一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机制造技术

技术编号:14472247 阅读:87 留言:0更新日期:2017-01-21 10:54
本实用新型专利技术涉及触摸屏技术领域,公开了一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关,磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端,其中第一连接端与测试板电性连接,第二连接端与断短路测试模块电性连接,第三连接端与电容测试模块电性连接,测试平台用于放置待测产品,测试平台与测试板对接设置,以使待测产品与测试板电性连接。该基于磁性开关的半成品触摸屏测试机采用磁性开关代替传统的探针作为连接器,能够减少测试机的维修频率、降低维修成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及触摸屏
,尤其涉及一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机。
技术介绍
电容式触摸屏是一种用于各种智能终端电子设备的重要部件,其能够实现用户与电子设备之间直接地、自然地交互。在触摸屏的制造过程中,半成品触摸屏是已经形成有用于感应触控点位置的触控电极、但触控电极并没有与IC连接的触摸屏,此类半成品需要在加工为成品之前先测试其功能是否完好,以提高成品触摸屏的良率。在现有技术中,用于测试机的连接器主要是采用探针。通过连接器的探针与产品的电极引线相连接,以读取ITO层中电极的数据,进而通过判断相关数据是否在预定数值范围内,来测定产品是否合格。但是,随着此类测试机生产数量的大规模化及使用时间长期化,连接器容易出现探针变形、气压过大时易断、使用时间长后针缝隙带杂物使用探针堵塞等问题,由此导致维修频率过高、间接提高了产品的生产成本。此外,在现有技术中,由于半成品触摸屏上并未连接有IC,因此对半成品触摸屏进行测试时,需要先将其与IC连接,再进行半成品功能测试,以判断半成品是否合格。但是,目前能够支持触摸屏产业的IC品牌非常多,且每种IC都有其独立的测试方法,但这些测试方法无法保证短路材料能够有效检出,且方法之间并不通用。这一方面会导致检测后的半成品触摸屏仍存在性能上的缺陷问题;另一方面会导致采用不同IC的半成品触摸屏需要使用不同的IC及其测试方法,相应地,用于不同半成品触摸屏的测试板也需要及时开发更换。当触摸屏生产企业的触摸屏种类较多时,需要开发多种半成品触摸屏的测试板,这既增加测试成本,又会耗费大量人力物力。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,以解决现有基于磁性开关的半成品触摸屏测试机难以有效检出全部短路材料、且测试机难以通用于不同类型、不同尺寸触摸屏的问题。本技术的技术方案如下:本技术提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关,所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端,其中所述第一连接端与所述测试板电性连接,所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接,所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接,所述测试平台用于放置待测产品,所述测试平台与所述测试板对接设置,以使所述待测产品与所述测试板电性连接。可选地,所述磁性开关为干簧管或门磁开关中的一种。优选地,所述磁性开关为干簧管。进一步地,所述断短路测试模块和/或所述电容测试模块中设有IC,所述IC为Atmel公司的IC。优选地,所述IC为AtmelMXT1664系列IC。进一步地,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第一支撑架和相对所述第一支撑架上下移动的第一升降装置,所述第一升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述测试平台与所述测试板对接处,所述第一升降装置下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时,使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。进一步地,所述第一升降装置包括固设于所述第一支撑架上的第一气缸以及与所述第一气缸动力连接的第一压板,所述第一压板位于所述第一支撑架下方且相对于所述第一支撑架上下移动,所述第一气缸推动所述第一压板下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时,使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。进一步地,所述第一升降装置还包括第一导柱,所述第一导柱竖向穿过所述第一支撑架且所述第一导柱与所述第一压板固定连接,以使所述第一压板沿竖直方向上下移动。进一步地,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第二支撑架和相对所述第二支撑架上下移动的第二升降装置,所述第二升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述磁性开关处,所述第二升降装置下降至所述磁性开关处时,使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接,所述第二升降装置上升至远离所述磁性开关时,使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。进一步地,所述第二升降装置包括固设于所述第二支撑架上的第二气缸以及与所述第二气缸动力连接的第二压板,所述第二压板位于所述第二支撑架下方且相对于所述第二支撑架上下移动,所述第二压板为磁性材料,所述第二气缸推动所述第二压板下降至所述磁性开关处时,所述磁性开关的所述第一连接端与所述第二连接端导通、且所述第一连接端与所述第三连接端断开,使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接,所述第二气缸拉动所述第二压板上升至远离所述磁性开关时,所述磁性开关的所述第一连接端与所述第三连接端导通、且所述第一连接端与所述第二连接端断开,使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。进一步地,所述第二升降装置还包括第二导柱,所述第二导柱竖向穿过所述第二支撑架且所述第二导柱与所述第二压板固定连接,以使所述第二压板沿竖直方向上下移动。进一步地,所述第一支撑架上还设有CCD对位装置,所述CCD对位装置用于对所述待测产品与所述测试板的电性连接位置进行放大和对位。进一步地,所述测试平台上还设有调节旋钮,所述调节旋钮用于调节所述待测产品与与所述测试板的电性连接位置。进一步地,所述半成品触摸屏测试机还包括设于所述工作机箱上方的显示屏,所述显示屏与所述CCD对位装置电性连接,所述显示屏用于显示经过所述CCD对位装置放大后的待测产品与所述测试板的电性连接位置,以使所述调节旋钮调节待测产品与所述测试板的电性连接位置重合。可选地,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸小于或者等于7寸。例如,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸为7寸、6寸、5.5寸、5寸、4.5寸、4寸、3.8寸或3.5寸。可选地,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试GFF、GF1或GF2结构的半成品触摸屏。与现有技术相比,本技术具有以下有益效果:在本技术中,在工作机箱内部分别设有断短路测试模块和电容测试模块,放置于测试平台中的半成品触摸屏通过与测试板电性连接,最终实现与断短路测试模块或者电容测试模块的连接,由此既能够测试半成品触摸屏中ITO层的断短路值、又能测出ITO层的电容值,故能够保证将半成品触摸屏的短路材料有效检出。另外,本技术中采用磁性开关代替传统的探针作为连接器,能够有效减少维修机率、降低维修成本。不仅如此,本技术的测试机具有较高的兼容性,由于Atmel公司的IC最多能够支持半成品触摸屏在X方向上电极多达32条、Y方向上电极多达52条,因此能够兼容测试各类IC对应的半成品触摸屏,并且也能够测试不同结构的半成品触摸屏。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例二的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机的结构示意图;图2是本技术实施例二的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机的结构示意图(省略第一支撑架、第一升降装置和CCD对位装置);图3是本技术实施例二中第一支撑架、第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关,所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端,其中所述第一连接端与所述测试板电性连接,所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接,所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接,所述测试平台用于放置待测产品,所述测试平台与所述测试板对接设置,以使所述待测产品与所述测试板电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关,所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端,其中所述第一连接端与所述测试板电性连接,所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接,所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接,所述测试平台用于放置待测产品,所述测试平台与所述测试板对接设置,以使所述待测产品与所述测试板电性连接。2.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,所述磁性开关为干簧管或门磁开关中的一种。3.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,所述断短路测试模块和/或所述电容测试模块中设有IC,所述IC为Atmel公司的IC。4.根据权利要求1至3任一项所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第一支撑架和相对所述第一支撑架上下移动的第一升降装置,所述第一升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述测试平台与所述测试板对接处,所述第一升降装置下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时,使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。5.根据权利要求4所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机,其特征在于,所述第一升降装置包括固设于所述第一支撑架上的第一气缸以及与所述第一气缸动力连接的第一压板,所述第一压板位于所述第一支撑架下方且相对于所述第一支撑架上下移动,所述第一气缸推动所述第一压板下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时,使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。6.根据权利要求5所述的基于磁性开...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖敏毅
申请(专利权)人:意力广州电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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