一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，其包括放置于火箭筒段(6)的左右两侧的左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)，装在火箭筒段法兰盘(7)的基准刻线测量引导装置(3)，安装于基准刻线测量引导装置(3)上的标准靶球(4)，所述基准刻线测量引导装置(3)对齐火箭筒段(6)的基准刻线(5)。本实用新型专利技术的技术方案能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量。该火箭筒段基准刻线偏扭测量系统具有操作简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠的特点。工作可靠的特点。工作可靠的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统


[0001]本技术涉及大型零部件测量领域，尤其涉及一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统。

技术介绍

[0002]火箭筒段具有一定的长度，长(1000～3000)mm，因重量及热变形等因素，筒段在生产时会产生一定的偏扭，该偏扭会对筒段与筒段之间的联接产生影响，因此在每次筒段联接前，需要对每个筒段的偏扭进行测量，当偏扭量不超过技术要求时，则可进行筒段与筒段的联接作业。
[0003]火箭筒段的偏扭通过测量筒段两端基准刻线的偏扭来确定。每根基准刻线为宽(0.1～0.2)mm、深(0.1～0.2)mm、长(15～20)mm的细长刻线。需要将筒段两端各四根基准刻线同时测出，并确定相互间的位置关系，火箭筒段两端基准刻线偏扭误差要求为
±
0.3mm。
[0004]为此，本技术设计出一套采用激光雷达、基准刻线测量引导装置为测量硬件，用于空间点坐标计算的SA软件为测量软件的测量系统。该测量系统具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高等优点，实用性与经济效益显著。

技术实现思路

[0005]本技术涉及采用激光雷达、基准刻线测量引导装置为测量装置，结合SA软件来实现基准刻线偏扭测量的系统。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0007]一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，其包括放置于火箭筒段6的左右两侧的左侧激光雷达1、右侧激光雷达2，装在火箭筒段法兰盘7的基准刻线测量引导装置3，安装于基准刻线测量引导装置3上的标准靶球4，所述基准刻线测量引导装置3对齐火箭筒段6的基准刻线5。
[0008]进一步的是，每条基准刻线5均配有一个基准刻线测量引导装置3，在每条基准刻线5的地方，将基准刻线测量引导装置3装在火箭筒段法兰盘7上，并在每个基准刻线测量引导装置3上安装标准靶球4。
[0009]进一步的是，所述基准刻线测量引导装置3将细长的、不宜获取的基准刻线5准确引导至便于测量的激光雷达的标准靶球4上。
[0010]进一步的是，所述基准刻线测量引导装置3包括筒段法兰夹紧器31、刻线放大瞄准器32、同轴靶球座33、和双向位置调节器34，所述筒段法兰夹紧器31用于将火箭筒段基准刻线测量引导装置固定在火箭筒段法兰盘7上；所述刻线放大瞄准器32为刻有瞄准线21的放大镜片，装在一个L型构件的一端；所述同轴靶球座33用于放置标准靶球4，设置于所述L型构件的另一端或中间位置，所述瞄准线21沿L型构件的延长线与所述同轴靶球座33的球心处于同一轴线上；所述双向位置调节器34设置于位于所述L型构件与所述筒段法兰夹紧器31之间，包含了带动L型构件左右和前后两个方向移动的调节机构。
[0011]进一步的是，所述L型构件为两片垂直连接的金属板，或者为整体成型的L型金属板。
[0012]进一步的是，所述瞄准线21沿L型构件的延长线与所述同轴靶球座33的球心处于同一轴线上。
[0013]进一步的是，所述筒段法兰夹紧器31包括上底板和下底板，用于将火箭筒段法兰盘7置于上下底板之间，通过带有螺纹的两个旋紧螺栓11，将火箭筒段基准刻线测量引导装置固定在火箭筒段法兰盘7上。
[0014]进一步的是，所述调节机构前后调节用于刻线放大瞄准器32的聚焦，左右调节用于刻线放大瞄准器32的瞄准。
[0015]进一步的是，所述调节机构包括了移动导轨、微动鼓轮。
[0016]进一步的是，所述微动鼓轮包括左右移动鼓轮42和前后移动鼓轮41。
[0017]本技术的技术方案能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量。该火箭筒段基准刻线偏扭测量系统具有操作简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠的特点。
附图说明
[0018]图1为火箭筒段基准刻线示意图；
[0019]图2为火箭筒段的基准刻线测量引导装置的安装示意图；
[0020]图3为本技术的火箭筒段基准刻线偏扭测量过程的示意图；
[0021]图4为本技术的一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统的示意图；
[0022]图5为基准刻线测量引导装置的一例的外形图。
具体实施方式
[0023]本技术的具体实施方式结合附图说明如下：
[0024]为了清楚起见，对本技术中出现的术语进行解释。
[0025]火箭筒段：指火箭的某一舱段，包括了尾段、一级箱间段、二级箱间段、箱间段、后过渡段、一二级级间段。一级箱间段、二级箱间段、箱间段区别在于每种筒段的高度不同、直径不同。
[0026]基准刻线：指在火箭筒段加工时，刻在火箭筒段两侧端面处外筒体上的八根刻线。
[0027]图1为火箭筒段基准刻线示意图。图1中分别示出了火箭筒段6、基准刻
[0028]图2为火箭筒段的基准刻线测量引导装置的安装示意图。参见图2，基准刻线测量引导装置3安装于火箭筒段法兰盘7的基准刻线5处，基准刻线测量引导装置3的靶座上安装有标准靶球4。
[0029]基准刻线测量引导装置3将细长的、不宜获取的基准刻线5准确引导至便于测量的激光雷达的标准靶球4上，每条基准刻线5可以均配有一个基准刻线测量引导装置3，可实现同时测量。
[0030]测量获取的靶球点坐标通过SA软件进行空间点坐标换算，测得火箭筒段两端基准刻线的位置关系，从而实现对基准刻线偏扭的测量。
[0031]图3为本技术的火箭筒段基准刻线偏扭测量过程的示意图；参见图3，本技术的火箭筒段基准刻线偏扭测量过程涉及左侧激光雷达1、右侧激光雷达2、基准刻线测
量引导装置3、标准靶球4、火箭筒段6、以及模拟测量线8。
[0032]激光雷达可以采用激光相位式测量扫描，水平扫描角度360度，垂直扫描角度270度，扫描精度0.07mm/10m内。激光雷达为主要测量设备，分别置于火箭筒段的两端，相隔距离为5～6m，用于扫描火箭筒段的两端。
[0033]在一个实施方式当中，具体测量的过程如下：
[0034]将左侧激光雷达1、右侧激光雷达2置于被测量的火箭筒段6的左右两侧，并固定测量位置，这两个固定测量位置通过相互标定，确定相互之间的位置关系，左侧激光雷达1的坐标为p0(x0,y0,z0)，右侧激光雷达2的坐标为p1(x1,y1,z1)，以此建立统一的测量坐标系；
[0035]将被测量的长度为L
H
的火箭筒段6置于左侧激光雷达1、右侧激光雷达2之间的测量区域内(先放置激光雷达，再放筒段)，并在每条基准刻线5的地方，将基准刻线测量引导装置3装在火箭筒段法兰盘7上，并使基准刻线测量引导装置3对齐基准刻线5；
[0036]在每个基准刻线测量引导装置3上安装标准靶球4；
[0037]通过左侧激光雷达1可以测量获得火箭筒段6左侧的四个标准靶球4坐标，分别为p
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(x
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，其包括放置于火箭筒段(6)的左右两侧的左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)，装在火箭筒段法兰盘(7)的基准刻线测量引导装置(3)，安装于基准刻线测量引导装置(3)上的标准靶球(4)，所述基准刻线测量引导装置(3)对齐火箭筒段(6)的基准刻线(5)。2.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，每条基准刻线(5)均配有一个基准刻线测量引导装置(3)，在每条基准刻线(5)的地方，将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上，并在每个基准刻线测量引导装置(3)上安装标准靶球(4)。3.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，所述基准刻线测量引导装置(3)将细长的、不宜获取的基准刻线(5)准确引导至便于测量的激光雷达的标准靶球(4)上。4.如权利要求1所述的火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，所述基准刻线测量引导装置(3)包括筒段法兰夹紧器(31)、刻线放大瞄准器(32)、同轴靶球座(33)、和双向位置调节器(34)，所述筒段法兰夹紧器(31)用于将火箭筒段基准刻线测量引导装置固定在火箭筒段法兰盘(7)上；所述刻线放大瞄准器(32)为刻有瞄准线(21)的放大镜片，装在一个L型构件的一端；所述同轴靶球座(33)用于放置标准靶球(4)，设置于所述L型构...

【专利技术属性】
技术研发人员：余华昌，毛志勇，陈继刚，王祥，祝卿，沈惠峰，武博，
申请(专利权)人：上海精密计量测试研究所，
类型：新型
国别省市：