低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合制造技术

本实用新型专利技术公开一种低压电器领域电触头无损检测用测试块及其组合，所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述圆形密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。测试块单独使用其中任意一个测试块或者多个测试块任意组合。本实用新型专利技术可供检测人员方便的使用于探头、检测设备的性能测试、灵敏度的调整，检测特殊形状工件时的调整以及测量范围的调整等方面的工作。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于超声波探伤装备
，更具体地说，是涉及一种低压电器电触头无损检测用测试块及其组合。
技术介绍
超声波检测是目前应用最为广泛的无损检测方法之一。它具有穿透力强、设备轻便、检测成本低、检测效率高，并可以即时知道检测结果等优点。在低压电器的无损检测行业中，焊接质量的好坏是通过测量C扫图像的钎着率作为评定的依据。在实际检测中，仅仅通过检测设备面板上的各种调节按钮往往不足以定量地记录检测设备的灵敏度以及其他有关的检测条件，这就给定量测量以及后续的验证带来困难，同时也不方便测量检测系统的性能。现有的测试块有国际标准试块和国家标准试块，但标准试块往往结构复杂，且不同的标准试块由于组成的不同其主要用途各异，检测人员在选择和使用时非常不便。经检索发现，中国专利CN104777235A，公布了一种低压电器电触点超声波无损检测用弧面斜面型测试工件，包括测试块，所述测试块为长方体，所述长方体下表面及侧表面均为平面，上表面由第一平面、倾斜角度为1～10°的第一斜面、倾斜角度为10～20°的第二斜面、圆弧半径为10～50mm的圆柱面以及第二平面依次连接而成。该专利技术充分考虑低压电器领域电触头的形状特点，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对具有斜面或圆弧面工件的检测能力进行标定；可以弥补其他多种标准中规定的测试块的不足，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。以上专利技术虽然可以提供一套比较完整的测试块，但是在实际使用时，仍不能快速地根据扫查结果完成对检测系统的标定，同时，也不能方便的进行检测设备的性能测试。
技术实现思路
针对上述现有技术中的缺陷，本技术的目的是设计一种低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合，可供检测人员方便的使用于探头、检测设备的性能测试、灵敏度的调整，检测特殊形状工件时的调整以及测量范围的调整等方面的工作。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：本技术提供一种低压电器电触头超声波无损检测用测试块，所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。进一步的，所述凸字型部件的圆柱体或长方体的底部设有圆环形凹槽，并设有螺纹孔；所述圆环形密封部件安装在所述圆环形凹槽内；所述密封盖上设有螺纹孔，所述螺纹孔与所述凸字型圆柱体或长方体底部的螺纹孔相配合，从而通过螺钉将所述三部分固定为一体。在一优选方式中：所述测试块，其凸字型部件的上下两部分均为圆柱体，圆柱体上表面为平面，内部设有梯形孔，此种结构测试块称为平面测试块。进一步的，所述平面测试块分为两种，使用时任选一种或两种：第一种：平面测试块，其圆柱体内部具有一梯形孔，且梯形孔和外部圆柱同轴；所述梯形孔为盲孔，所述梯形孔的顶部距离圆柱体的上表面有一厚度；所述测试块的所述梯形孔底部直径比所述梯形孔顶部直径大；第二种：平面测试块，其圆柱体内部设有上下两个梯形孔，即第一梯形孔、第二梯形孔；所述第二梯形孔位于所述第一梯形孔的下面位置；所述第二梯形孔的顶部为所述第一梯形孔的底部；所述第一梯形孔的顶部至圆柱体上表面有一厚度，所述第一梯形孔底部直径比所述第一梯形孔顶部直径大；所述第二梯形孔的底部直径大于所述第二梯形孔的顶部直径。在一优选方式中：所述测试块，其凸字型部件的上下两部分均为圆柱体，上 部分圆柱体的上表面是球面；此种结构测试块称为球面测试块。进一步的，所述球面测试块，其圆柱体内部设有一梯形孔，所述梯形孔与所述圆柱体同轴；所述测试块内部梯形孔的顶部圆心到所述球面有一厚度；所述测试块梯形孔底部直径大于所述梯形孔顶部直径。在一优选方式中：所述测试块，其凸字型部件的上半部分为类长方体，下半部分为长方体；所述类长方体是指长方体的上表面是圆柱面，且其投影为正方形；此种结构测试块称为圆柱面测试块。进一步的，所述圆柱面测试块内部设有一梯形孔，所述梯形孔的中心是所述类长方体的中心；所述测试块内部梯形孔的顶部圆心到所述圆柱面有一厚度；所述测试块梯形孔底部直径略大于所述梯形孔顶部直径。本技术还提供一种上述低压电器领域电触头无损检测用测试块的组合，所述测试块的组合是一套测试块，包括多个测试块，按上表面的形状分为3组：平面组、球面组和圆柱面组；其中平面组为至少2个平面测试块，球面组为1个球面测试块，圆柱面组为1个圆柱面测试块；使用时，测试块单独使用其中任意一个测试块或者多个测试块任意组合；所述至少2个平面测试块，其中至少一个平面测试块的圆柱体内部具有一梯形孔(即第一种平面测试块)，至少一个平面测试块的圆柱体内部设有第一、第二上下两个梯形孔(即第二种平面测试块)。具体数量根据实际需要进行选择。由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：本技术无损检测用测试块，既可以整套使用，也可以单独使用其中任意一个测试块或其任意组合，能够配合超声波扫描技术，扫查每个测试块之后可以得到相对应的钎着率，完成对探头的标定以及对检测设备的性能测试以及灵敏度的调整等方面的工作。本技术简单，使用方便，可替代多种标准中规定的测试块，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。附图说明图1为本技术一个平面组测试块的装配体的轴测图；图2为本技术测试块用密封圈结构示意图；图3为本技术测试块的底座结构示意图；图4(a)-图4(g)为本技术平面组1#-7#测试块第一部分的剖视图；图5为本技术平面组8#测试块第一部分的剖视图；图6(a)、图6(b)为本技术球面组9#测试块第一部分剖视图和轴测图；图7(a)、图7(b)为本技术柱面组10#测试块第一部分剖视图和轴测图；图中：凸字型圆柱体或凸字型长方体1，圆环形密封部件2，密封盖3，梯形孔4，凸字型部件的上表面5，梯形孔的顶部6和梯形孔的底部7，第一梯形孔8和第二梯形孔9。具体实施方式以下对本技术的技术方案作进一步的说明，以下的说明仅为理解本技术技术方案之用，不用于限定本技术的范围，本技术的保护范围以权利要求书为准。如图1-图7所示，一种低压电器电触头超声波无损检测用测试块的组合，包括一套共10个测试块，根据测试块上表面的形状不同，分为平面、球面和圆柱面3组，其中平面组为8个平面测试块，球面组为1个球面测试块，圆柱面组为1个圆柱面测试块。平面组的8个平面测试块又根据内部结构的不同分为两类，第1类为1#测试块、2#测试块、3#测试块、4#测试块、5#测试块、6#测试块、7#测试块；第2类为8#测试块。球面组为9#测试块。圆柱面组为10#测试块。该套测试块在位置上没有确定的约束，使用时可以使用整套10个测试块作为测试块，也可以单独使用其中任意一个或多个的组合。加工时，每个测试块可单独加工。每个测试块由三部分组成：1#、2#、3#、4#、5#、6#、7#、8#测试块第一部分凸字型部件，凸字型的上下两部分均是圆柱体，9#测试第一部分凸字型部件，凸字型上部分为圆柱体(圆柱体上表面5为球面)，下部分为圆柱体；10#测试块第一部分凸字型部件，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。

【技术特征摘要】
1.一种低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。2.根据权利要求1所述的低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述凸字型部件的圆柱体或长方体的底部设有圆环形凹槽，并设有螺纹孔；所述圆环形密封部件安装在所述圆环形凹槽内；所述密封盖上设有螺纹孔，所述螺纹孔与所述凸字型圆柱体或长方体底部的螺纹孔相配合，从而通过螺钉将所述三部分固定为一体。3.根据权利要求1所述的低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述测试块，其凸字型部件的上下两部分均为圆柱体，圆柱体上表面为平面，内部设有梯形孔，此种结构测试块称为平面测试块。4.根据权利要求3所述的低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述平面测试块分为两种，使用时任选一种或两种：第一种：平面测试块，其圆柱体内部具有一梯形孔，且梯形孔和外部圆柱同轴；所述梯形孔为盲孔，所述梯形孔的顶部距离圆柱体的上表面有一厚度；所述测试块的所述梯形孔底部直径比所述梯形孔顶部直径大；第二种：平面测试块，其圆柱体内部设有上下两个梯形孔，即第一梯形孔、第二梯形孔，所述第二梯形孔位于所述第一梯形孔的下面位置；所述第二梯形孔的顶部为所述第一梯形孔的底部；所述第一梯形孔的顶部至圆柱体上表面有一厚度，所述第一梯形孔底部直径比所述第一梯形孔顶部直径大；所述第二梯形孔的底部直径大于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张国方，钱嘉锟，肖东，裘揆，
申请(专利权)人：上海和伍精密仪器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31