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中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室专利技术
中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室共有967项专利
元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸
本申请涉及一种元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:根据待测对流换热系数,仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度;待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与预设洁净度得到的;初始对流换热系数为...
预留式循环萃取器及萃取组件制造技术
本实用新型涉及一种预留式循环萃取器及萃取组件,该预留式循环萃取器包括萃取容器、气流管和液流管,萃取容器具有萃取腔和第一料口,萃取容器上设有中空的连接柱;气流管的进气端口与连接柱的中空腔连通,气流管的出气端口与萃取腔连通;液流管包括依次连...
微处理器权限提升攻击模拟方法技术
本发明提供一种微处理器权限提升攻击模拟方法,包括以下步骤:a.通过对微处理器的原始设计数据进行仿真,获得攻击的目标触发电路节点;b.在所述目标触发电路节点处设计实现攻击电路;c.利用仿真或FPGA、即现场可编程门阵列,来验证所述攻击电路...
语音交互系统智商水平的评测方法、装置以及计算机设备制造方法及图纸
本发明涉及语音交互系统智商水平的评测方法、装置以及计算机设备,所述方法包括:获取测试问题,所述测试问题为语音问题;获取所述语音交互系统成功响应所述测试问题的指令周期数;其中,一个指令周期为所述语音交互系统与外界的一个对话回合;通过所述指...
SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质制造方法及图纸
本发明提供一种SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质,上述SoC芯片核数检测方法包括步骤:获取SoC芯片上各预设扫描点的频谱信息。根据各预设扫描点的频谱信息和各预设扫描点的位置信息生成电磁辐射图像。识别电磁辐射图像中的处理核心,得...
柔性屏可靠性测试系统及柔性屏可靠性测试的方法技术方案
本发明提供了一种柔性屏可靠性测试系统及测试方法,其中,柔性屏可靠性测试系统包括:高温箱、与高温箱对应设置的弯折试验机和与弯折试验机对应设置的测试装置;弯折试验机用于控制柔性屏按预设规则做弯折运动;高温箱用于为柔性屏的弯折试验提供试验温度...
液压系统故障诊断系统及方法技术方案
本发明涉及一种液压系统故障诊断系统及方法。液压系统故障诊断系统包括信号调理模块、故障初步诊断与特征提取模块、故障诊断终端、供电设备以及连接液压系统的传感器设备;传感器设备通过信号调理模块连接故障初步诊断与特征提取模块;故障初步诊断与特征...
可见光通信联网系统技术方案
本实用新型涉及一种可见光通信联网系统,包括连接网络交换机的第一可见光收发信装置以及连接终端设备的第二可见光收发信装置;第一可见光收发信装置与第二可见光收发信装置可见光通信连接;第一可见光收发信装置包括依次连接的第一网卡接口、第一网络信号...
加速度计可靠性测试方法、装置以及测试用加速度计制造方法及图纸
本发明涉及一种加速度计可靠性测试方法、装置以及测试用加速度计,所述加速度计可靠性测试方法包括采集加速度计在上电正常工作时的第一电压信号;加速度计为包括敏感结构单元的加速度计;敏感结构单元包括设置在敏感结构单元的质量块两侧的第一加力极板和...
除法函数实现方法、电路、芯片以及系统技术方案
本申请涉及一种除法函数实现方法、电路、芯片以及系统。所述方法包括:获取待处理除法函数的变量值;将变量值输入二阶函数处理模型,得到二阶函数值;将变量值输入二阶非线性插值函数处理模型,得到二阶非线性插值函数值;获取二阶函数值与二阶非线性插值...
系统级芯片测评装置和方法制造方法及图纸
本发明涉及一种系统级芯片测评装置和方法。包括ATE测试板、SoC系统验证板和控制器,控制器控制ATE测试板获取待测系统级芯片的参数级数据,控制SoC系统验证板获取待测系统级芯片的应用级数据,根据待测系统级芯片的参数级数据和应用级数据,得...
逆导型IGBT的间歇寿命试验电路和方法技术
本发明涉及一种逆导型IGBT的间歇寿命试验电路和方法,包括控制电路、栅极电压源、集电极电压源、测试电流源和电阻,栅极电压源、测试电流源和电阻均连接控制电路,栅极电压源、测试电流源、电阻和控制电路均用于连接逆导型IGBT,集电极电压源与电...
柔性屏弯折测试装置制造方法及图纸
本发明涉及一种柔性屏弯折测试装置,包括底座、测试机构和动力机构。底座上设有导轨。测试机构包括第一支撑组件、第二支撑组件、第一固定组件、第二固定组件和第一弹性件。第二支撑组件与导轨滑动连接,第一固定组件的一侧与第一支撑组件可转动连接,第二...
SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板制造方法及图纸
本申请涉及一种SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板。所述方法包括:获取待测SoC芯片的芯片架构类型,根据芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序,测试程序框架用于完成多种芯片架构类型的测试项,芯...
逆导型IGBT的热阻测试电路和方法技术
本发明涉及一种逆导型IGBT的热阻测试电路和方法,包括控制电路、栅极电压源、测试电流源和加热电流源,栅极电压源、测试电流源和加热电流源均连接控制电路,栅极电压源、测试电流源、加热电流源和控制电路均用于连接待测逆导型IGBT。控制电路控制...
处理器性能评测比较方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸
本申请涉及一种处理器性能评测比较方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待评测处理器的类型和评测核温值;根据待评测处理器的类型从预设评测模型中获取对应的评测模型,得到目标评测模型;根据评测核温值和目标评测模型,计算得到不同类...
数据驱动的故障树分析方法、装置及系统制造方法及图纸
本发明涉及一种数据驱动的故障树分析方法、装置及设备,其中,数据驱动的故障树分析方法可包括以下步骤:根据故障顶事件的历史故障数据,生成对应故障顶事件的故障树;故障树包括若干层底事件;定量处理故障树,得到各层底事件对应的故障概率、以及各最小...
热真空均匀混合气体装置和方法制造方法及图纸
本申请涉及一种热真空均匀混合气体装置和方法。所述装置包括:热真空箱、磁力搅拌器、磁性搅拌子、第一传感器和第二传感器;所述第一传感器和第二传感器相对设置于所述热真空箱内壁;所述磁性搅拌子放置于所述热真空箱内部;所述热真空箱放置于所述磁力搅...
DC-DC升压转换器的电感采样模块、电路及环路控制系统技术方案
本发明涉及一种DC‑DC升压转换器的电感采样模块、电路及环路控制系统。DC‑DC升压转换器的电感采样模块中设置沟道尺寸的比例关系为m:n:1的场效应管M3、场效应管M4和场效应管M5。场效应管M3和场效应管M4交替工作在电感放电状态和充...
无人机飞行模拟系统及安全测试系统技术方案
本发明涉及一种无人机飞行模拟系统及安全测试系统,模拟系统包括平移机构;位姿模拟机构,在平移机构的带动下往复平移;位姿模拟机构包括底板、位姿调节组件及承载板,底板设于平移机构上,承载板与底板远离平移机构的一侧相对间隔设置,位姿调节组件设于...
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