本发明专利技术公开了一种探头校准装置，该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，第一连接板一端与定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接。通过简单的旋转移动即可调整探头位置，从而提高测试精度，工作效率。
【技术实现步骤摘要】
探头校准装置
本专利技术涉及一种探头校准支架，特别涉及一种利用三旋转轴进行多测试面多测试位置点的探头校准支架。
技术介绍
随着科学技术的发展，大量电子设备应用在军用装备、民用设施方面，电磁脉冲能量一旦侵入，可使设备中的电子元器件失效或永久损坏，造成大范围的指挥、控制、通信系统瘫痪。电磁脉冲是短暂瞬变的强电磁辐射现象，电磁脉冲有自然产生的也有人为制造的，最常见的自然产生的电磁脉冲是雷电电磁脉冲和静电放电电磁脉冲。人造的电磁脉冲又分为核爆炸电测脉冲和普通电磁脉冲。核爆炸产生的电磁脉冲峰值场强可达50?100kV/m，美、俄等世界军事强国都在进行高功率微波武器的开发，电磁脉冲弹就是一种新概念的电磁武器，虽然电磁脉冲持续的时间非常短暂，但瞬间释放的能量巨大。无论哪种激发方式产生的电磁脉冲耦合进入电子系统后都会对电子元器件、线路乃至整个系统产生影响，严重时可使系统遭到破坏瘫痪，电力网断路，金属管线及地下电缆通信网等都受到影响，从而陷入无电源、无通信、无计算机的三无世界，其破坏力号称“第二原子弹”。如何提高战时军用武器、设备和民用设备的抗电磁脉冲性能，保证设备在受到电磁脉冲辐射后能继续正常工作成为研究的重点。美国和俄罗斯对电磁脉冲有广泛、深入的研究，并且十分重视武器装备电子环境效应和防护加固技术，并竭力研究和发展电磁脉冲武器。同时，他们已经建有多种大型电磁脉冲测试系统除将其作为科学研究的基础设施外，主要用于测试电磁脉冲武器的效力和各种电子系统的防护能力。为了进行电气电子产品、武器装备等抗电磁脉冲能力的检验、考核和验收，美国率先在美军标MIL-STD-461F中提出了辐射敏感度试验方法，我国参照此标准形成了国军标GJB151A/GJB152A，其中的RS105测试项，详细规定了电磁脉冲测试的方法和等级。美军标461F中RS105试验项目对瞬变电磁场场均匀性要求的测试位置点是，传输线距离地面I米的正方形均匀区域四个顶点和中心位置点，其中中心位置点为参考点，测试时参考探头位置保持不动。当前的实验室测试装置在空间不同平面内进行多位置点测试时，大部分都是很简单的测试杆，通过不断的人工移动测试架的位置和测试架上探头的位置来进行测试，频繁的移动测试架会引入移动误差，同时工作效率也很低。在空间平面区域和空间立体区域测试时，以往的测试校准架，还需要进行一定的移动才可以完成全部位置点的测试，经过移动的校准架还需要重新进行基准定位，在实际操作中还是存在一定的调节误差，同时也增加了工作量，在测试精度和工作效率方面还是有待提高的。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的缺陷，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种瞬变电磁场三旋转轴探头校准支架，其不仅可以提高测试时确定位置点的效率，而且还能保证定位的准确度及可靠程度。为解决上述技术问题，本专利技术的瞬变电磁场三旋转轴探头校准支架包括，包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；所述第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；所述第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；所述定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，所述第一连接板一端与所述定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；所述第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，所述第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接；所述第一测量组件包括第一测量横杆和设置在其上并依次连接的第一场强探头、第一巴伦和第一光电转换模块，所述第二测量组件包括第二测量横杆和设置在其上并依次连接的第二场强探头、第二巴伦和第二光电转换模块。所述第二支撑底盘上还设有水平的地探头定位支架，所述地探头定位支架的一端与第二支撑底盘连接，另一端头位于第二场强探头竖向中心轴线上。所述定位基准盘上设有第一定位孔，所述第一连接板上设有与所述第一定位孔匹配对应的第一定位销；所述第一支撑底盘上设有第二定位孔，所述第二连接板上设有与所述第二定位孔匹配对应的第二定位销；第二支撑底盘上设有第三定位孔，所述第二连接板上设有与所述第三定位孔匹配对应的第三定位销；所述定位基准盘的中心设有基准孔。所述第一场强探头的竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之间的距离为45.2cm，所述第二场强探头的竖向中心轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为45.2cm，所述定位基准盘的竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之间的距离为45.2cm,所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离范围为60?90cm。所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为60cm。所述第一支撑柱轴线与第二支撑柱轴线之间的距离为90cm。所述第一定位孔包括第一孔、第二孔和第三孔，所述第一孔与第二孔之间的夹角为45度，第二孔与第三孔之间的夹角为45度；所述第二定位孔包括第四孔和第五孔，所述第四孔与第五孔之间的夹角范围为178?176度；所述第三定位孔包括第六孔、第七孔、第八孔和第九孔，所述第六孔与第七孔之间的夹角范围为26?40度，第七孔与第八孔之间的夹角范围为156?144度，第八孔与第九孔之间的夹角范围为26?40度。所述第四孔与第五孔之间的夹角为178度，所述第六孔与第七孔之间的夹角为26度，第七孔与第八孔之间的夹角为156度，第八孔与第九孔之间的夹角为26度。所述第四孔与第五孔之间的夹角为176度，所述第六孔与第七孔之间的夹角为40度，第七孔与第八孔之间的夹角为144度，第八孔与第九孔之间的夹角为40度。所述第一支撑柱为可调节高度的结构，所述第二支撑柱为可调节高度的结构。所述基准定位盘的底面上设有吸盘。所述第一支撑底盘和第二支撑底盘的底面上围绕圆心均匀设置3个万向球。采用上述结构后，本专利技术探头校准装置在瞬变电磁场场均匀性测试时，通过简单的旋转即可完成瞬变电磁场空间区域场均匀性试验的测试。减少了多次移动调整探头位置姿态而引入的测量误差，提高测试精度，进而提高了工作效率；并且实现了一个校准装置可以满足不同瞬变电磁场场均匀性标准的测试要求，提高了校准支架的适用性。本设计专利技术中所有的旋转部分均有方位定位装置，提高了定位的准确度和可靠程度。本专利技术成本低廉，结构简单。所有的旋转通过底部的万向球进行旋转，实现了各部分自转和公转的稳定运行。减少移动操作步骤，减少误差，提高测试精度和工作效率。【附图说明】下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的说明。图1为本专利技术的结构示意图图2为本专利技术中的第一校准支架的结构示意图。图3为本专利技术中的第一校准支架的俯视图。图4为本专利技术中的第二校准支架的结构示意图。图5为本专利技术中的第二校准支架的俯视图。图6为本专利技术中的定位基准盘的俯视图。图7为RS105测试系统的主视图。图8为RS105测试系统的俯视图。图9为本专利技术进行面测量时的立体图。图10为本专利技术进行面测量时的俯视图。图11为本专利技术进行体测量时的立体图。图12为本专利技术进行体测量时的俯视图。图13为本专利技术进行体测量时的立体图。图14为本专利技术进行体测量时的俯视图。【具体实施方式】参照图1至图14所示，一种探头校准装置，如图1所示，该校准装置包括第一校准支架1、第二校准支架2和定位基准盘3 ;定位基准盘3通过第一连接板4本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种探头校准装置，其特征在于：该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；所述第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；所述第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；所述定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，所述第一连接板一端与所述定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；所述第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，所述第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接；所述第一测量组件包括第一测量横杆和设置在其上并依次连接的第一场强探头、第一巴伦和第一光电转换模块，所述第二测量组件包括第二测量横杆和设置在其上并依次连接的第二场强探头、第二巴伦和第二光电转换模块。
【技术特征摘要】
1. 一种探头校准装置，其特征在于:该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架； 所述第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件； 所述第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件； 所述定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，所述第一连接板一端与所述定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接； 所述第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，所述第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接； 所述第一测量组件包括第一测量横杆和设置在其上并依次连接的第一场强探头、第一巴伦和第一光电转换模块，所述第二测量组件包括第二测量横杆和设置在其上并依次连接的第二场强探头、第二巴伦和第二光电转换模块。2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于:所述第二支撑底盘上还设有水平的地探头定位支架，所述地探头定位支架的一端与第二支撑底盘连接，另一端头位于第二场强探头竖向中心轴线上。3.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于:所述定位基准盘上设有第一定位孔，所述第一连接板上设有与所述第一定位孔匹配对应的第一定位销；所述第一支撑底盘上设有第二定位孔，所述第二连接板上设有与所述第二定位孔匹配对应的第二定位销；第二支撑底盘上设有第三定位孔，所述第二连接板上设有与所述第三定位孔匹配对应的第三定位销；所述定位基准盘的中心设有基准孔。4.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于:所述第一场强探头的竖向中心轴线与第一支撑柱轴线之...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄建领，康宁，姚利军，沈涛，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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