用于校正IQ失衡的设备和方法技术

本主题公开了驻留在RF芯片内的设备，其包括：检测单元，用于检测在IQ信号中的IQ失配；模拟校准模块，其包括用于校准在相位分量中的IQ失配的第一模拟校准机构，以及用于校准在幅度分量中的IQ失配的第二模拟校准机构；以及控制单元，用于确定IQ信号的校准序列。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：U·苏萨，A·科恩，
申请(专利权)人：DSP集团有限公司，
类型：
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