一种日冕物质抛射多伴随现象的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种日冕物质抛射多伴随现象的检测方法，包括如下步骤：首先根据事件catalog数据得到CME的发生时间和中央位置角，根据其发生时间选取某一时间段，记录该时间段内其发生的伴随现象作为此CME的类别标签集合；其次，在所选择的时间段中按顺序随机选择k张图像，提取每张图像的纹理特征，组成CME的特征向量；最后使用多标记学习的方法构建多标签模型，当产生新的CME现象时，相应提取其纹理特征向量，检测其伴随现象。本发明专利技术有效地解决了当CME发生时，其多伴随现象的检测问题，同时检测多种伴随现象的发生情况。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种日冕物质抛射多伴随现象的检测方法，对事件发生记录catalog数据(提供多种现象的发生时间及位置等描述信息)和大气成像仪(AIA)观测图像数据进行处理以获取日冕物质抛射CME与其伴随现象之间相互关联关系，包括如下步骤：步骤1：根据事件发生记录catalog获取n次CME现象，记录每次CME的发生时间段(tp,1,tp,2)和中央位置角度CPAp,其中1≤p≤n表示第p次CME；步骤2：取某一时间段t＝(tp,1',tp,2'),tp,1≤tp,1'＜tp,2'≤tp,2，调入catalog数据关于t时间段内六种伴随现象(记Y＝{日冕暗化,日冕洞,日冕波,暗条爆发,耀斑,S形状})的出现情况将Yp作为该CME的标签集；步骤3：对CME在t时间段内提取纹理特征向量xp；根据catalog，对AIA某一频道对应t时间段内图像序列顺序随机选择k张图像I＝{I1,I2,…Ik}，对每张图像Iq,1≤q≤k进行步骤3.1‑3.3，得到56×k维特征向量xp；步骤3.1：提取图像Iq角度CPAp‑45°≤θ≤CPAp+45°日面区域，得到日面；旋转该区域到日面的西北(右上)区域，如同以日面中心为原点的直角坐标系中的第一象限位置；使用R⊙×R⊙的正方形区域包含该日面，其他无关区域值设置为0，得到的图像Iq'尺寸小于原图像Iq的步骤3.2：采用Iq'(·,·)表示图像Iq'的像素值，(i,j)表示像素坐标，将图像灰度化后计算图像Iq″在θ＝(0°,45°,90°,135°)，d＝1，灰度值级数为256时的4个灰度共生矩阵，分别计算角二阶距、逆差距、对比度、熵、相关度5个二次统计量，得到20维特征；步骤3.3：对图像Iq'采用3级二维双树复小波变换得到18个复系数带通子图，计算每一个子图的能量和标准差得到36维特征；步骤4：将步骤2得到的标签和步骤3得到的特征向量相结合，得到带标签的CME实例集合T＝{(x1,Y1),(x2,Y2),…(xn,Yn)}；采用数据T，利用多标记学习方法训练多标签模型h:X→2Y，X表示特征空间；步骤5：对于一个新的CME，在其某一频道随机按时间顺序选择k张图像，采用步骤3.1‑3.3所述的方法提取特征向量x，再利用已经训练好的多标签模型h对其伴随现象进行检测，得到目标伴随现象集合y。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭博，田红梅，李天瑞，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：发明
国别省市：四川;51