织机的纬纱检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及织机的纬纱检测装置，其防止纬纱的检测延迟。在光吸收系的纬纱的引纬时输出受光信号(Y2)。受光信号因黑纱吸收光，而导致信号电平比变形筘的受光信号(R)低。受光信号被低频除去滤波电路取出为高频信号(F)。在高频信号中，最初的受光信号(LF)在负侧产生。高频信号在被放大后输入全波整流电路，而取出全波整流信号(FR)。在全波整流信号中，高频信号的负的信号亦即最初的受光信号作为正的信号被转换成最初的全波整流信号(HR)。全波整流信号在比较器中被与阈值(S)进行比较。比较器与大于阈值的全波整流信号对应地输出纬纱检测信号，因此在负侧产生的最初的受光信号不产生延迟时间地被输出为最初的纬纱检测信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在织机中对被引纬的纬纱进行光学检测的纬纱检测装置。
技术介绍
专利文献1公开了在流体喷射式织机中通过光学检测机构对被引纬的纬纱进行检测的纬纱检测装置。纬纱检测装置具有检测部主体，该检测部主体具有能够供被设置于织布的纺织动作前附近的纬纱通过的缝隙。在检测部主体隔着缝隙设置有由具备发光二极管等发光元件的投光部以及具备光电二极管、光电晶体管等受光元件的受光部构成的光电传感器。纬纱检测装置的电路如下构成。投光部的发光元件被连接于驱动放大器，在纬纱检测期间，持续发光。受光部的受光元件被连接于运算放大器的输入侧。运算放大器被连接于微分电路，微分电路被连接于对信号进行放大的放大器。放大器被连接于增益变更电路，通过增益变更电路能够变更放大器的增益。若被引纬的纬纱通过检测部主体的缝隙，则从发光元件发出的光被遮挡，从而受光元件输出信号。受光元件的输出信号成为被运算放大器放大的信号并从运算放大器输出。运算放大器的输出信号的输出仅在光被遮挡的期间减少。微分电路输出与受光信号的变化率对应的微分信号。微分信号被输入比较器，而与比较器的基准电压进行比较。基准电压被设定为在纬纱通过缝隙时所得到的受光元件的信号电平以内且其他的杂波成分引起的输出以上的值。在被输入比较器的微分信号大于基准电压时，比较器输出纬纱检测信号。专利文献1：日本特开平8-337945号公报在专利文献1所公开的流体喷射式织机中，在以两种颜色以上的多色规格进行织造的情况下，在织造运转过程中，各种纬纱被引纬。若利用与使用了光学机构的纬纱检测装置的关系来大致区别纬纱，则例如存在如白纱那样容易反射光的光反射系的纬纱以及如黑纱那样容易吸收光的光吸收系的纬纱。使用朝向筘配设的由反射式光电传感器构成的纬纱检测装置，在引纬白纱以及黑纱的情况下，光电传感器输出图3所示的信号。在图3中，在白纱的情况下，由于反射光，所以入射至受光部的光的受光量较多，从而光电传感器的受光部输出成为比纬纱到达前的例如基于来自筘的反射光的受光信号R的信号电平高的信号电平的受光信号Y1。另一方面，在黑纱的情况下，由于光的吸收而使反射光变少，所以入射至受光部的入射光量较少，从而光电传感器的受光部输出成为比纬纱到达前的受光信号R的信号电平低的信号电平的受光信号Y2。此外，符号W表示基于来自经纱片的反射光的受光信号。另外，符号T表示纬纱到达光电传感器的位置的时刻，符号TL表示纬纱检测期间。通过白纱的引纬所得到的光电传感器的受光信号Y1如图4那样被处理为适用于专利文献1所公开的电路。在图4中，若纬纱在时刻T到达光电传感器的位置，则光电传感器的受光部在纬纱检测期间TL期间输出比纬纱到达前的受光信号R的信号电平高的信号电平的受光信号Y1。受光部的输出信号在微分电路中被微分，而输出高频信号A1。对于高频信号A1而言，由于受光部中的受光量较多，所以与纬纱到达了光电传感器的位置的时刻T同时被输出的最初的受光信号HA成为较高的信号电平，在正侧产生。从微分电路被输出的高频信号A1被放大器放大，而从放大器输出放大信号B1。另外，最初的受光信号HA被输出为正侧的放大信号HB。放大信号B1在比较器中被与阈值S进行比较。比较器输出与比阈值S高的电平的放大信号B1对应的纬纱检测信号C1。在放大信号B1中，由于与最初的受光信号HA对应的放大信号HB为比阈值S高的信号电平，所以比较器输出基于纬纱到达了光电传感器的位置的时刻T的最初被输出的受光信号HA的纬纱检测信号CA。另一方面，通过黑纱的引纬所得到的光电传感器的受光信号Y2如图5那样被处理为适用于专利文献1所公开的电路。在图5中，对于光电传感器的受光部而言，若纬纱在时刻T到达光电传感器的位置，则在纬纱检测期间TL期间输出比纬纱到达前的受光信号R的信号电平低的信号电平的受光信号Y2。受光部的输出信号在微分电路中被微分，而输出高频信号A2。对于高频信号A2而言，由于受光部中的受光量较少，所以与纬纱到达了光电传感器的位置的时刻T同时被输出的最初的受光信号LA成为较低的电平信号，并在负侧产生。从微分电路被输出的高频信号A2被放大器放大，而从放大器输出放大信号B2。另外，最初的受光信号LA被输出为负侧的放大信号LB。放大信号B2在比较器中被与阈值S进行比较。比较器输出与比阈值S高的电平的放大信号B2对应的纬纱检测信号C2。然而，由于与最初的受光信号LA对应的放大信号LB为比阈值S低的信号电平，所以与放大信号LB对应的纬纱检测信号不从比较器被输出。比较器与比迟于负侧的放大信号LB产生的阈值S高的电平的放大信号B3对应地最初输出纬纱检测信号C3。由此，在光吸收系的黑纱中，与光反射系的白纱不同，比较器最初输出的纬纱检测信号C3的产生成为比纬纱到达了光电传感器的位置的时刻延迟时间T1的时刻。纬纱到达时刻的正确的检测对于织机的运转控制而言，尤为重要，使用黑纱时的纬纱检测时刻的延迟例如在流体喷射式织机的情况下，会对引纬即将结束前的纬纱速度控制、纬纱到达时刻控制或来自辅助喷嘴的空气喷射控制产生较大的影响。在纬纱速度控制中，因超过引纬结束时的纬纱速度，而容易发生纬纱前端的跳回、断纬纱，在纬纱到达时刻控制中，容易产生纬纱的到达时刻的偏差，在空气喷射控制中，产生导致流体的使用量增加等的不利情况。
技术实现思路
本专利技术的目的在于防止纬纱检测装置的纬纱的检测延迟。技术方案1为一种织机的纬纱检测装置，其具备由向供被引纬的纬纱通过的路径照射光的投光部以及接受从纬纱反射的光的受光部构成的光电传感器、取出从上述光电传感器的输出信号除去低频的频率的信号的低频除去滤波机构、以及在输入超过阈值的信号时输出纬纱检测信号的比较机构，该织机的纬纱检测装置的特征在于，在上述低频除去滤波机构和上述比较机构之间设置全波整流机构。根据技术方案1，由于对从低频除去滤波机构取出的高频信号进行全波整流，所以能够将在光吸收系的纬纱的情况下被输出的正侧的信号以及负侧的信号一起作为正侧的整流信号取出，从而能够与光反射系的纬纱同样地，置换成能够与阈值进行比较的信号。因此，能够输出与基于来自到达了光电传感器的照射光的区域的纬纱的反射光的最初的受光信号对应的纬纱检测信号。由此，无论使用何种纬纱，都不存在纬纱的检测延迟，能够基于纬纱检测信号，高精度地进行辅助喷嘴的流体喷射控制、引纬即将结束前的纬纱飞行速度控制或引纬结束时的纬纱到达时刻控制等。技术方案2的特征在于，上述低频除去滤波机构为高通滤波机构。根据技术方案2，由于相对于光电传感器的受光信号，仅取出杂波较少的高频成分进行全波整流，所以能够防止光吸收系的纬纱的检测延迟。技术方案3的特征在于，上述低频除去滤波机构为带通滤波机构。根据技术方案3，由于相对于光电传感器的受光信号，仅取出无杂波的特定的频率成分进行全波整流，所以能够防止光吸收系的纬纱的检测延迟。技术方案4的特征在于，在上述低频除去滤波机构和上述全波整流机构之间设置能够变更放大率的放大机构。根据技术方案4，能够以简单的构成将从低频除去滤波机构取出的信号放大成需要的信号电平，从而能够使阈值的设定变得容易。技术方案5的特征在于，上述比较机构具备阈值变更机构。根据技术方案5，能够以与输入到比较机构的信号的电平一致的方式设定阈值，能够正确地进行输入信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种织机的纬纱检测装置，其具备由向供被引纬的纬纱通过的路径照射光的投光部以及接受从纬纱反射的光的受光部构成的光电传感器、取出从所述光电传感器的输出信号除去低频的频率的信号的低频除去滤波机构、以及在输入超过阈值的信号时输出纬纱检测信号的比较机构，该织机的纬纱检测装置的特征在于，在所述低频除去滤波机构和所述比较机构之间设置全波整流机构。

【技术特征摘要】
2015.07.15 JP 2015-1416261.一种织机的纬纱检测装置，其具备由向供被引纬的纬纱通过的路径照射光的投光部以及接受从纬纱反射的光的受光部构成的光电传感器、取出从所述光电传感器的输出信号除去低频的频率的信号的低频除去滤波机构、以及在输入超过阈值的信号时输出纬纱检测信号的比较机构，该织机的纬纱检测装置的特征在于，在所述低频除去滤波机构和所述比较机构之间设置全波整流...

【专利技术属性】
技术研发人员：松井正清，清木和夫，石川洋彦，
申请(专利权)人：株式会社丰田自动织机，
类型：发明
国别省市：日本;JP