一种测试芯片开短路的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体测试领域，提供了一种测试芯片开短路的装置，其特征在于，多个移位寄存器，与高电压线路、保护电路相连接；电阻，与低电压线路、芯片相连接；芯片与保护电路相连接。多个移位寄存器之间既可以采用并联的连接方式，也可以采用串联的连接方式。本实用新型专利技术通过扩展测试芯片开短路装置数字通道的数量，有效的解决了数字通道不够、对机台的限制问题，并且具有降低测试成本、提高测试效率、精度高、操作简单的特点。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
—种测试芯片开短路的装置
本技术半导体测试领域，特别涉及一种测试芯片开短路的装置。
技术介绍
随着电子通讯技术飞速发展，以及芯片更新速度加快，目前很多信令控制协议产品都把同步动态随机存储器的存贮芯片和主芯片叠加封装来节约封装成本和解决速度问题。由于主芯片和存贮芯片的网络并不是合并在一起的，那么就涉及到主芯片和存贮芯片之间直连线的问题。存贮芯片管脚比较多，如果全部从基板走线，然后通过球块把信号引出来，那么无论什么样封装形式的芯片，就需要增加管脚，从而增加成本。一旦管脚增多，封装的尺寸也会增大，进一步增加成本，扩大劣势。目前解决开短路测试的方法主要分为:每个引脚参数测量单元模块(PPMU)测试方法，Z函数步行(Function Walking Z)测试方法。PPMU测试方法是利用测试芯片开短路装置机台本身的性能，通过引脚参数测量单元(PMU)来量测。由于测试芯片开短路装置机台本身结构的限制，每个芯片引脚对应一个机台通道，需要机台配置相应的通道数，而对于芯片来说，也需要将全部的管脚都封装出来，致使机台和芯片的成本大大提高functionWalking Z测试方法有效的解决了测试机台的限制，为了节约成本，有的机台配置PMU单元，而不是PPMU单元，故采取64或者128通道串行测试，这样增加了测试时间，进而降低了测试效率。因此，半导体测试领域急需一种能够扩展测试芯片开短路数字通道、降低测试成本、提高测试效率、精度高、操作简单的测试芯片开短路的装置。
技术实现思路
本技术提供了一种测试芯片开短路的装置，技术方案如下:一种测试芯片开短路的装置，其特征在于，包括:多个移位寄存器，与高电压线路、保护电路相连接；电阻，与低电压线路、芯片相连接；该芯片与该保护电路相连接。如上的一种测试芯片开短路的装置，其中，多个移位寄存器之间采用并联的连接方式。如上的一种测试芯片开短路的装置，其中，多个移位寄存器之间采用串联的连接方式。本技术的有益效果是:1.一个移位寄存器可将一个输入管脚扩展成8个或16个输出管脚。2.通过移位寄存器扩展可测管脚数量，减少工作次数，从而降低测试成本。3.无需采用64或者128通道串行测试，节约测试时间，提高测试效率。4.精度高、操作简单，具有更加广泛的适用性。【附图说明】下面结合附图和【具体实施方式】来详细说明本技术:图1是本技术一种测试芯片开短路的装置的结构示意图。【具体实施方式】为了使本技术技术实现的措施、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本技术。图1是本技术一种测试芯片开短路的装置的结构示意图。本技术的一种测试芯片开短路装置包括:移位寄存器102、103、104，分别与高电压线路101、保护电路105相连接；电阻106，与低电压线路107、芯片108相连接；芯片108，与保护电路105相连接。移位寄存器102、103、104之间既可以采用并联的连接方式，也可以采用串联的连接方式。本实施例中含有3个移位寄存器，检测过程中，根据芯片108的需要，可以使用I个或2个以上的移位寄存器。本技术工作时，首先，低电压线路107通过电阻106给芯片108 —个内置输入为“0”的电信号；然后，高压线路101通过I个输入管脚提供给移位寄存器102高压电信号，高压电信号通过保护电路105，由8个或16个输出管脚将高压电信号传给芯片108，对芯片108进行检测，若输出电信号都为“1”，再将高压线路101通过输入管脚依次提供给移位寄存器103、104高压电信号，高压电信号通过保护电路105，由输出管脚将高压电信号传给芯片108，对芯片108进行检测，若输出电信号都为“1”，则为通路；若输出电信号中有一个为“0”则为开路或短路；同时如果芯片108检测为短路状态，会反方向给保护电路105 —个极高电压电信号，通过保护电路105的单一方向传输原则，不会导致移位寄存器102、103、104的损坏。由此可见，本技术用一个移位寄存器可将一个输入管脚扩展成8个或16个输出管脚，减少了测试开短路的工作次数，从而降低测试成本。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试芯片开短路的装置，其特征在于，包括：?多个移位寄存器，与高电压线路、保护电路相连接；?电阻，与低电压线路、芯片相连接；?该芯片与该保护电路相连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试芯片开短路的装置，其特征在于，包括: 多个移位寄存器，与高电压线路、保护电路相连接； 电阻，与低电压线路、芯片相连接； 该芯片与该保护电路相连接。2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾培东，
申请(专利权)人：上海捷策创电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：