一种测试分选机的测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。在一个具体的实施例中，所述每个测试爪中测试探针的数量为三个。本实用新型专利技术的测试机构，使得当其中一个测试爪中的某个测试探针与其对应的管脚接触不良时，可以采用另一个测试爪中相应的测试探针，从而保证了测试数据的准确性，降低了误判率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种测试分选机的测试机构
本技术涉及一种电子元器件的测试分选机，更准确地说，涉及一种测试分选机的测试机构。
技术介绍
测试分选机是一种对电子元器件进行分选测试的仪器，其一般包括上料机构、取料机构、测试分选机构等等。以三极管测试分选机为例，采用测试爪接触三极管的三个管脚，导通来获得测试的数据，以判断是否合格。但是现有的测试分选机中，会经常出现某个爪与相应的管脚接触不良的问题，造成测试结果与实际不符，从而影响测试的结果。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种测试分选机的测试机构。为了实现上述的目的，本技术的技术方案是:一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。在一个具体的实施例中，所述每个测试爪中测试探针的数量为三个。本技术的测试机构，使得当其中一个测试爪中的某个测试探针与其对应的管脚接触不良时，可以采用另一个测试爪中相应的测试探针来替代，从而保证了测试数据的准确性，降低了误判率。【附图说明】图1示出了本技术测试机构的示意图。【具体实施方式】为了使本技术解决的技术问题、采用的技术方案、取得的技术效果易于理解，下面结合具体的附图，对本技术的【具体实施方式】做进一步说明。参考图1，本技术提供的一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，通过测试爪上的每个测试探针与元器件的每个管脚分别接触导通，来检测该电子元器件是否合格。本技术的测试机构中，测试爪的数量为两个，其中一个测试爪I位于待测工件2的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪3位于待测工件2的下方，用于与测试管脚的下端面接触。两个测试爪中相应的测试探针相互导通。以测试三极管为例，所述每个测试爪中测试探针的数量为三个，其中，测试爪1、3中用于导通三极管B极管脚的测试探针连通在一起(或共同连接在测试设备的同一端上)，用于导通三极管E极管脚的两个测试探针导通、用于导通三极管C极管脚的两个测试探针导通，这样的结构，使得当其中一个测试爪中的某个测试探针与其对应的管脚接触不良时，可以采用另一个测试爪中相应的测试探针，从而保证了测试数据的准确性，降低了误判率。本技术已通过优选的实施方式进行了详尽的说明。然而，通过对前文的研读，对各实施方式的变化和增加也是本领域的一般技术人员所显而易见的。 申请人:的意图是所有这些变化和增加都落在了本技术权利要求所保护的范围中。相似的编号通篇指代相似的元件。为清晰起见，在附图中可能有将某些线、层、元件、部件或特征放大的情况。本文中使用的术语仅为对具体的实施例加以说明，其并非意在对本技术进行限制。除非另有定义，本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)均与本技术所属领域的一般技术人员的理解相同。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，其特征在于：所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。

【技术特征摘要】
1.一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，其特征在于:所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳天赐，劳建音，
申请(专利权)人：深圳市三浦半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44