上海精密计量测试研究所专利技术

上海精密计量测试研究所共有262项专利

  • 本发明公开了一种有边框表格的精准单元格切分识别与重构方法,通过表格表框横线、竖线、焦点形状、焦点位置、版面比例分析的方法对表格单元格焦点进行分析,确定表格之中单元格形状、位置与对应比例,重构表格单元格的表格版面,包括步骤:表格提取,表格...
  • 本发明公开了一种绝缘栅极双极性晶体管环境试验的高压偏置系统,系统采用集成化设计,将开关电路控制模块,开关指令模块和保护电路模块集成于一体。实现在IGBT器件环境可靠性试验过程中对试验系统的保护;实现在线对高压偏置下受试器件的切换功能,避...
  • 本发明提供了一种转位机构性能测试系统大惯量原位校准装置,其特征在于,包括:测试系统实物惯量原位校准装置、力矩测量单元、高精度转速测量单元、上位机;其中,所述力矩测量单元获取转位机构性能测试系统惯量模拟器模拟转动惯量状态下产生的摩擦力矩和...
  • 本发明提供了一种针对元器件常温测试的测试设备数据自动采集方法,其特征在于,其采用摄像头拍摄测试设备仪表的画面,使用图像识别引擎识别仪表数据,将数据储存至数据库中,并在客户端的系统界面中显示相应数据,同时在每次检测时对检测数据进行判断后语...
  • 本发明提出一种可3D集成毫米波双腔滤波装置和耦合方法。与现有技术相比,本发明解决了传统开放式传输线构建的毫米波器件在自由空间内易辐射和损耗高的问题;同时基于将二维电路堆叠成三维滤波装置的方法,与传统金属波导滤波装置相比较,降低了制备成本...
  • 本发明的基于栅源电压表征SiC MOSFET功率器件结温和热阻的方法,其步骤包括:设计SiC MOSFET器件瞬态热阻测试电路,使漏极电流I<subgt;d</subgt;和漏源电压V<subgt;ds</sub...
  • 本发明提供了一种塞尺全自动检定装置及检定方法。该检定装置特征在于,其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机,所述底板一侧为“凹”型,所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(...
  • 一种基于SiC‑VDMOSFET器件的单粒子烧毁的仿真方法,其步骤:a、获得所针对建模的SiC‑VDMOSFET器件元胞的结构参数及掺杂参数;b、对三维器件模型合理划分网格;c、采用TCAD中SiC材料专用的物理模型对所建立的三维器件模...
  • 本技术提供一种用于CQFJ44封装元器件恒定加速度试验的夹具,包括夹具本体和压盖;所述夹具本体侧面设置有与离心机八槽母夹具连接的栓体,所述夹具本体的上表面设置有正方形槽体,所述槽体的尺寸略大于CQFJ44封装元器件的实际尺寸;所述压盖上...
  • 本发明公开了一种面向岗位的标准信息推送方法,第1步:对岗位涉及的标准题录进行预处理。利用中文分词包配套的Python组件作为数据核心内容提炼工具,实现对标准题录中完整词汇的分解操作。拆解标准化对象的范围、主题要素、具体技术特征等词汇。最...
  • 本发明提供了一种转动惯量一体化测试装置及测试方法。该测试装置的特征在于,其包括:载物平台(1)、气浮轴承系统(2)、支撑机构(3)、称重系统(4)、质心调整系统(5)、标准扭杆组(6)、扭杆测试系统(7)、上位机(9)、夹持机构(8)、...
  • 本技术提供一种用于T0封装圆壳系列元器件恒定加速度试验的夹具,将中空圆柱形工装在圆形截面上平均分为22份,每份为16.36°;在轴向分为三层,从上到下每层均布22个圆形元器件工位;从上到下的三层圆形元器件工位,每层的直径分别为8mm、1...
  • 本发明提供了一种基于时间门的调制频率编码的提取方法及装置
  • 一种数模模数转换器单粒子瞬态效应测试装置及其方法,所述装置主要由程控电源
  • 本发明的一种电路结构的单粒子效应数值仿真方法,能够在不开展地面辐照试验的情况下,通过数值仿真得到电路结构中的单粒子效应响应情况
  • 本发明实施例提供了一种瞬态热阻曲线优化TSV转接板散热性能的结构分析方法包括:制备TSV结构单元中心点间距不同的TSV转接板;测试TSV转接板击穿电压曲线;将二极管芯片封装在TSV转接板上,获得TSV结构单元中心点间距不同的二极管器件;...
  • 本发明提供了一种测试用板卡快速接线插排,其特征在于,其由插入板卡接线孔的快速接插端子(1)、传输导线(2)和绝缘走线管(3)组成,所述快速接插端子(1)阵列分布于绝缘走线管(3)上,所述传输导线(2)与快速接插端子(1)连接后将测试信号...
  • 本实用新型提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统,其特征在于,其包括放置于火箭筒段(6)的左右两侧的左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2),装在火箭筒段法兰盘(7)的基准刻线测量引导装置(3),安装于基准刻线测量引导装置(3)上的标准靶...
  • 本发明提供一种基于温
  • 本发明提供了一种脉宽调制器中子单粒子效应辐照测试系统,包括辐照测试板、直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块,所述辐照测试系统置于脉冲反应堆中进行在线辐照测试;所述辐照测试板置于辐照室内;直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块置...
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