北京中盾安民分析技术有限公司专利技术

北京中盾安民分析技术有限公司共有45项专利

  • 本实用新型公开了一种适用于高千伏(300KeV~10MeV)X射线点扫描成像系统所使用的背散射探测器。本实用新型采用平截四棱锥体结构,由锥体底面、锥体顶面及其余四个锥面构成一密封壳体。所述锥体底面为X射线的入射窗,其外层为铝塑板(5),...
  • 本发明公开了一种适用于高千伏(300KeV~10MeV)X射线点扫描成像系统所使用的背散射探测器。本发明采用平截四棱锥体结构,由锥体底面、锥体顶面及其余四个锥面构成一密封壳体。所述锥体底面为X射线的入射窗,其外层为铝塑板(5),内层为氟...
  • 一种液体安全检测的双能量X射线螺旋CT系统,包括由X射线源、转台、探测器或夹层探测器、数据采集器组成的检测装置及由微处理器、控制器组成的控制部分,检测装置前端设置X射线源,X射线源为可切换高压X射线源或固定高压X射线源,检测装置中部设置...
  • 本实用新型公开了一种便携式双能量X射线检查装置,包括X射线源携带箱(1),投影暗箱携带箱(3)和控制器携带箱(4)。本实用新型首先控制X射线源携带箱(1)内的滤过板(24)置于能量“一”位置,此时可在计算机(6)获得被探测物体(2)的透...
  • 本发明公开了一种便携式双能量X射线检查装置,包括X射线源携带箱(1),投影暗箱携带箱(3)和控制器携带箱(4)。本发明首先控制X射线源携带箱(1)内的滤过板(24)置于能量“一”位置,此时可在计算机(6)获得被探测物体(2)的透视图像,...