性而变化。在此，为了提高精准度而考虑旋转体和检测传感器之间的气隙(Air-gap)及旋转体的速度等，从而能够试验性地决定基准值。并且，初始旋转时为了快速应答性而以任意输入的基准值进行操作(TPO：真实电源开启(TruePowerOn))，此时的基准值设定考虑根据气隙而变化的磁束密度值，从而设定为稳定性较高，而精准度较低。在只利用一个基准值的情况下，由于具有偏摆的旋转体而磁束密度值不稳定的状况下发生如下问题。首先，在一个的基准值较高的情况下，可能发生信号的稳定性下降。相反，在一个的基准值较低的情况下，信号的精准度可能降低。与此相关地，存在专利技术名称为“旋转状态检测装置”的韩国公开专利第2012-0109367号。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种旋转体检测传感器控制装置及方法，所述装置即使在所述的条件下也能够用于保持传感器的稳定性和精准度。为了解决所述课题，本专利技术的针对具有偏摆(run-out)的旋转体的旋转体检测传感器的控制方法的特征在于，包括如下步骤：通过模式(Pattern)识别部，以在已设定的时间内所测定的旋转体的磁束密度为根据来识别最大值模式；通过模式识别部，以磁束密度的最大值模式为根据来识别旋转体的凸出部的个数；以及通过开关电平设定部，以凸出部的个数来设定磁束密度的开关电平，磁束密度具有与旋转体的凸出部的个数相对应的个数的最大峰值，就对磁束密度的开关电平进行设定的步骤而言，在与最大峰值所分别设定的百分比相对应的地点设定开关电平。此外，本专利技术的旋转体检测传感器的控制方法还包括如下步骤：通过信号产生部，以所述开关电平为根据来输出针对所述最大峰值的传感器信号，传感器信号可包括高(high)及低(low)状态。此外，输出传感器信号的步骤能够通过如下方式实现：在传感器信号为高状态的情况下，磁束密度到达开关电平时，将高状态的传感器信号转换为低状态的传感器信号，并在传感器信号为低状态的情况下，磁束密度到达开关电平时，将低状态的传感器信号转换为高状态的传感器信号。此外，本专利技术的旋转体检测传感器的控制方法还可包括如下步骤：通过判断部，判断是否对旋转体的凸出部的个数进行了正确识别。此外，判断是否对旋转体的凸出部的个数进行了正确识别的步骤可通过如下方式来实现：对预先存储于存储部的凸出部的个数信息以及在对旋转体的凸出部个数进行识别的步骤中所识别的凸出部的个数进行比较。此外，判断是否对旋转体的凸出部的个数进行了正确识别的步骤可通过如下方式来实现：对通过在已设定的时间内识别最大值模式的步骤所导出的最大值模式进行相互比较。此外，本专利技术的旋转体检测传感器的控制方法还可包括如下步骤：通过开关电平设定部，对所设定的开关电平中大小最小的开关电平最低值进行识别。此外，本专利技术的检测传感器的控制方法还可包括如下步骤：通过判断部，比较所述开关电平最低值与TPO(TruePowerOn)开关电平是否相同，TPO开关电平在执行设定开关电平的步骤前，可以是适用于磁束密度的初始开关电平。此外，在比较开关电平最低值与TPO(TruePowerOn)开关电平是否相同的步骤中的比较结果，开关电平最低值与TPO开关电平不同时，能够以开关电平最低值为根据来更新所述TPO开关电平。此外，本专利技术的旋转体检测传感器的控制方法还可包括如下步骤：通过补偿部，对因温度变化所致的磁束密度变化进行补偿。为了解决所述课题，本专利技术的针对具有偏摆的旋转体的旋转体检测传感器的控制装置的特征在于，包括：模式识别部，其以已设定的时间内所测定的旋转体的磁束密度为根据识别最大值模式，并以磁束密度的最大值模式为根据对旋转体的凸出部的个数进行识别；以及开关电平设定部，其以凸出部的个数来设定磁束密度的开关电平，磁束密度具有与旋转体的凸出部的个数相对应的个数的最大峰值，开关电平设定部在与各个最大峰值上已设定的百分比相对应的地点设定开关电平。此外，本专利技术的旋转体检测传感器控制装置还可包括信号产生部，所述信号产生部以开关电平为根据来输出针对最大峰值的传感器信号。此外，信号产生部可以通过如下方式输出传感器信号：在传感器信号为高状态的情况下，当磁束密度到达开关电平时，将高状态的传感器信号转换为低状态的传感器信号，而在传感器信号为低状态的情况下，当磁束密度到达开关电平时，将低状态的传感器信号转换为高状态的传感器信号。此外，本专利技术的旋转体检测传感器控制装置还可包括判断部，所述判断部判断旋转体的凸出部的个数是否得到了正确识别。此外，判断部通过对预先存储于存储部的凸出部的个数信息以及模式识别部所识别的凸出部的个数进行比较，从而能够判断旋转体的凸出部的个数是否得到了正确识别。此外，判断部通过对已设定的时间内通过模式识别部所导出的最大值模式进行相互比较，从而能够判断旋转体的凸出部的个数是否得到了正确识别。此外，开关电平设定部能够进一步识别所设定的开关电平中大小最小的开关电平的最低值。此外，判断部进一步比较开关电平最低值与TPO开关电平是否相同，当开关电平最低值与TPO开关电平不同时，能够以开关电平最低值为根据来更新TPO开关电平。此外，本专利技术的旋转体检测传感器控制装置还可包括补偿部，所述补偿部对因温度变化所致的磁束密度变化进行补偿。根据本专利技术的旋转体检测传感器控制装置及方法，其效果在于，能够提高具有偏摆的旋转体检测传感器的精准度及稳定性。此外，根据本专利技术的旋转体检测传感器控制装置及方法，其效果在于，旋转体检测传感器对旋转体进行检测时，利用各自不同的开关电平来提高旋转体检测能力，且由此易于旋转体偏摆的加工，从而能够降低旋转体的制造成本。根据本专利技术的旋转体检测传感器控制装置及方法，其效果在于，随着适用自适应(Adaptive)TPO，初始旋转时传感器精准度及稳定性能够得到提高。附图说明图1是用于对根据本专利技术的一个实施例的旋转体、传感器及旋转体检测传感器控制装置的关系进行说明的图。图2是根据本专利技术的一个实施例的旋转体检测传感器控制装置的框图。图3是用于对根据本专利技术的一个实施例的旋转体检测传感器控制方法进行说明的图表。图4是根据本专利技术的一个实施例的旋转体检测传感器控制方法的流程图。具体实施方式参照附图对本专利技术进行如下详细说明。在此，对反复的说明、可能不必要地混淆本专利技术的主旨的公知功能及结构的详细说明进行省略。本专利技术的实施形态是为了向业内具备通常知识的人员更为完整地说明本专利技术而提供的。由此，附图中要素的形状及大小等为了更明确的说明而可能得到夸张。以下，对根据本专利技术的实施例的旋转体检测传感器控制装置100进行说明。图1是用于对根据本专利技术的一个实施例的旋转体、传感器及旋转体检测传感器控制装置的关系进行说明的图。在此，旋转体1包括多个凸出部。例如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种旋转体检测传感器的控制方法，其涉及针对具有偏摆的旋转体的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，包括如下步骤：通过模式识别部，以在已设定的时间内所测定的所述旋转体的磁束密度为根据来识别最大值模式；通过模式识别部，以所述磁束密度的最大值模式为根据来识别所述旋转体的凸出部的个数；以及通过开关电平设定部，利用所述凸出部的个数来设定所述磁束密度的开关电平，所述磁束密度具有与所述旋转体的凸出部的个数相对应的个数的最大峰值，对所述磁束密度的开关电平进行设定的步骤中，在与所述最大峰值所分别设定的百分比相对应的地点设定开关电平。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.07 KR 10-2014-01349151.一种旋转体检测传感器的控制方法，其涉及针对具有偏摆的旋转体的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，包括如下步骤：通过模式识别部，以在已设定的时间内所测定的所述旋转体的磁束密度为根据来识别最大值模式；通过模式识别部，以所述磁束密度的最大值模式为根据来识别所述旋转体的凸出部的个数；以及通过开关电平设定部，利用所述凸出部的个数来设定所述磁束密度的开关电平，所述磁束密度具有与所述旋转体的凸出部的个数相对应的个数的最大峰值，对所述磁束密度的开关电平进行设定的步骤中，在与所述最大峰值所分别设定的百分比相对应的地点设定开关电平。2.根据权利要求1所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，还包括如下步骤：通过信号产生部，以所述开关电平为根据来输出针对所述最大峰值的传感器信号，所述传感器信号包括高及低状态。3.根据权利要求2所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，所述输出传感器信号的步骤中，在所述传感器信号为高状态的情况下，所述磁束密度到达所述开关电平时，将高状态的传感器信号转换为低状态的传感器信号，在所述传感器信号为低状态的情况下，所述磁束密度到达所述开关电平时，将低状态的传感器信号转换为高状态的传感器信号。4.根据权利要求1所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，还包括如下步骤：通过判断部，判断是否对所述旋转体的凸出部的个数进行了正确识别。5.根据权利要求4所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，判断是否对所述旋转体的凸出部的个数进行了正确识别的步骤中，对预先存储于存储部的凸出部的个数信息以及在对所述旋转体的凸出部的个数进行识别的步骤中所识别的凸出部的个数进行比较。6.根据权利要求4所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，判断是否对所述旋转体的凸出部的个数进行了正确识别的步骤中，对通过识别最大值模式的步骤所导出的最大值模式进行相互比较，所述识别最大值模式的步骤以在所述已设定的时间内所测定的所述旋转体的磁束密度为根据来识别最大值模式。7.根据权利要求1所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，还包括如下步骤：通过所述开关电平设定部，对所设定的开关电平中大小最小的开关电平，即，开关电平最低值进行识别。8.根据权利要求7所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，还包括如下步骤：通过判断部，比较所述开关电平最低值与TPO开关电平是否相同，所述TPO开关电平是适用于所述磁束密度的初始开关电平。9.根据权利要求8所述的旋转体检测传感器的控制方法，其特征在于，在比较所述开关电平最低值与TPO开关电平是否相同的步骤中，所述开关...

【专利技术属性】
技术研发人员：权禹荣，郑承均，
申请(专利权)人：现代凯菲克株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR