复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置及方法，其装置包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机，所述超声检测仪与超声低频探头或超声高频探头连接；所述方法包括以下步骤：采用多次底波法测量声波在被检测零件中的传播速度；检测缺陷的大致位置；准确重构缺陷的轮廓。本发明专利技术对超声探头传来的信号以及输入的参数进行处理，通过多组曲线包络重构缺陷，智能化程度高。采用分布式探头，探头体积小测量精度高，可以在一个比较大的区域内接收信号，避免ALOK法中经常收不到信号的情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无损检测领域，更具体地说，涉及一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测方法。
技术介绍
近年来，我国汽车工业飞速发展，但是汽车的质量问题也随之逐渐暴露出来，为了提高汽车的质量，对汽车零部件的无损检测也越来越受到各大整车厂的重视。对于具有复杂形状的零件，采用超声波无损检测是一个很好的选择。但是目前行业内的通用做法是检测人员使用超声探头检测，然后根据收到的回波信号凭借经验判断，这种做法的可靠性严重依赖操作人员的个人能力，难以与大规模工业生产的现状相适应。还有部分企业采用工业CT技术对零部件进行检测，但是CT设备比较昂贵，检测成本过高，这也限制了工业CT技术的推广。因此，整车厂目前迫切需要一项高效率，智能化，高可靠性，低成本的检测技术，来确保使用的零件符合要求。利用相控阵对曲轴内部孔缺陷进行测量时，所得到的缺陷孔尺寸需要借助6dB法或与试块进行对比，难以定量。检测多个位置的缺陷孔时，由于探头扫查角度有限，探头的检测位置也需要变动。另外，曲面的相控阵检测需要配备相应的楔块与被检对象表面契合，对于一般性的曲面，就需定制大量的楔块。ALOK法需要不断变换探头位置，并且对于复杂形状的缺陷，发射高频率的超声波时，只在很少的位置能收到反射信号，仅凭这些信号不足以重构缺陷。为此，将超声相控阵和ALOK结合起来，也许可以设计一种分布式探头的相控阵技术，也就是将相控阵探头集成的多个晶片在空间上分散开，放置在ALOK中的各个检测位置，再利用相控阵按时序发射信号的原理完成不同位置的缺陷信号检测，并利用ALOK的算法对缺陷成像，这样就结合了两者的优点：不必变换探头位置，避免楔块的设计，可
以检测一般性曲面，可视化，检测结果定量化。中国专利文献CN201181291Y公开的分布式多通道超声探伤系统，包括显示器，上位机，报警装置，打印机，以太网交换机，定位喷标，模块，外部定位喷标装置，多个超声模块组成。超声波探头接收到反射信号后，回波经过放大，A/D转换以及进一步处理后，系统自动判断是否存在缺陷，并进行喷标。该方法能够实现对缺陷位置的定位，并通过喷标进行标记，同时实现了设备小型化，数字化，抗干扰能力强等优点，但是对数据后续处理不足，未能给出完整的缺陷检测方法并不能完整重构出缺陷，无法准确描述缺陷的尺寸和形状。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机，所述超声检测仪与超声低频探头或超声高频探头连接，任意一个超声低频探头发射超声波时，其它超声低频探头接收超声波，任意一个超声高频探头发射超声波时，其它超声高频探头接收超声波。上述方案中，还包括用于夹持所述超声低频探头或超声高频探头的机械手。上述方案中，所述超声低频探头或超声高频探头的外壳上设有柱形凸起。本专利技术还提供了一种利用上述复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置的检测方法，包括以下步骤：S1、采用多次底波法测量声波在被检测零件中的传播速度；S2、在被测零件的表面均匀布置多个超声低频探头；S3、选择其中一个超声低频探头发射超声波，其它超声低频探头接收超声波，接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来，超声波幅值的波形数据经过滤波及放大模块、A/D转换模块处理后传到计算机，计算机将接收到的信号保存，计算机采集各个探头的位置坐标，将探头位置坐标和波形数据作为
输入数据，得到一组轮廓曲线；S4，通过将不同的超声低频接收探头作为发射超声波的探头，其它的超声低频探头接收超声波，重复步骤S3得到多组轮廓曲线，通过多组轮廓曲线共同包络成缺陷的轮廓，从而定位缺陷的大致位置；S5、在步骤S4中定位的缺陷大致位置的附近均匀布置多个超声高频探头；S6、选择其中一个超声高频探头发射超声波，其它超声高频探头接收超声波，接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来，超声波幅值的波形数据经过滤波及放大模块、A/D转换模块处理后传到计算机，计算机将接收到的信号保存，计算机采集各个探头的位置坐标，将探头位置坐标和波形数据作为输入数据，得到一组轮廓曲线；S7、通过将不同的超声高频接收探头作为发射超声波的探头，其它的超声高频探头接收超声波，重复步骤S6得到多组轮廓曲线，通过多组轮廓曲线准确的重构缺陷。上述方案中，所述计算机根据反射波峰对应时间的变化规律和反射播放对应幅值的变化规律，判断干涉波形和未发生干涉波形，剔除在波峰处发生干涉的数据，保留其余的数据。上述方案中，所述步骤S3或S6中获得轮廓曲线的方法为通过计算超声波从发射到被缺陷反射再到被接收探头接收的声程，定位缺陷反射声波的反射点，从而重构出缺陷轮廓，反射点的坐标(x，y)符合以下公式：[(x-xi0)cosθ+(y-yi0)sinθ]2/a2+[(y-yi0)cosθ+(x-xi0)sinθ]2/b2＝1；xi0＝(xi+xj)/2，yi0＝(yi+yj)/2，a＝si/2，θ＝arctan((xi-xj)/(yi-yj)，si＝(ti-t0)v0；式中，(xi，yi)为第i个探头位置坐标，(xj，yj)为第j个探头位置坐标，si为声程，v0为声波在零件中的传播速度，to是发射探头接收到脉冲信号的时刻，ti是接收探头接收到脉冲信号的时刻。上述方案中，当所述步骤S7中得到的曲线轮廓不完整时，可以重新布置超声高频探头的位置，重复步骤S6-S7，从而获取缺陷没有检测到的轮廓。实施本专利技术的复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测方法，具有以下有益效果：1、本专利技术可以采用机械手布置探头，自动化程度高；2、本专利技术对超声探头传来的信号以及输入的参数进行处理，通过多组曲线包络重构缺陷，智能化程度高。3、采用分布式探头，探头体积小测量精度高，可以在一个比较大的区域内接收信号，避免ALOK法中经常收不到信号的情况。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1是超声波分布式探头检测装置示意图；图2是超声波分布式探头检测装置信号传输示意图；图3是超声波信号图；图4是通过多组曲线得到的零件的内部缺陷的示意图。具体实施方式为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的具体实施方式。如图1所示，本专利技术复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，用于检测零件的内部缺陷2，其包括机械手，依次连接的超声检测仪3、滤波及放大模块4、A/D转换模块5和计算机6，超声检测仪3与超声探头1连接，超声探头1为超声低频探头或超声高频探头。任意一个超声低频探头发射超声波时，其它超声低频探头接收超声波，任意一个超声高频探头发射超声波时，其它超声高频探头接收超声波。机械手用于夹持超声探头1，通过机械手将探头布置在零件表面，自动化程度高。超声低频探头的频率范围是0.5-2MHz，超声高频探头的频率范围是5-10MHz。超声探头1外壳上设有柱形凸起，便于机械手抓取。探头1尺寸不宜太大，以保证探头能够与检测的零件表面实现良好的贴合。如图1-图4所示，本专利技术还提供了上述利用上述无损检测装置的检测方\本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，其特征在于，包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机，所述超声检测仪与多个超声低频探头或多个超声高频探头连接，任意一个超声低频探头发射超声波时，其它超声低频探头接收超声波，任意一个超声高频探头发射超声波时，其它超声高频探头接收超声波。

【技术特征摘要】
1.一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，其特征在于，包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机，所述超声检测仪与多个超声低频探头或多个超声高频探头连接，任意一个超声低频探头发射超声波时，其它超声低频探头接收超声波，任意一个超声高频探头发射超声波时，其它超声高频探头接收超声波。2.根据权利要求1所述的复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，其特征在于，还包括用于夹持所述超声低频探头或超声高频探头的机械手。3.根据权利要求1或2所述的复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置，其特征在于，所述超声低频探头或超声高频探头的外壳上设有柱形凸起。4.一种利用权利要求1所述的复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采用多次底波法测量声波在被检测零件中的传播速度；S2、在被测零件的表面均匀布置多个超声低频探头；S3、选择其中一个超声低频探头发射超声波，其它超声低频探头接收超声波，接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来，超声波幅值的波形数据经过滤波及放大模块、A/D转换模块处理后传到计算机，计算机将接收到的信号保存，计算机采集各个探头的位置坐标，将探头位置坐标和波形数据作为输入数据，得到一组轮廓曲线；S4，通过将不同的超声低频接收探头作为发射超声波的探头，其它的超声低频探头接收超声波，重复步骤S3得到多组轮廓曲线，通过多组轮廓曲线共同包络成缺陷的轮廓，从而定位缺陷的大致位置；S5、在步骤S4中定位的缺陷大致位置的附近均匀布置多个超声高频探头；S6、选择其中一个超声高频探头发射超声波，其它超声高频探头接收超声波，接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来，超声波幅值的波形数
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【专利技术属性】
技术研发人员：华林，汪小凯，许善燎，宋雨珂，王彬，
申请(专利权)人：武汉理工大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42