一种预测设备器件寿命的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种预测设备器件寿命的方法及装置，涉及检测技术领域，在预测设备器件寿命的过程中，提高了设备器件寿命预测的准确率。本发明专利技术的具体实施包括：通过获取到的影响设备器件寿命的影响因素的数值得到已使用的设备器件的寿命值，并通过该寿命值以及设置的预定寿命阈值获取到样本器件，进而根据该样本器件确定用于预测设备器件寿命的预测模型。本发明专利技术技术方案主要应用于设备器件寿命预测的流程中。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种预测设备器件寿命的方法及装置，涉及检测
，在预测设备器件寿命的过程中，提高了设备器件寿命预测的准确率。本专利技术的具体实施包括：通过获取到的影响设备器件寿命的影响因素的数值得到已使用的设备器件的寿命值，并通过该寿命值以及设置的预定寿命阈值获取到样本器件，进而根据该样本器件确定用于预测设备器件寿命的预测模型。本专利技术技术方案主要应用于设备器件寿命预测的流程中。【专利说明】一种预测设备器件寿命的方法及装置
本专利技术涉及检测
，尤其涉及一种预测设备器件寿命的方法及装置。
技术介绍
设备一般是由器件按照一定的结构组织形成的，并且可以用来完成相应功能的装 置。每个设备器件都有自己的寿命，设备器件寿命是指从器件上电使用开始到因故障无法 继续使用为止经历的时间段。设备器件在实际的使用过程中，会受到各种因素的影响，例 如，环境、地点、产品线等等，这些因素都会对设备器件的寿命造成影响。但是现有技术在对 设备器件进行寿命预测时，是基于理想状态下得到的寿命均值进行预测的，也就是说在这 样的情况下，设备器件是不受外界环境影响的，或者说受到的影响极小。但是，在实际的应 用过程中，绝大部分设备器件是不会在理想状态下运行的，如果按照现有技术的方法，会导 致预测的设备器件寿命准确很低。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种预测设备器件寿命的方法及装置，在预测设备器件寿命 的过程中，提高了预测的准确率。 为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案： 第一方面，提供了一种预测设备器件寿命的方法，包括： 获取寿命值，所述寿命值包括已使用设备器件的寿命值； 根据所述寿命值获取样本器件； 根据所述样本器件确定预测模型，所述预测模型用于设备器件的寿命预测。 在第一方面的第一种可能实现方式中，所述获取寿命值，具体包括： 根据第一预设规则，获取影响因素的数值，所述影响因素影响所述已使用设备器 件的寿命； 根据所述影响因素的数值，获取第一时间值，所述第一时间值包括使用所述已使 用设备器件的开始时间和/或结束时间； 根据所述第一时间值计算，得到所述寿命值。 结合第一方面、第一方面的第一种可能实现方式，在第一方面的第二种可能实现 方式中，所述根据第一预设规则，获取影响因素的数值，具体包括： 获取所有维修接收时间与所述结束时间的差值以及所有维修接收时间与所述结 束时间的总体均值； 根据所述所有维修接收时间与所述结束时间的差值和所有维修接收时间与所述 结束时间的总体均值计算，得到所述影响因素的数值。 结合第一方面、第一方面的第一种可能实现方式、第一方面的第二种可能实现方 式，在第一方面的第三种可能实现方式中，所述根据所述寿命值获取样本器件，具体包括； 根据预定寿命阈值以及所述寿命值，获取所述样本器件。 结合第一方面、第一方面的第一种可能实现方式、第一方面的第二种可能实现方 式、第一方面的第三种可能实现方式，在第一方面的第四种可能实现方式中，所述根据所述 样本器件确定预测模型，包括： 根据第二预设规则以及所述样本器件确定所述预测模型，所述第二预设规则表示 影响所述样本器件寿命的函数； 确定所述预测模型具体包括： 根据所述样本器件获取影响所述样本器件寿命的影响因素的数值以及样本器件 寿命均值； 根据所述样本器件寿命的影响因素的数值、样本器件寿命均值、影响所述样本器 件寿命的函数计算，确定所述预测模型。 第二方面，提供了一种预测设备器件寿命的装置，包括： 获取单元，用于获取寿命均值，所述寿命值包括已使用设备器件的寿命值；并根据 所述寿命值获取样本器件； 确定单元，用于根据所述获取单元获取的所述样本器件，确定预测模型，所述预测 模型用于设备器件的寿命预测。 在第二方面的第一种可能实现方式中，所述获取单元，具体包括： 第一获取子单元，用于根据第一预设规则，获取影响因素的数值，所述影响因素影 响所述已使用设备器件的寿命；根据所述影响因素的数值，获取第一时间值，所述第一时间 值包括使用所述已使用设备器件的开始时间和/或结束时间； 第一计算子单元，用于根据所述第一获取子单元获取的所述第一时间值进行计 算，得到寿命值。 结合第二方面、第二方面的第一种可能实现方式，在第二方面的第二种可能实现 方式中，所述第一获取子单元，包括： 获取模块，用于获取所有维修接收时间与所述结束时间的差值以及所有维修接收 时间与所述结束时间的总体均值； 计算模块，用于根据所述获取模块获取的所述所有维修接收时间与所述结束时间 的差值和所有维修接收时间与所述结束时间的总体均值计算，得到所述影响因素的数值。 结合第二方面、第二方面的第一种可能实现方式、第二方面的第二种可能实现方 式，在第二方面的第三种可能实现方式中，所述获取单元，还用于根据预定寿命阈值以及所 述寿命值，获取所述样本器件。 结合第二方面、第二方面的第一种可能实现方式、第二方面的第二种可能实现方 式、第二方面的第三种可能实现方式，在第二方面的第四种可能实现方式中，所述确定单元 具体用于，根据第二预设规则以及所述样本器件确定所述预测模型，所述第二预设规则表 示影响所述样本器件寿命的函数； 所述确定单元，包括： 第二获取子单元，用于根据所述获取单元获取的所述样本器件获取影响所述样本 器件寿命的影响因素的数值以及样本器件寿命均值； 第二计算子单元，用于根据所述第二获取子单元获取的所述样本器件寿命的影响 因素的数值、样本器件寿命均值、影响所述样本器件寿命的函数计算，确定所述预测模型。 本专利技术实施例提供的预测设备器件寿命的方法及装置，在获取到寿命值之后，根 据该寿命值以及预先设置的预定寿命阈值获取样本器件，且获取这些样本器件确定预测模 型。在现有技术中，设备器件寿命是在实验室中获取到的，进而根据该理想状态下的设备器 件寿命值来预测实际应用情况下的设备器件寿命，从而造成预测的设备器件寿命不准确这 一问题。本专利技术提供的技术方案中，在建立预测模型的过程中，将实际应用中的影响因素考 虑进去，提高了预测设备器件寿命的准确率。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。 图1为本专利技术一实施例提供的一种预测设备器件寿命的方法的流程图； 图2为本专利技术另一实施例提供的一种预测设备器件寿命的方法的流程图； 图3为本专利技术另一实施例提供一种设备器件使用阶段的示意图； 图4为本专利技术另一实施例提供的一种确定样本器件的示意图； 图5为本专利技术另一实施例提供的一种预测设备器件寿命阶段划分示意图； 图6为本专利技术另一实施例提供的一种预测设备器件寿命的装置的组成框图； 图7为本专利技术另一实施例提供的另一种预测设备器件寿命的装置的组成框图； 图8为本专利技术另一实施例提供的一种预测设备器件寿命的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种预测设备器件寿命的方法，其特征在于，包括：获取寿命值，所述寿命值包括已使用设备器件的寿命值；根据所述寿命值获取样本器件；根据所述样本器件确定预测模型，所述预测模型用于设备器件的寿命预测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：金洪波，何秀强，胡楠，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44