元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度；待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与预设洁净度得到的；初始对流换热系数为通过仿真获取到的、处于预设环境温度且无积尘状态下的待评价元器件的系数；在工作温度大于待评价元器件的最高使用温度时，确定待评价元器件存在超温风险。本发明专利技术元器件可靠性评价方法各实施例中，能够较好的评价产品内部元器件表面积尘后对其发热的影响；可以在物理样机生产之前发现产品潜在热设计薄弱环节，并验证分析，避免物理试错，降低生产成本；试验周期短，加快产品开发速度。

【技术实现步骤摘要】
元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及元器件热设计
，特别是涉及一种元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
经过现场实地调研，现有产品(散热方式为强迫风冷的产品)，例如，空调外机、通信基站，在投产前一般都会经过防尘试验与温度试验，以便考核产品的相关设计是否能通过考核，进而发现产品薄弱环节。但尽管产品都通过了对应的试验项目，在用户实际使用时，由于长时间的积尘问题易导致元器件过热(超出元器件温度极限)，从而致使产品发生故障。在实现过程中，专利技术人发现传统技术中至少存在如下问题：在传统技术方法中，仅依据相关标准进行温度试验及防尘试验，无法评价元器件积尘后产品的可靠性，而产品在现场使用时随着元器件表面积尘量的增大会导致元器件发热量增大，从而导致其故障发生率增高。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种元器件可靠性评价方法、装置、计算机设备和存储介质，能够有效地评价元器件在积尘状态下的可靠性。一方面，本专利技术实施例中提供了一种元器件可靠性评价方法，包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元器件可靠性评价方法，其特征在于，包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度；所述待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与所述预设洁净度得到的；所述初始对流换热系数为通过仿真获取到的、处于所述预设环境温度且无积尘状态下的所述待评价元器件的对流换热系数；在所述工作温度大于所述待评价元器件的最高使用温度时，确定所述待评价元器件存在超温风险。

【技术特征摘要】
1.一种元器件可靠性评价方法，其特征在于，包括：根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度；所述待测对流换热系数为处理初始对流换热系数与所述预设洁净度得到的；所述初始对流换热系数为通过仿真获取到的、处于所述预设环境温度且无积尘状态下的所述待评价元器件的对流换热系数；在所述工作温度大于所述待评价元器件的最高使用温度时，确定所述待评价元器件存在超温风险。2.根据权利要求1所述的元器件可靠性评价方法，其特征在于，在根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度、且预设洁净度下的工作温度的步骤之前，还包括步骤：对所述预设洁净度和所述初始对流换热系数求积，得到所述待测对流换热系数。3.根据权利要求1所述的元器件可靠性评价方法，其特征在于，在根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度、且预设洁净度下的工作温度的步骤之前，还包括：根据所述预设洁净度和所述初始对流换热系数查找对流换热系数表，得到所述待测对流换热系数。4.根据权利要求1至3任意一项所述的元器件可靠性评价方法，其特征在于，基于以下步骤得到所述最高使用温度：获取所述待评价元器件的最高极限温度和降额设计因子；对所述最高极限温度和所述降额设计因子求积，得到所述最高使用温度。5.根据权利要求1至3任意一项所述的元器件可靠性评价方法，其特征在于，在根据待测对流换热系数，仿真获取待评价元器件在预设环境温度且预设洁净度下的工作温度的步骤中：在所述仿真过程中将所述预设环境温度和所述预设洁净度对应变更为最高环境温度、所述无积尘状态；所述最高环境...

【专利技术属性】
技术研发人员：申海东，解江，张泽，吴雪珂，王毅，陈宇俊，陈科雯，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东,44